دسترسی نامحدود
برای کاربرانی که ثبت نام کرده اند
برای ارتباط با ما می توانید از طریق شماره موبایل زیر از طریق تماس و پیامک با ما در ارتباط باشید
در صورت عدم پاسخ گویی از طریق پیامک با پشتیبان در ارتباط باشید
برای کاربرانی که ثبت نام کرده اند
درصورت عدم همخوانی توضیحات با کتاب
از ساعت 7 صبح تا 10 شب
دسته بندی: فیزیک ویرایش: illustrated edition نویسندگان: René Guinebretière سری: ISBN (شابک) : 9781905209217, 1905209215 ناشر: Wiley-ISTE سال نشر: 2007 تعداد صفحات: 384 زبان: English فرمت فایل : PDF (درصورت درخواست کاربر به PDF، EPUB یا AZW3 تبدیل می شود) حجم فایل: 6 مگابایت
در صورت تبدیل فایل کتاب X-Ray Diffraction by Polycrystalline Materials به فرمت های PDF، EPUB، AZW3، MOBI و یا DJVU می توانید به پشتیبان اطلاع دهید تا فایل مورد نظر را تبدیل نمایند.
توجه داشته باشید کتاب پراش اشعه ایکس توسط مواد پلی کریستالی نسخه زبان اصلی می باشد و کتاب ترجمه شده به فارسی نمی باشد. وبسایت اینترنشنال لایبرری ارائه دهنده کتاب های زبان اصلی می باشد و هیچ گونه کتاب ترجمه شده یا نوشته شده به فارسی را ارائه نمی دهد.
این کتاب یک رویکرد فیزیکی به پدیده پراش و کاربردهای آن در علم مواد ارائه میکند. ابتدا پیشزمینهای تاریخی برای کشف پراش پرتو ایکس بیان میشود. در مرحله بعد، قسمت 1 توصیفی از پدیده فیزیکی پراش اشعه ایکس بر روی بلورهای کامل و ناقص ارائه می دهد. سپس بخش 2 تجزیه و تحلیل دقیقی از ابزارهای مورد استفاده برای توصیف مواد پودری یا لایه های نازک ارائه می دهد. شرح پردازش سیگنالهای اندازهگیریشده و نتایج آنها نیز پوشش داده شده است، همانطور که پیشرفتهای اخیر مربوط به تجزیه و تحلیل ریزساختاری کمی پودرها یا لایههای نازک همپایی بر اساس پراش اشعه ایکس است. در زمینه پراش اشعه ایکس و کاربردهای آن از این امر استفاده زیادی می شود.
This book presents a physical approach to the diffraction phenomenon and its applications in materials science.An historical background to the discovery of X-ray diffraction is first outlined. Next, Part 1 gives a description of the physical phenomenon of X-ray diffraction on perfect and imperfect crystals. Part 2 then provides a detailed analysis of the instruments used for the characterization of powdered materials or thin films. The description of the processing of measured signals and their results is also covered, as are recent developments relating to quantitative microstructural analysis of powders or epitaxial thin films on the basis of X-ray diffraction.Given the comprehensive coverage offered by this title, anyone involved in the field of X-ray diffraction and its applications will find this of great use.