Vth International Congress on X-Ray Optics and Microanalysis / V. Internationaler Kongreß für Röntgenoptik und Mikroanalyse / Ve Congrès International sur l’Optique des Rayons X et la Microanalyse: Tübingen, September 9th–14th, 1968

Front Matter....Pages I-XII
Present State of X-Ray Interferometry....Pages 1-10
X-Ray Reflection Optics (Recent Developments)....Pages 11-26
The Figuring of an Aspherical X-Ray Lens....Pages 27-32
Untersuchung zur ASR (Anomalous Surface Reflection) von Röntgenstrahlen mit einer Mikrofokus-Röntgenröhre....Pages 33-38
Grazing Incidence X-Ray Telescopes....Pages 39-44
Application of X-Ray Optical Methods in Solar Astronomy....Pages 45-49
Detection of Weak X-Ray Sources by Image Integration....Pages 50-54
Resolution Error Correction of Small Angle Scattering Data Using Hermite Functions....Pages 55-57
Principles and Limitations of Electron Probe Microanalysis....Pages 58-63
Recent Progress of Electron Microprobe in Japan....Pages 64-75
Measurements of Backscattered Electron Energy Spectra for Primary Beam Energies of 10 to 30 keV....Pages 76-79
Peak to Background Ratio in Microprobe Analysis....Pages 80-83
A Study of the Deadtime Correction in Electron Probe Microanalysis....Pages 84-92
The Measurement of Total Mass per Unit Area and Elemental Weight-Fractions along Line Scans in Thin Specimens....Pages 93-98
A Method for Composition Determination of Alloy Thin Films....Pages 99-103
An Experimental Method for Determining the Depth Distribution of Characteristic X-Rays in Electron Microprobe Specimens....Pages 104-113
Etat actuel des méthodes quantitatives d’analyse par sonde électronique....Pages 114-131
Présentation d’un programme de calcul sur ordinateur des diverses corrections à appliquer aux analyses à la microsonde électronique....Pages 132-134
Programme de calcul de l‹intensité des rayons X émis en microanalyse à sonde électronique et analyse quantitative....Pages 135-140
Formulae for Absorption Correction with Regard to Indirect Excitation of K , L and M Lines....Pages 141-145
Accuracy of Atomic Number and Absorption Corrections in Electron Probe Microanalysis....Pages 146-150
Propagation of Errors in Correction Models for Quantitative Electron Probe Microanalysis....Pages 151-159
Prüfung der Korrekturen für Ordnungszahl, Absorption und sekundäre Fluoreszenz an metallischen Zweistofflegierungen mit nur je einem Matrixeffekt....Pages 160-165
Eine empirische Methode zur quantitativen chemischen Analyse von Mikroteilchen mit der Mikrosonde....Pages 166-169
The Magnitude of the “Continuous” Fluorescence Correction in Electronprobe Analysis....Pages 170-174
An Attempt for Quantitative Procedure....Pages 175-179
Analyse quantitative d’echantillons minces....Pages 180-186
Phenomenes de fluorescence aux limites de phases....Pages 187-192
Die Massenschwächungskoeffizienten der Kohlenstoff- K α -Linie in Abhängigkeit von der Ordnungszahl....Pages 193-197
Messung des Massenabsorptionskoeffizienten in Kohlenstoff im Wellenbereich 10 bis 70 Å....Pages 198-205
Recent Advances in Instrumentation for Microprobe Analysis....Pages 206-218
A Precision Linear X-Ray Spectrometer....Pages 219-223
Iron-Free Lenses for Electron Probe Forming Systems....Pages 224-230
Elektronische Techniken für die Elektronenstrahl-Mikroanalyse....Pages 231-234
Elektronenstrahl-Mikroanalyse mit der Elmisonde: Arbeitstechnik und Analysemöglichkeiten....Pages 235-240
A Microanalysis Attachment for the Elmiskop I....Pages 241-244
Performance Analysis of a Combined Electron Microscope and Electron Probe Microanalyser “EMMA”....Pages 245-247
A Shielded X-Ray Microprobe for the Analysis of Radioactive Samples....Pages 248-249
Analysis of Radioactive Materials by Means of an Electron Microprobe Demonstrated on UO 2 —Mo and UO 2 -Zircalloy Fuel Cermets....Pages 250-260
The TPD Electron Probe X-Ray Micro Analyzer....Pages 261-268
New Spectrometers and Accessories for the Electron Microprobe....Pages 269-273
Geräte und Methoden zur quantitativen Gefügecharakterisierung mit der Mikrosonde....Pages 274-277
Der Vielkanalanalysator als Zusatzgerät zur Mikrosonde für die Spurenanalyse und die Analyse mit geringen Strömen....Pages 278-281
Développement d’accessoires adaptables au microanalyseur à sonde électronique pour l’étude des inclusions....Pages 282-286
Sélecteur de fréquences X pour le rayonnement synchrotron. Etude de la réflexion spéculaire entre 6 et 14Å....Pages 287-292
Microanalysis in the Transmission Electron Microscope by Selected Area Electron Spectrometry....Pages 293-298
Microanalysis by Electron Energy Analysis with a Cylindrical Magnetic Lens....Pages 299-304
Effect of Electron Source to Energy Resolution in Electron Velocity Analysis — Interpretation of Boersch Effect....Pages 305-310
