دسترسی نامحدود
برای کاربرانی که ثبت نام کرده اند
برای ارتباط با ما می توانید از طریق شماره موبایل زیر از طریق تماس و پیامک با ما در ارتباط باشید
در صورت عدم پاسخ گویی از طریق پیامک با پشتیبان در ارتباط باشید
برای کاربرانی که ثبت نام کرده اند
درصورت عدم همخوانی توضیحات با کتاب
از ساعت 7 صبح تا 10 شب
دسته بندی: فیزیک ویرایش: نویسندگان: Lee. Myeongkyu سری: ISBN (شابک) : 9781771882996, 1771882999 ناشر: Apple Academic Press سال نشر: 2016 تعداد صفحات: 297 زبان: English فرمت فایل : PDF (درصورت درخواست کاربر به PDF، EPUB یا AZW3 تبدیل می شود) حجم فایل: 21 مگابایت
کلمات کلیدی مربوط به کتاب پراش اشعه ایکس برای تحقیقات مواد: از اصول تا کاربردها: فیزیک، کارگاه های آموزشی، فیزیک تجربی و روش های تحقیق فیزیکی
در صورت تبدیل فایل کتاب X-ray diffraction for materials research : from fundamentals to applications به فرمت های PDF، EPUB، AZW3، MOBI و یا DJVU می توانید به پشتیبان اطلاع دهید تا فایل مورد نظر را تبدیل نمایند.
توجه داشته باشید کتاب پراش اشعه ایکس برای تحقیقات مواد: از اصول تا کاربردها نسخه زبان اصلی می باشد و کتاب ترجمه شده به فارسی نمی باشد. وبسایت اینترنشنال لایبرری ارائه دهنده کتاب های زبان اصلی می باشد و هیچ گونه کتاب ترجمه شده یا نوشته شده به فارسی را ارائه نمی دهد.
پراش اشعه ایکس یک تکنیک تجزیه و تحلیل مفید و قدرتمند برای مشخص
کردن مواد کریستالی است که معمولاً در MSE، فیزیک و شیمی به کار
میروند. این کتاب جدید آموزنده اصول پراش پرتو ایکس و کاربردهای
آن در مشخصهیابی مواد را تشریح میکند. شامل سه مورد است. بخش
اول به کریستالوگرافی ابتدایی و اپتیک می پردازد، که برای درک
تئوری پراش پرتو
ایکس که در بخش دوم کتاب مورد بحث قرار گرفت، ضروری است. توضیح می
دهد که چگونه می توان از پراش اشعه ایکس برای مشخص کردن اشکال
مختلف مواد مانند لایه های نازک، تک بلورها و پودرها استفاده کرد.
این کتاب تعدادی مثال برای کمک به خوانندگان برای درک بهتر موضوع
ارائه می دهد. برنامه ها همچنین دانش پس زمینه پراش را فراهم می
کند تا افراد غیرمتخصص را قادر می سازد تا با موضوعات آشنا شوند؛
کاربردهای عملی و همچنین اصل اساسی پراش اشعه ایکس را پوشش می
دهد. مثال های مناسب همراه با پاسخ ارائه می کند تا به خوانندگان
کمک کند مطالب را راحت تر درک کنند. شامل مشخصات فیلم نازک توسط
پراش اشعه ایکس با تکنیک های تجربی مربوطه. تعداد زیادی از گرافیک
های استادانه ترسیم شده را برای کمک به نشان دادن محتوا ارائه می
دهد. این کتاب به خوانندگان (دانشجویان و محققان در علم مواد،
فیزیک و شیمی) کمک می کند تا کریستالوگرافی و ساختارهای بلوری،
تداخل و پراش، تجزیه و تحلیل ساختاری مواد حجیم، خصوصیات لایه های
نازک و اندازه گیری غیرمخرب تنش داخلی و انتقال فاز را درک کنند.
پراش یک پدیده نوری است و بنابراین وقتی با رویکرد نوری توضیح
داده شود، که در کتاب های دیگر از آن غفلت شده است، می توان آن را
بهتر درک کرد. این کتاب به پر کردن این شکاف کمک می کند و
اطلاعاتی را برای انتقال مفهوم پراش اشعه ایکس و نحوه اعمال آن در
تجزیه و تحلیل مواد ارائه می دهد. این کتاب یک کتاب مرجع ارزشمند
برای محققان در این زمینه خواهد بود و به عنوان یک کتاب مقدماتی
پراش اشعه ایکس برای دانشجویان رشته های علم مواد، فیزیک و شیمی
به خوبی کار خواهد کرد.\"-- ادامه
مطلب...
چکیده: \"پراش اشعه ایکس یک تکنیک تجزیه و تحلیل مفید و قدرتمند
برای مشخص کردن مواد کریستالی است که معمولا در MSE، فیزیک و
شیمی. این کتاب جدید آموزنده، اصول پراش اشعه ایکس و کاربردهای آن
در تعیین مشخصات مواد را تشریح می کند. این متشکل از سه قسمت است.
