دسترسی نامحدود
برای کاربرانی که ثبت نام کرده اند
برای ارتباط با ما می توانید از طریق شماره موبایل زیر از طریق تماس و پیامک با ما در ارتباط باشید
در صورت عدم پاسخ گویی از طریق پیامک با پشتیبان در ارتباط باشید
برای کاربرانی که ثبت نام کرده اند
درصورت عدم همخوانی توضیحات با کتاب
از ساعت 7 صبح تا 10 شب
ویرایش: 1 نویسندگان: Jaroslav Fiala (auth.), J. Hašek (eds.) سری: ISBN (شابک) : 9781461280729, 9781461307679 ناشر: Springer US سال نشر: 1989 تعداد صفحات: 387 زبان: English فرمت فایل : PDF (درصورت درخواست کاربر به PDF، EPUB یا AZW3 تبدیل می شود) حجم فایل: 9 مگابایت
کلمات کلیدی مربوط به کتاب تجزیه و تحلیل ساختار اشعه ایکس و نوترون در علم مواد: کریستالوگرافی
در صورت تبدیل فایل کتاب X-Ray and Neutron Structure Analysis in Materials Science به فرمت های PDF، EPUB، AZW3، MOBI و یا DJVU می توانید به پشتیبان اطلاع دهید تا فایل مورد نظر را تبدیل نمایند.
توجه داشته باشید کتاب تجزیه و تحلیل ساختار اشعه ایکس و نوترون در علم مواد نسخه زبان اصلی می باشد و کتاب ترجمه شده به فارسی نمی باشد. وبسایت اینترنشنال لایبرری ارائه دهنده کتاب های زبان اصلی می باشد و هیچ گونه کتاب ترجمه شده یا نوشته شده به فارسی را ارائه نمی دهد.
در طی چند دهه اخیر، کریستالوگرافی به یک حوزه علمی گسترده و از نظر اقتصادی مهم با کاربردهای جالب بسیاری در تحقیقات مواد، در شاخه های مختلف فیزیک، شیمی، زمین شناسی، فارماکولوژی، بیوشیمی، الکترونیک، در بسیاری از فرآیندهای تکنولوژیکی، ماشین آلات تبدیل شده است. ، صنایع سنگین و غیره. بیست جایزه نوبل که برای دستاوردهای مربوط به این رشته اعطا می شود، تنها بر تمایز آن تأکید دارد. کریستالو گرافی به یک اصطلاح رایج تبدیل شده است، اما - مانند نهنگ - به دلیل تنوع بسیار زیاد موضوعات درگیر که طیف وسیعی از تئوری های بسیار پیچیده گرفته تا توسعه فرآیندهای معمول فناوری یا آزمایش را در بر می گیرد، تشخیص آن بسیار آسان تر از توصیف است. مواد در حال تولید بدیهی است که فقط برخی از جنبههای موضوعات انتخاب شده را میتوان در یک مناسبت گنجاند. کنفرانس "روش های پیشرفته در تجزیه و تحلیل ساختار اشعه ایکس و نوترون مواد" که در کارلووی واری (چکسلواکی) در تاریخ 5 تا 9 اکتبر 1987 برگزار شد، در نظر گرفته شد تا مهمترین جنبه های کریستالوگرافی علم مواد را پوشش دهد. در این کنفرانس 250 نفر از 16 کشور (بلژیک، بلغارستان، چین، چکسلواکی، فنلاند، فرانسه، FRG، GDR، مجارستان، ایتالیا، هلند، لهستان، سوئد، ایالات متحده آمریکا، اتحاد جماهیر شوروی و یوگسلاوی) شرکت کردند.
During the last few decades, crystallography has become a wide and economically important field of science with many interesting applications in materials research, in different branches of physics, chemistry, geology, pharmacology, biochemistry, electronics, in many technological processes, machinery, heavy industry, etc. Twenty Nobel prizes awarded for achieve ments belonging to this· field only underline its distinction. Crystallo graphy has become a commonly used term, but - like a whale - it is much easier to recognize than to describe because of an extreme diversity of sub jects involved which range from highly sophisticated theories to the develop ment of routine technological processes or testing of materials in produc tion. It is apparent that only some aspects of selected topics could be included on a single occasion. The conference "ADVANCED METHODS IN X-RAY AND NEUTRON STRUCTURE ANALYSIS OF MATERIALS" held in Karlovy Vary (Czechoslovakia) on October 5-9, 1987, was intended to cover the most important crystallographic aspects of ma terials science. The conference was attended by 250 people from 16 countries (Belgium,Bulgaria, China, Czechoslovakia, Finland, France, FRG, GDR, Hungary, Italy, The Netherlands, Poland, Sweden, USA, USSR and Yugoslavia).
