ورود به حساب

نام کاربری گذرواژه

گذرواژه را فراموش کردید؟ کلیک کنید

حساب کاربری ندارید؟ ساخت حساب

ساخت حساب کاربری

نام نام کاربری ایمیل شماره موبایل گذرواژه

برای ارتباط با ما می توانید از طریق شماره موبایل زیر از طریق تماس و پیامک با ما در ارتباط باشید


09117307688
09117179751

در صورت عدم پاسخ گویی از طریق پیامک با پشتیبان در ارتباط باشید

دسترسی نامحدود

برای کاربرانی که ثبت نام کرده اند

ضمانت بازگشت وجه

درصورت عدم همخوانی توضیحات با کتاب

پشتیبانی

از ساعت 7 صبح تا 10 شب

دانلود کتاب Windowed fringe pattern analysis

دانلود کتاب تحلیل الگوی حاشیه پنجره دار

Windowed fringe pattern analysis

مشخصات کتاب

Windowed fringe pattern analysis

ویرایش:  
نویسندگان:   
سری: SPIE Press monograph PM239; SPIE Digital Library 
ISBN (شابک) : 9780819496416, 0819496413 
ناشر: SPIE Press 
سال نشر: 2013 
تعداد صفحات: 291 
زبان: English 
فرمت فایل : PDF (درصورت درخواست کاربر به PDF، EPUB یا AZW3 تبدیل می شود) 
حجم فایل: 23 مگابایت 

قیمت کتاب (تومان) : 50,000



ثبت امتیاز به این کتاب

میانگین امتیاز به این کتاب :
       تعداد امتیاز دهندگان : 8


در صورت تبدیل فایل کتاب Windowed fringe pattern analysis به فرمت های PDF، EPUB، AZW3، MOBI و یا DJVU می توانید به پشتیبان اطلاع دهید تا فایل مورد نظر را تبدیل نمایند.

توجه داشته باشید کتاب تحلیل الگوی حاشیه پنجره دار نسخه زبان اصلی می باشد و کتاب ترجمه شده به فارسی نمی باشد. وبسایت اینترنشنال لایبرری ارائه دهنده کتاب های زبان اصلی می باشد و هیچ گونه کتاب ترجمه شده یا نوشته شده به فارسی را ارائه نمی دهد.


توضیحاتی در مورد کتاب تحلیل الگوی حاشیه پنجره دار

این کتاب راه‌حل‌هایی را برای چالش‌های موجود در تحلیل الگوی حاشیه ارائه می‌کند، تکنیک‌هایی را برای اندازه‌گیری میدان کامل، غیر تماسی و با حساسیت بالا پوشش می‌دهد. هدف اصلی تجزیه و تحلیل الگوی حاشیه، استخراج توزیع‌های فاز پنهان است که عموماً به کمیت‌های فیزیکی در حال اندازه‌گیری مربوط می‌شوند. هم تحلیل نظری و هم توسعه الگوریتم برای تسهیل کار محققان و مهندسان پوشش داده شده است. اطلاعات ارائه شده نیز به عنوان یک موضوع تخصصی برای دانشجویان مهندسی نوری و کامپیوتر مناسب است


توضیحاتی درمورد کتاب به خارجی

This book provides solutions to the challenges involved in fringe pattern analysis, covering techniques for full-field, noncontact, and high-sensitivity measurement. The primary goal of fringe pattern analysis is to extract the hidden phase distributions that generally relate to the physical quantities being measured. Both theoretical analysis and algorithm development are covered to facilitate the work of researchers and engineers. The information presented is also appropriate as a specialized subject for students of optical and computer engineering



فهرست مطالب

Content: Preface --
Glossary of terms and acronyms --
1. Introduction --
2. Windowed Fourier ridges for exponential phase fields --
3. Windowed Fourier filtering for exponential phase fields --
4. Quality-guided phase unwrapping and refinement --
5. Carrier fringe pattern demodulation --
6. Denoising a single closed fringe pattern --
7. Demodulating a single closed fringe pattern --
8. Extracting dynamic phase from a sequence of fringe patterns --
9. Algorithm acceleration using parallel computing.




نظرات کاربران