اولی به کریستالوگرافی ابتدایی و اپتیک می پردازد که برای درک
تئوری پراش پرتو ایکس مورد بحث در بخش دوم کتاب ضروری است. بخش 3
توضیح می دهد که چگونه پراش اشعه ایکس می تواند برای مشخص کردن
اشکال مختلف مواد مانند لایه های نازک، تک بلورها و پودرها به کار
رود. در این کتاب چندین مثال برای درک بهتر موضوع به خوانندگان
ارائه شده است. پراش اشعه ایکس: از مبانی تا کاربردها همچنین دانش
پس زمینه پراش را فراهم می کند تا افراد غیرمتخصص را قادر می سازد
تا با موضوعات آشنا شوند. کاربردهای عملی و همچنین اصل اساسی پراش
اشعه ایکس را پوشش می دهد. مثال های مناسب همراه با پاسخ ارائه می
کند تا به خوانندگان کمک کند مطالب را راحت تر درک کنند. شامل
مشخصات فیلم نازک توسط پراش اشعه ایکس با تکنیک های تجربی مربوطه.
تعداد زیادی از گرافیک های استادانه ترسیم شده را برای کمک به
نشان دادن محتوا ارائه می دهد. این کتاب به خوانندگان (دانشجویان
و محققان در علم مواد، فیزیک و شیمی) کمک می کند تا کریستالوگرافی
و ساختارهای بلوری، تداخل و پراش، تجزیه و تحلیل ساختاری مواد
حجیم، خصوصیات لایه های نازک، و اندازه گیری غیرمخرب تنش داخلی و
انتقال فاز را درک کنند. پراش یک پدیده نوری است و بنابراین وقتی
با رویکرد نوری توضیح داده شود، که در کتاب های دیگر از آن غفلت
شده است، می توان آن را بهتر درک کرد. این کتاب به پر کردن این
شکاف کمک میکند و اطلاعاتی را برای انتقال مفهوم پراش پرتو ایکس
و نحوه اعمال آن در تجزیه و تحلیل مواد ارائه میکند. این کتاب یک
کتاب مرجع ارزشمند برای محققان این حوزه خواهد بود و به عنوان یک
کتاب مقدماتی پراش اشعه ایکس برای دانشجویان رشته های علوم مواد،
فیزیک و شیمی به خوبی کار خواهد کرد.
"X-ray diffraction is a useful and powerful analysis technique
for characterizing crystalline materials commonly employed in
MSE, physics, and chemistry. This informative new book
describes the principles of X-ray diffraction and its
applications to materials characterization. It consists of
three parts. The first deals with elementary crystallography
and optics, which is essential for understanding the theory of
X-ray diffraction
discussed in the second section of the book. Part 3 describes
how the X-ray diffraction can be applied for characterizing
such various forms of materials as thin films, single crystals,
and powders. The book presents a number of examples to help
readers better comprehend the subject. X-Ray Diffraction: From
Fundamentals to Applications also provides background knowledge
of diffraction to enable nonspecialists to become familiar with
the topics; covers the practical applications as well as the
underlying principle of X-ray diffraction; presents appropriate
examples with answers to help readers understand the contents
more easily; includes thin film characterization by X-ray
diffraction with relevant experimental techniques; presents a
huge number of elaborately drawn graphics to help illustrate
the content. The book will help readers (students and
researchers in materials science, physics, and chemistry)
understand crystallography and crystal structures, interference
and diffraction, structural analysis of bulk materials,
characterization of thin films, and nondestructive measurement
of internal stress and phase transition. Diffraction is an
optical phenomenon and thus can be better understood when it is
explained with an optical approach, which has been neglected in
other books. This book helps to fill that gap, providing
information to convey the concept of X-ray diffraction and how
it can be applied to the materials analysis. This book will be
a valuable reference book for researchers in the field and will
work well as a good introductory book of X-ray diffraction for
students in materials science, physics, and
chemistry."-- Read
more...
Abstract: "X-ray diffraction is a useful and powerful analysis
technique for characterizing crystalline materials commonly
employed in MSE, physics, and chemistry. This informative new
book describes the principles of X-ray diffraction and its
applications to materials characterization. It consists of
three parts. The first deals with elementary crystallography
and optics, which is essential for understanding the theory of
X-ray diffraction discussed in the second section of the book.
Part 3 describes how the X-ray diffraction can be applied for
characterizing such various forms of materials as thin films,
single crystals, and powders. The book presents a number of
examples to help readers better comprehend the subject. X-Ray
Diffraction: From Fundamentals to Applications also provides
background knowledge of diffraction to enable nonspecialists to
become familiar with the topics; covers the practical
applications as well as the underlying principle of X-ray
diffraction; presents appropriate examples with answers to help
readers understand the contents more easily; includes thin film
characterization by X-ray diffraction with relevant
experimental techniques; presents a huge number of elaborately
drawn graphics to help illustrate the content. The book will
help readers (students and researchers in materials science,
physics, and chemistry) understand crystallography and crystal
structures, interference and diffraction, structural analysis
of bulk materials, characterization of thin films, and
nondestructive measurement of internal stress and phase
transition. Diffraction is an optical phenomenon and thus can
be better understood when it is explained with an optical
approach, which has been neglected in other books. This book
helps to fill that gap, providing information to convey the
concept of X-ray diffraction and how it can be applied to the
materials analysis. This book will be a valuable reference book
for researchers in the field and will work well as a good
introductory book of X-ray diffraction for students in
materials science, physics, and chemistry."
Content: X-Rays and Crystal Geometry. Electromagnetic Waves and X-Rays. Geometry of Crystals. Interference and Diffraction. Theory of X-Ray Diffraction. Directions of X-Ray Diffraction. Intensities of X-Ray Diffraction. Applications of X-Ray Diffraction. Characterization of Thin Films by X-Ray Diffraction. Laue Method And Determination of Single Crystal Orientation. Powder Diffraction. Index.