ورود به حساب

نام کاربری گذرواژه

گذرواژه را فراموش کردید؟ کلیک کنید

حساب کاربری ندارید؟ ساخت حساب

ساخت حساب کاربری

نام نام کاربری ایمیل شماره موبایل گذرواژه

برای ارتباط با ما می توانید از طریق شماره موبایل زیر از طریق تماس و پیامک با ما در ارتباط باشید


09117307688
09117179751

در صورت عدم پاسخ گویی از طریق پیامک با پشتیبان در ارتباط باشید

دسترسی نامحدود

برای کاربرانی که ثبت نام کرده اند

ضمانت بازگشت وجه

درصورت عدم همخوانی توضیحات با کتاب

پشتیبانی

از ساعت 7 صبح تا 10 شب

دانلود کتاب Wafer-Level Testing and Test During Burn-In for Integrated Circuits

دانلود کتاب تست و تست سطح ویفر در حین سوختن برای مدارهای مجتمع

Wafer-Level Testing and Test During Burn-In for Integrated Circuits

مشخصات کتاب

Wafer-Level Testing and Test During Burn-In for Integrated Circuits

دسته بندی: الکترونیک: رادیو
ویرایش: 1 
نویسندگان:   
سری: Integrated Mircosystems 
ISBN (شابک) : 1596939893, 9781596939899 
ناشر: Artech House Publishers 
سال نشر: 2010 
تعداد صفحات: 215 
زبان: English 
فرمت فایل : PDF (درصورت درخواست کاربر به PDF، EPUB یا AZW3 تبدیل می شود) 
حجم فایل: 3 مگابایت

قیمت کتاب (تومان) : 53,000



ثبت امتیاز به این کتاب

میانگین امتیاز به این کتاب :
       تعداد امتیاز دهندگان : 10


در صورت تبدیل فایل کتاب Wafer-Level Testing and Test During Burn-In for Integrated Circuits به فرمت های PDF، EPUB، AZW3، MOBI و یا DJVU می توانید به پشتیبان اطلاع دهید تا فایل مورد نظر را تبدیل نمایند.

توجه داشته باشید کتاب تست و تست سطح ویفر در حین سوختن برای مدارهای مجتمع نسخه زبان اصلی می باشد و کتاب ترجمه شده به فارسی نمی باشد. وبسایت اینترنشنال لایبرری ارائه دهنده کتاب های زبان اصلی می باشد و هیچ گونه کتاب ترجمه شده یا نوشته شده به فارسی را ارائه نمی دهد.


توضیحاتی در مورد کتاب تست و تست سطح ویفر در حین سوختن برای مدارهای مجتمع

آزمایش در سطح ویفر به فرآیندی حیاتی از قرار دادن مدارهای مجتمع و دستگاه های نیمه هادی تحت آزمایش الکتریکی در حالی که هنوز به شکل ویفر هستند اشاره دارد. Burn-in یک تست استرس قابلیت اطمینان دما/سوگیری است که برای شناسایی و غربالگری خرابی‌های بالقوه دستگاه اولیه استفاده می‌شود. این منبع عملی تجزیه و تحلیل جامعی از این روش‌ها ارائه می‌کند و نشان می‌دهد که چگونه تست سطح ویفر در حین سوختن (WLTBI) به کاهش هزینه محصول در تولید نیمه‌رسانا کمک می‌کند. مهندسان یاد می گیرند که چگونه آزمایش مدارهای مجتمع را در سطح ویفر تحت محدودیت های منابع مختلف پیاده سازی کنند. علاوه بر این، این کتاب منحصر به فرد به پزشکان کمک می کند تا به موضوع فعال کردن محصولات نسل بعدی با آزمایش کننده های نسل قبلی بپردازند. پزشکان همچنین بینش های تخصصی در مورد روندهای فعلی صنعت را در راه حل های تست WLTBI پیدا می کنند.


توضیحاتی درمورد کتاب به خارجی

Wafer-level testing refers to a critical process of subjecting integrated circuits and semiconductor devices to electrical testing while they are still in wafer form. Burn-in is a temperature/bias reliability stress test used in detecting and screening out potential early life device failures. This hands-on resource provides a comprehensive analysis of these methods, showing how wafer-level testing during burn-in (WLTBI) helps lower product cost in semiconductor manufacturing. Engineers learn how to implement the testing of integrated circuits at the wafer-level under various resource constraints. Moreover, this unique book helps practitioners address the issue of enabling next generation products with previous generation testers. Practitioners also find expert insights on current industry trends in WLTBI test solutions.





نظرات کاربران

تمامی حقوق معنوی و مادی وبسایت متعلق به اینترنشنال لایبرری می باشد
نماد اعتماد الکترونیکی