X-Ray and Neutron Dynamical Diffraction: Theory and Applications

این جلد مجموعه مقالات بیست و سومین دوره بین المللی کریستالوگرافی، با عنوان "پراش دینامیکی اشعه ایکس و نوترون، نظریه و کاربردها" است که در محیط جذاب Erice در سیسیل، ایتالیا برگزار شد. این موسسه به عنوان یک موسسه مطالعات پیشرفته ناتو با A. Authier (فرانسه) و S. Lagomarsino (ایتالیا) به عنوان مدیران مشترک، و L. Riva di Sanseverino و P. Spadon (ایتالیا) به عنوان برگزارکنندگان محلی، R. Colella (ایالات متحده آمریکا) و B. K. Tanner (بریتانیا) دو عضو دیگر کمیته سازماندهی هستند. حدود صد شرکت کننده از بیست و چهار کشور مختلف در آن شرکت کردند. دو نظریه اساسی ممکن است برای توصیف پراش تابش توسط ماده کریستالی استفاده شود. اولین مورد، به اصطلاح نظریه هندسی یا سینماتیکی، تقریبی است و برای بلورهای کوچک و بسیار ناقص قابل استفاده است. برای تعیین ساختارهای کریستالی استفاده می شود و پراش پودرها و مواد پلی کریستالی را توصیف می کند. نظریه دیگر، به اصطلاح نظریه دینامیکی، برای بلورهای کامل یا تقریبا کامل قابل استفاده است. به همین دلیل، پراش دینامیکی پرتوهای ایکس و نوترون‌ها، مبنای نظری بسیاری از کاربردها را تشکیل می‌دهد، مانند: تکنیک‌های مورد استفاده برای توصیف مواد با فناوری پیشرفته، نیمه‌رساناها، کریستال‌های پیزوالکتریک، الکترواپتیک، فروالکتریک، مغناطیسی، • دستگاه های نوری اشعه ایکس مورد استفاده در همه کاربردهای مودم تشعشع سنکروترون (EXAFS، پراش سنجی اشعه ایکس با وضوح بالا، پراکندگی رزونانس مغناطیسی و هسته ای، توپوگرافی و غیره)، و • تداخل سنجی اشعه ایکس و نوترون.

This volume collects the proceedings of the 23rd International Course of Crystallography, entitled "X-ray and Neutron Dynamical Diffraction, Theory and Applications," which took place in the fascinating setting of Erice in Sicily, Italy. It was run as a NATO Advanced Studies Institute with A. Authier (France) and S. Lagomarsino (Italy) as codirectors, and L. Riva di Sanseverino and P. Spadon (Italy) as local organizers, R. Colella (USA) and B. K. Tanner (UK) being the two other members of the organizing committee. It was attended by about one hundred participants from twenty four different countries. Two basic theories may be used to describe the diffraction of radiation by crystalline matter. The first one, the so-called geometrical, or kinematical theory, is approximate and is applicable to small, highly imperfect crystals. It is used for the determination of crystal structures and describes the diffraction of powders and polycrystalline materials. The other one, the so-called dynamical theory, is applicable to perfect or nearly perfect crystals. For that reason, dynamical diffraction of X-rays and neutrons constitutes the theoretical basis of a great variety of applications such as: • the techniques used for the characterization of nearly perfect high technology materials, semiconductors, piezoelectric, electrooptic, ferroelectric, magnetic crystals, • the X-ray optical devices used in all modem applications of Synchrotron Radiation (EXAFS, High Resolution X-ray Diffractometry, magnetic and nuclear resonant scattering, topography, etc. ), and • X-ray and neutron interferometry.