دسترسی نامحدود
برای کاربرانی که ثبت نام کرده اند
برای ارتباط با ما می توانید از طریق شماره موبایل زیر از طریق تماس و پیامک با ما در ارتباط باشید
در صورت عدم پاسخ گویی از طریق پیامک با پشتیبان در ارتباط باشید
برای کاربرانی که ثبت نام کرده اند
درصورت عدم همخوانی توضیحات با کتاب
از ساعت 7 صبح تا 10 شب
ویرایش: 1 نویسندگان: Yoshio Waseda, Eiichiro Matsubara, Kozo Shinoda (auth.) سری: ISBN (شابک) : 3642166342, 9783642166341 ناشر: Springer-Verlag Berlin Heidelberg سال نشر: 2011 تعداد صفحات: 322 زبان: English فرمت فایل : PDF (درصورت درخواست کاربر به PDF، EPUB یا AZW3 تبدیل می شود) حجم فایل: 11 مگابایت
کلمات کلیدی مربوط به کتاب کریستالوگرافی پراش اشعه ایکس: مقدمه، مثال ها و مسائل حل شده: خصوصیات و ارزیابی مواد، کریستالوگرافی، نانوتکنولوژی و مهندسی میکرو، فیزیک حالت جامد، طیف سنجی و میکروسکوپ
در صورت تبدیل فایل کتاب X-Ray Diffraction Crystallography: Introduction, Examples and Solved Problems به فرمت های PDF، EPUB، AZW3، MOBI و یا DJVU می توانید به پشتیبان اطلاع دهید تا فایل مورد نظر را تبدیل نمایند.
توجه داشته باشید کتاب کریستالوگرافی پراش اشعه ایکس: مقدمه، مثال ها و مسائل حل شده نسخه زبان اصلی می باشد و کتاب ترجمه شده به فارسی نمی باشد. وبسایت اینترنشنال لایبرری ارائه دهنده کتاب های زبان اصلی می باشد و هیچ گونه کتاب ترجمه شده یا نوشته شده به فارسی را ارائه نمی دهد.
کریستالوگرافی پراش اشعه ایکس برای نمونه های پودری روشی کاملاً ثابت و پرکاربرد است. برای مشخص کردن مواد برای آشکار کردن ساختار مقیاس اتمی مواد مختلف در حالتهای مختلف استفاده میشود. این کتاب به خواص بنیادی اشعه ایکس، تجزیه و تحلیل هندسی کریستال ها، پراکندگی پرتو ایکس و پراش در نمونه های پلی کریستالی و کاربرد آن در تعیین ساختار بلوری می پردازد. شبکه متقابل و شدت پراش یکپارچه از کریستال ها و تجزیه و تحلیل تقارن کریستال ها توضیح داده شده است.
برای اینکه روش کریستالوگرافی پراش اشعه ایکس را به خوبی یاد بگیرید و بتوانید با موضوع مورد نظر کنار بیایید، تعدادی تمرین انجام دهید. برای محاسبه مقادیر خاص برای مثالهای معمولی در کتاب ارائه شده است. این امر به ویژه برای مبتدیان در کریستالوگرافی پراش اشعه ایکس مهم است. یکی از اهداف این کتاب ارائه راهنمایی برای حل مشکلات 90 ماده معمولی است. برای راحتی بیشتر، 100 تمرین مکمل نیز همراه با راه حل ارائه شده است. برخی از نکات ضروری با معادلات اساسی در هر فصل، همراه با برخی از ثابت های فیزیکی مرتبط و عوامل پراکندگی اتمی عناصر خلاصه شده است.
X-ray diffraction crystallography for powder samples is a well-established and widely used method. It is applied to materials characterization to reveal the atomic scale structure of various substances in a variety of states. The book deals with fundamental properties of X-rays, geometry analysis of crystals, X-ray scattering and diffraction in polycrystalline samples and its application to the determination of the crystal structure. The reciprocal lattice and integrated diffraction intensity from crystals and symmetry analysis of crystals are explained.
To learn the method of X-ray diffraction crystallography well and to be able to cope with the given subject, a certain number of exercises is presented in the book to calculate specific values for typical examples. This is particularly important for beginners in X-ray diffraction crystallography. One aim of this book is to offer guidance to solving the problems of 90 typical substances. For further convenience, 100 supplementary exercises are also provided with solutions. Some essential points with basic equations are summarized in each chapter, together with some relevant physical constants and the atomic scattering factors of the elements.
Front Matter....Pages i-xi
Fundamental Properties of X-rays....Pages 1-20
Geometry of Crystals....Pages 21-66
Scattering and Diffraction....Pages 67-106
Diffraction from Polycrystalline Samples and Determination of Crystal Structure....Pages 107-167
Reciprocal Lattice and Integrated Intensities of Crystals....Pages 169-218
Symmetry Analysis for Crystals and the Use of the International Tables....Pages 219-252
Supplementary Problems (100 Exercises)....Pages 253-272
Solutions to Supplementary Problems....Pages 273-288
Appendix A....Pages 289-303
Back Matter....Pages 305-310