دسترسی نامحدود
برای کاربرانی که ثبت نام کرده اند
دانلود کتاب X-Ray Line Profile Analysis in Materials Science
دانلود کتاب تجزیه و تحلیل پروفایل خط اشعه ایکس در علم مواد
مشخصات کتاب
X-Ray Line Profile Analysis in Materials Science
ویرایش: 1
نویسندگان: Jenő Gubicza
سری: Research Essentials
ISBN (شابک) : 1466658525, 9781466658523
ناشر: IGI Global
سال نشر: 2014
تعداد صفحات: 360
زبان: English
فرمت فایل : PDF (درصورت درخواست کاربر به PDF، EPUB یا AZW3 تبدیل می شود)
حجم فایل: 19 مگابایت
قیمت کتاب (تومان) : 47,000
در صورت تبدیل فایل کتاب X-Ray Line Profile Analysis in Materials Science به فرمت های PDF، EPUB، AZW3، MOBI و یا DJVU می توانید به پشتیبان اطلاع دهید تا فایل مورد نظر را تبدیل نمایند.
توجه داشته باشید کتاب تجزیه و تحلیل پروفایل خط اشعه ایکس در علم مواد نسخه زبان اصلی می باشد و کتاب ترجمه شده به فارسی نمی باشد. وبسایت اینترنشنال لایبرری ارائه دهنده کتاب های زبان اصلی می باشد و هیچ گونه کتاب ترجمه شده یا نوشته شده به فارسی را ارائه نمی دهد.
توضیحاتی در مورد کتاب تجزیه و تحلیل پروفایل خط اشعه ایکس در علم مواد
آنالیز پروفیل خط اشعه ایکس یک روش موثر و غیر مخرب برای شناسایی ریزساختار در مواد کریستالی است. حمایت از تحقیقات در زمینه تجزیه و تحلیل پروفایل خط اشعه ایکس برای ارتقای پیشرفت های بیشتر در این زمینه ضروری است. هدف تجزیه و تحلیل پروفایل خط اشعه ایکس در علم موادترکیب دانش موجود در مورد تئوری، روش شناسی و کاربردهای آنالیز پروفایل خط اشعه ایکس در تنظیمات دنیای واقعی است. این نشریه هم پیشینه نظری و هم اجرای عملی تجزیه و تحلیل پروفایل خط اشعه ایکس را ارائه می‌کند و به عنوان منبع مرجع برای مهندسین در رشته‌های مختلف و همچنین محققان و دانشجویان سطح بالا عمل می‌کند.
توضیحاتی درمورد کتاب به خارجی
X-ray line profile analysis is an effective and non-destructive method for the characterization of the microstructure in crystalline materials. Supporting research in the area of x-ray line profile analysis is necessary in promoting further developments in this field. X-Ray Line Profile Analysis in Materials Science aims to synthesize the existing knowledge of the theory, methodology, and applications of x-ray line profile analysis in real-world settings. This publication presents both the theoretical background and practical implementation of x-ray line profile analysis and serves as a reference source for engineers in various disciplines as well as scholars and upper-level students.