Microanalyseur par émission ionique secondaire....Pages 311-318
Microanalysis with a Proton-Probe....Pages 319-324
Microanalyse d’une surface solide par iono-luminescence....Pages 325-328
A High Resolution Electron Microscope for Conventional Imaging and Scanning Mode of Operation....Pages 329-332
Development of a Scanning Electron Mirror Microscope....Pages 333-336
Computer Controlled Scanning Electron Microscope....Pages 337-340
A New Scanning Electron Microscope....Pages 341-342
A Combined Scanning Electron Microscope/Electron Microprobe Analyzer....Pages 343-344
Photo Emission Electron Microscopy....Pages 345-350
Röntgenemissionsspektrometrie von Elementen niedriger Ordnungszahl ( Z < 15)....Pages 351-360
The Detection of Light Elements....Pages 361-364
Quantitative Analysis of Oxygen in Electron Probe Microanalysis....Pages 365-368
Beryllium Determination in Electron Probe Microanalysis....Pages 369-372
Microanalyse des éléments très légers....Pages 375-380
Utilisation des compteurs à flux gazeux dans le domaine des rayons X ultra-mous pour l’étude des sources à émissions brèves....Pages 381-382
The Accuracy of the Orientation of Cubic Crystals from Back Reflection Kossel Patterns....Pages 383-387
Technique for Orientation Determinations by Means of Kossel Diffraction in the Electron Microprobe....Pages 388-395
A Method for the Precise Determination of Lattice Spacings from Kossel Patterns from Selected Grains in Steel Samples....Pages 396-400
A Variable Orientation Specimen Holder for Precision Microdiffraction in the Reflection Mode....Pages 401-405
Hochtemperatur-Kossel-Technik....Pages 406-411
Nouvelle méthode d’obtention des diagrammes de diffraction en rayonnement X divergent....Pages 412-414
Metallurgical and Mineralogical Applications....Pages 415-423
Mineralogical Applications of the Electron Probe Microanalyser....Pages 424-431
Standards and Correction Procedures in Electron-Probe Analysis of Rock-Forming Minerals....Pages 432-437
Specimen Damage during Microprobe Analysis of Silicate Glasses....Pages 438-442
Investigation of Ni-Zn Ferrite Formation by Electron Probe Microanalyser....Pages 443-446
An Electron Microprobe Analysis of Cu 2−x Layers Chemiplated on Single Crystals and Thin Films of CdS....Pages 447-457
Application of X-Ray Microanalyser to Cast Iron “Relation between Few Elements of Nodular Graphite Cast Iron and Nodular Graphite”....Pages 458-461
Absorberstrommessungen an Mehrphasensystemen....Pages 462-466
Die Anwendung der Mikrosonde bei der Aufstellung von Mehrstoffsystemen....Pages 467-473
Trace Elements in Ferro-Alloy Deoxidants and Their Influence on Non-Metallic Inclusion Compositions....Pages 474-480
Untersuchungen an supraleitenden Diffusionsschichten mit einer Elektronenstrahlmikrosonde....Pages 481-484
Untersuchung von Diffusionsvorgängen an Mehrstoff-Gleitlagern mit der Elektronenstrahl-Mikrosonde....Pages 485-494
The Influence of Surface Treatment on the Diffusivity in the Surface Layers of Stainless Steels....Pages 495-498
Investigation of Hard Magnetic Materials by Small Angle Diffraction of Neutrons....Pages 499-501
Mesure d’homogénéité des mélanges de poudres par micro-analyse a sonde électronique....Pages 502-508
Analyse des précipités extraits sur repliques, à l’aide d’un microanalyseur classique et d’un microanalyseur équipé d’un microscope électronique....Pages 509-518
Diffusion chimique Zinc—Nickel. Coefficients de diffusion intrinsèques....Pages 519-530
Electron Probe Microanalysis of Ti(C, N) and Zr(C, N) in Steel....Pages 531-534
Bestimmung der Grenzflächenenergie zwischen Zementit-Partikeln und Ferrit-Matrix mit Hilfe der Ostwald-Reifung....Pages 535-539
Die Röntgenröhrenspannung als Einflußgröße bei der quantitativen RFA....Pages 540-542
Messungen der Dichte dünner Aufdampfschichten....Pages 543-545
Biological Work Using Microfluorescence Analysis....Pages 546-549
Biological Applications of Projection X-Ray Microscopy....Pages 550-560
Comparison between X-Ray Fluorescence and Ultra-Micro Flame Photometric Analyses of the Electrolyte Content in Single Cells....Pages 561-568
X-Ray Histochemistry Used for Simultaneous Demonstration of Neurones and Capillaries in the Human Brain....Pages 569-578
Histochimie par spectrographie des RX....Pages 579-581
The Application of Microprobe Analysis to Biology....Pages 582-591
Electron Microprobe Studies on the Mineralization Process of Tooth and Bone....Pages 592-596
Electron Probe Microanalysis of Filled Human Teeth....Pages 597-600
Zerstörungsfreie Analyse von Zahnhartsubstanzen mit der Elektronenstrahlmikrosonde....Pages 601-607
The Correlation of Bone Mineral with Body Build and Bone Turnover....Pages 608-610
The Correlation between Microradiography and Scanning Electron Microscopy of Bone Section Surfaces....Pages 611-612