Front Matter....Pages i-xii
Front Matter....Pages 1-1
Identification of X-Ray Diffraction Patterns of Multicomponent Mixtures....Pages 3-13
Quantitative Reference Intensity Analysis: Methodology and Means for Verification of Results....Pages 15-21
Correction of Compositional Variability in the X-Ray Diffraction Phase Analysis....Pages 23-28
Dilution and Addition Methods in Quantitative X-Ray Diffraction Phase Analysis....Pages 29-41
Shape Memory Effect Analysis by X-Ray Diffraction....Pages 43-48
Formation of a Satellite Phase in the Neutron Irradiated Reactor Steel....Pages 49-57
X-Ray Phase Analysis of Cu and Pb Anodic Oxidation Products....Pages 59-65
Phase Analysis of Rusts By X-Ray Diffraction, IR-Spectroscopy and Thermal Analysis....Pages 67-71
Dynamical X-Ray Diffraction Study on the Phase Transformation in Rapidly Quenched Au 71 Sn 29 Alloy....Pages 73-76
Process Kinetics Studied by X-Ray Diffraction....Pages 77-80
X-Ray Diffraction Analysis of 12 CaO. 7 Al 2 O 3 Polymorphs....Pages 81-84
X-Ray Analysis of Mineral Substances of Blood Vessels....Pages 85-88
Optical Diffraction of Computer Simulated Patterns of Transitions in Two Dimensional Regular Lattice....Pages 89-91
Front Matter....Pages 93-93
Investigation of the Microscopic Mechanism of the High Strength of Amorphous Alloys....Pages 95-98
Partial Structure Factors for Amorphous Fe 75 B 25 Determined by Diffraction of Polarized Neutrons....Pages 99-103
Neutron-Diffraction Investigation of the Short-Range Atomic Order in Tellurite Glasses....Pages 105-108
Supermolecular Structure of the “Ladder-Type” Styrene-Multimethacrylate Copolymers....Pages 109-116
The Structure Evaluation of Polypropylene Fibres by Computational Resolution of WAXS....Pages 117-121
Front Matter....Pages 123-123
Problems in Diffraction Analysis of Real Polycrystals....Pages 125-138
Texture Investigation of Natural Rock-Salt by Neutron Diffraction....Pages 139-142
Front Matter....Pages 123-123
Texture and Structure of Anisotropic FeSi Materials after Hot Rolling....Pages 143-145
Real Structure of Gd 3 Co Single Crystals....Pages 147-148
High Temperature Elastic Diffuse Neutron Scattering Study of the Defect Structure in TiN 0.82 ....Pages 149-152
X-Ray Diffraction Studies of Interdiffusion in Solid Solutions of A III B V Semiconductors....Pages 153-157
Front Matter....Pages 159-159
Kinematic Theory of X-Ray and Neutron Scattering by Defects in Thin Films and Surface Layers....Pages 161-169
Methodical Aspects of X-Ray Diffraction Analysis of Surface Treated Materials....Pages 171-180
Structure Investigation of Hard Coatings by Total Pattern Analysis....Pages 181-190
The Determination of Lattice Parameters and Strains in Stressed Thin Films Using X-Ray Diffraction: Extensions....Pages 191-198
Use and Perspective of X-Ray Diffraction in Science and Technology of Ceramic Coatings....Pages 199-208
Application of X-Ray Diffraction Techniques to Study Highly Dispersed Supported Metals....Pages 209-214
Effective Depth of X-Ray Penetration and Its Orientation Dependence....Pages 215-221
Structure of Laser Modified Surface Layers of AlZn Alloys....Pages 223-236
Structure Characterization of Laser Treated WC-Co by Means of Position Sensitive Detectors (PSD)....Pages 237-239
Diffraction Studies of SnO x Thin Films Prepared by Vacuum Methods....Pages 241-248
X-Ray Diffractional Investigation of the Copper-Aluminium Interface Reaction....Pages 249-252
X-Ray Examination of (PbTe) 1-X (GeTe) X Crystals....Pages 253-257
Front Matter....Pages 259-259
Structural Studies of Garnet Films....Pages 261-272
Location of Impurity Atoms in the Volume and Surface Layers of Silicon Crystals, by X-Ray Standing Wave in the Laue Geometry....Pages 273-276
X-Ray Standing Waves in the Study of Crystals and Surface Layers....Pages 277-282
Development of Theoretical and Experimental Investigations of Thin Surface Structures by X-Ray Methods....Pages 283-290
Front Matter....Pages 291-291
New Trends in Determination of Crystal Structure....Pages 293-306
Easy and Uneasy Superspace Groups for Incommensurate Crystals....Pages 307-315
Structure Analysis of Modulated Molecular Crystals IV: Survey of our Recent Studies....Pages 317-329
Controlled Growth of Polytypes and their Importance for Science and Technology....Pages 331-339
Symmetry and Diffraction Patterns of Polytypes....Pages 341-351
Structural Characteristics of Polytypes Delivered by Texture Diffraction Patterns....Pages 353-360
The X-Ray Method for Determining Crystalline Multilayer Polytype Structures in Metal Alloys....Pages 361-362
The Analysis of Disorder Polytype Structures by Statistical Parameters....Pages 363-368
Front Matter....Pages 369-369
Bragg Reflection Analysis for Powdered Samples....Pages 371-374
Rietveld Refinement of Y 2 O 3 — Comparison of Two Profile Functions....Pages 375-378
Three-Dimensional Multiple X-Ray Diffraction....Pages 379-381
Reduction of the Electronics of a ID Position Sensitive Detector....Pages 383-387
A High Resolution Monochromator Module with X-Ray Optics for Multipurpose Measurement of A 3 B 5 Heterostructures....Pages 389-391
Back Matter....Pages 393-406