X-ray Photoelectron Spectroscopy: An introduction to Principles and Practices

ویرایش: 1 
نویسندگان: Paul van der Heide  
سری:  
ISBN (شابک) : 1118062531, 9781118062531 
ناشر: Wiley 
سال نشر: 2011 
تعداد صفحات: 0 
زبان: English 
فرمت فایل : PDF (درصورت درخواست کاربر به PDF، EPUB یا AZW3 تبدیل می شود) 
حجم فایل: 3 مگابایت 

قیمت کتاب (تومان) : 32,000

این کتاب خوانندگان علاقه مند به طیف سنجی فوتوالکترون پرتو ایکس (XPS) را با مفاهیم کاربردی در این زمینه آشنا می کند. کتاب ابتدا خواننده را با زبان و مفاهیم مورد استفاده در این زمینه آشنا می کند و سپس نحوه کاربرد این مفاهیم را نشان می دهد. از جمله نحوه تولید طیف‌ها، عواملی که می‌توانند طیف‌ها را تحت تأثیر قرار دهند (همه اثرات حالت اولیه و نهایی مورد بحث قرار می‌گیرند)، نحوه استخراج گونه‌زایی، حجم تجزیه و تحلیل و نحوه کنترل آن (شامل پروفایل عمق)، و کمی‌سازی همراه با تفریق پس‌زمینه و منحنی روش شناسی برازش.

 

این به صورت مختصر و در عین حال جامع ارائه شده است و هر بخش به گونه ای آماده شده است که بتوان آنها را مستقل از یکدیگر خواند و همه معادلات با استفاده از واحدهای رایج ارائه شده است. تاکید بیشتری بر درک/تفسیر طیفی شده است. به منظور کامل بودن، شرحی از ابزار دقیق مورد استفاده نیز ارائه شده است. در نهایت، برخی از تکنیک‌های تکمیلی تحلیل سطحی و مفاهیم مرتبط برای مقاصد مقایسه‌ای در بخش‌های پیوست مستقل بررسی می‌شوند.

This book introduces readers interested in the field of X-ray Photoelectron Spectroscopy (XPS) to the practical concepts in this field. The book first introduces the reader to the language and concepts used in this field and then demonstrates how these concepts are applied. Including how the spectra are produced, factors that can influence the spectra (all initial and final state effects are discussed), how to derive speciation, volume analysed and how one controls this (includes depth profiling), and quantification along with background substraction and curve fitting methodologies.

 

This is presented in a concise yet comprehensive manner and each section is prepared such that they can be read independently of each other, and all equations are presented using the most commonly used units. Greater emphasis has been placed on spectral understanding/interpretation. For completeness sake, a description of commonly used instrumentation is also presented. Finally, some complementary surface analytical techniques and associated concepts are reviewed for comparative purposes in stand-alone appendix sections.