دسترسی نامحدود
برای کاربرانی که ثبت نام کرده اند
برای ارتباط با ما می توانید از طریق شماره موبایل زیر از طریق تماس و پیامک با ما در ارتباط باشید
در صورت عدم پاسخ گویی از طریق پیامک با پشتیبان در ارتباط باشید
برای کاربرانی که ثبت نام کرده اند
درصورت عدم همخوانی توضیحات با کتاب
از ساعت 7 صبح تا 10 شب
دسته بندی: فناوری نانو ویرایش: نویسندگان: Alexander Vasil'evich Khomchenko سری: Thin Films and Nanostructures 33 ISBN (شابک) : 0120885158, 9780080457895 ناشر: Elsevier, Academic Press سال نشر: 2006 تعداد صفحات: 237 زبان: English فرمت فایل : PDF (درصورت درخواست کاربر به PDF، EPUB یا AZW3 تبدیل می شود) حجم فایل: 3 مگابایت
در صورت تبدیل فایل کتاب Waveguide Spectroscopy of Thin Films به فرمت های PDF، EPUB، AZW3، MOBI و یا DJVU می توانید به پشتیبان اطلاع دهید تا فایل مورد نظر را تبدیل نمایند.
توجه داشته باشید کتاب طیف سنجی Waveguide از فیلم های نازک نسخه زبان اصلی می باشد و کتاب ترجمه شده به فارسی نمی باشد. وبسایت اینترنشنال لایبرری ارائه دهنده کتاب های زبان اصلی می باشد و هیچ گونه کتاب ترجمه شده یا نوشته شده به فارسی را ارائه نمی دهد.
در طیفسنجی موجی لایههای نازک روشهای جدیدی برای مطالعه خواص نوری خطی و غیرخطی لایههای نازک ارائه شده است. این تکنیکها بر اساس اصول طیفسنجی فوریه فضایی پرتو نور منعکسشده از دستگاه جفتکننده منشوری با تحریک تونلی حالتهای نور هدایتشونده در ساختارهای لایه نازک هستند. روش های اندازه گیری تعیین ضریب جذب، ضریب شکست و ضخامت لایه های دی الکتریک، نیمه هادی یا فلزی در نظر گرفته شده است. این کتاب به متخصصان رشته های اپتیک یکپارچه و لایه نازک و دانشجویان فارغ التحصیل در تخصص های مرتبط به شدت توصیه می شود.
In Waveguide Spectroscopy of Thin Films new methods of study of the linear and nonlinear optical properties of thin films are presented. These techniques are based on the principles of the spatial Fourier spectroscopy of the light beam reflected from a prism-coupling device with the tunnel excitation of guided lightmodes in thin-film structures. Measurement techniques of determination of the absorption coefficient, refractive index and thickness of the dielectric, semiconductor or metallic films are considered. This book is highly recommended for specialists in the fields of integrated and thin film optics and for graduated students in related specialties.
Cover......Page 1
Thin Films and Nanostructures......Page 4
Dedication......Page 6
Contents......Page 8
Waveguide Spectroscopy of Thin Films......Page 12
Foreword......Page 14
Acknowledgments......Page 16
Introduction......Page 18
Power States in Solids......Page 22
Macroscopic Aspects of Solids......Page 29
Waveguide Properties of Thin Films and Surface Layers......Page 38
Reflection of the Plane Wave from Interface of Two Media......Page 39
Modes in Planar Waveguiding Structures......Page 40
Dispersion Curves and the ‘‘Cut-Off’’ Condition......Page 42
Input of Radiation into Waveguide by the Prism Coupler......Page 44
Excitation of Guided Light Modes and Measurement of Their Parameters......Page 46
Optical Losses in Waveguides......Page 48
Dispersion Equations for the Imaginary Part of the Mode Propagation Constant......Page 49
Measurement of Losses in Waveguides......Page 51
Leaky and Plasmon Modes in Thin-Film Structures......Page 54
Fabrication of Waveguiding Structures......Page 56
Recording the Spatial Distribution of the Light-Beam Intensity......Page 58
Photodetectors in Waveguide Measurement Setups......Page 60
Light Sources and Characterization of Light Beams......Page 67
Techniques and Setup for the Measurement of Light Beam Intensity and its Spatial Distribution......Page 78
Mathematical Processing the Recorded Spatial Distribution......Page 81
Determination of the Light-Beam Parameters......Page 85
Spatial Distribution of the Light Beam Intensity Reflected from the Prism Coupler and Measurements of Thin-Film Parameters......Page 87
Fourier Transform Applications for Studying the Spatial Distribution of the Reflected Light Beam Intensity......Page 94
Features of Recording the Intensity Distribution and Measuring the Complex Propagation Constants of Modes......Page 100
Determination of Thin-Film Parameters......Page 105
Characterization of Thin Films by Prism Coupling of Leaky Modes......Page 114
Basic Concepts and Instrumentation......Page 115
Determinations of Waveguiding Film Parameters......Page 120
Leaky Modes in Thin-Film Structures......Page 123
Determination of Parameters of Metal Films and Surface Layers of Bulk Metal by the Plasmon Modes Excitation Technique......Page 127
Measurements of Absorption Spectra of Thin Films......Page 130
Absorption Optical Spectrophotometry: Possibilities and Limitations......Page 131
Instrumentation of the Waveguide Spectroscopy of Thin Films......Page 132
Special Features of Absorption Spectra Recording by Waveguide Spectroscopy and their Processing......Page 136
Measurement of Absorption Spectra by the Fourier Spectroscopy of Guided Modes......Page 137
Applications of the Waveguide Spectroscopy Techniques in Sensor Systems......Page 144
Integrated-Optics Sensors and their Features......Page 145
Gas Thin-Film Sensors......Page 151
Physical Origin of Processes on Surfaces of Thin-Film Sensors......Page 156
Evaluation of the Adlayer Parameters......Page 163
Gas Sensors......Page 164
Integrated-Optics Sensors of the Angular Movement......Page 166
Waveguide Microscopy of Thin Films......Page 168
Optical Nonlinearity in Thin Films at Low-Intensity Light......Page 172
Optical Nonlinearity and Thin-Film Nonlinear Constant Measurement Techniques......Page 173
New Method of Determination of Nonlinear Constants of Films......Page 181
Nonlinear Optical Properties of Azo-Dye Doped Polymeric Films......Page 186
Optical Nonlinearity in Semiconductor Films......Page 189
Nonlinear Optical Properties of As2S3 Films......Page 190
Structure and Nonlinear Properties of ZnSe Films......Page 195
Nonlinear Absorption in Semiconductor-Doped Glasses......Page 202
Features of Optical Properties of Multilayer Structures......Page 208
Interface Effects on the Nonlinear Optical Properties of Thin Films......Page 214
New Potentialities for Studying Thin-Film Structures......Page 219
References......Page 224
Subject Index......Page 236