دسترسی نامحدود
برای کاربرانی که ثبت نام کرده اند
برای ارتباط با ما می توانید از طریق شماره موبایل زیر از طریق تماس و پیامک با ما در ارتباط باشید
در صورت عدم پاسخ گویی از طریق پیامک با پشتیبان در ارتباط باشید
برای کاربرانی که ثبت نام کرده اند
درصورت عدم همخوانی توضیحات با کتاب
از ساعت 7 صبح تا 10 شب
ویرایش:
نویسندگان: Kemao. Qian
سری: SPIE Press monograph PM239; SPIE Digital Library
ISBN (شابک) : 9780819496416, 0819496413
ناشر: SPIE Press
سال نشر: 2013
تعداد صفحات: 291
زبان: English
فرمت فایل : PDF (درصورت درخواست کاربر به PDF، EPUB یا AZW3 تبدیل می شود)
حجم فایل: 23 مگابایت
در صورت تبدیل فایل کتاب Windowed fringe pattern analysis به فرمت های PDF، EPUB، AZW3، MOBI و یا DJVU می توانید به پشتیبان اطلاع دهید تا فایل مورد نظر را تبدیل نمایند.
توجه داشته باشید کتاب تحلیل الگوی حاشیه پنجره دار نسخه زبان اصلی می باشد و کتاب ترجمه شده به فارسی نمی باشد. وبسایت اینترنشنال لایبرری ارائه دهنده کتاب های زبان اصلی می باشد و هیچ گونه کتاب ترجمه شده یا نوشته شده به فارسی را ارائه نمی دهد.
این کتاب راهحلهایی را برای چالشهای موجود در تحلیل الگوی حاشیه ارائه میکند، تکنیکهایی را برای اندازهگیری میدان کامل، غیر تماسی و با حساسیت بالا پوشش میدهد. هدف اصلی تجزیه و تحلیل الگوی حاشیه، استخراج توزیعهای فاز پنهان است که عموماً به کمیتهای فیزیکی در حال اندازهگیری مربوط میشوند. هم تحلیل نظری و هم توسعه الگوریتم برای تسهیل کار محققان و مهندسان پوشش داده شده است. اطلاعات ارائه شده نیز به عنوان یک موضوع تخصصی برای دانشجویان مهندسی نوری و کامپیوتر مناسب است
This book provides solutions to the challenges involved in fringe pattern analysis, covering techniques for full-field, noncontact, and high-sensitivity measurement. The primary goal of fringe pattern analysis is to extract the hidden phase distributions that generally relate to the physical quantities being measured. Both theoretical analysis and algorithm development are covered to facilitate the work of researchers and engineers. The information presented is also appropriate as a specialized subject for students of optical and computer engineering
Content: Preface --
Glossary of terms and acronyms --
1. Introduction --
2. Windowed Fourier ridges for exponential phase fields --
3. Windowed Fourier filtering for exponential phase fields --
4. Quality-guided phase unwrapping and refinement --
5. Carrier fringe pattern demodulation --
6. Denoising a single closed fringe pattern --
7. Demodulating a single closed fringe pattern --
8. Extracting dynamic phase from a sequence of fringe patterns --
9. Algorithm acceleration using parallel computing.