ورود به حساب

نام کاربری گذرواژه

گذرواژه را فراموش کردید؟ کلیک کنید

حساب کاربری ندارید؟ ساخت حساب

ساخت حساب کاربری

نام نام کاربری ایمیل شماره موبایل گذرواژه

برای ارتباط با ما می توانید از طریق شماره موبایل زیر از طریق تماس و پیامک با ما در ارتباط باشید


09117307688
09117179751

در صورت عدم پاسخ گویی از طریق پیامک با پشتیبان در ارتباط باشید

دسترسی نامحدود

برای کاربرانی که ثبت نام کرده اند

ضمانت بازگشت وجه

درصورت عدم همخوانی توضیحات با کتاب

پشتیبانی

از ساعت 7 صبح تا 10 شب

دانلود کتاب VLSI Test Principles and Architectures: Design for Testability

دانلود کتاب اصول و معماری آزمون VLSI: طراحی برای آزمایش پذیری

VLSI Test Principles and Architectures: Design for Testability

مشخصات کتاب

VLSI Test Principles and Architectures: Design for Testability

ویرایش: [1 ed.] 
نویسندگان: , ,   
سری: Systems on Silicon 
ISBN (شابک) : 9780123705976, 0123705975 
ناشر: Morgan Kaufmann 
سال نشر: 2006 
تعداد صفحات: 809 
زبان: English 
فرمت فایل : PDF (درصورت درخواست کاربر به PDF، EPUB یا AZW3 تبدیل می شود) 
حجم فایل: 6 Mb

قیمت کتاب (تومان) : 53,000



ثبت امتیاز به این کتاب

میانگین امتیاز به این کتاب :
       تعداد امتیاز دهندگان : 10


در صورت تبدیل فایل کتاب VLSI Test Principles and Architectures: Design for Testability به فرمت های PDF، EPUB، AZW3، MOBI و یا DJVU می توانید به پشتیبان اطلاع دهید تا فایل مورد نظر را تبدیل نمایند.

توجه داشته باشید کتاب اصول و معماری آزمون VLSI: طراحی برای آزمایش پذیری نسخه زبان اصلی می باشد و کتاب ترجمه شده به فارسی نمی باشد. وبسایت اینترنشنال لایبرری ارائه دهنده کتاب های زبان اصلی می باشد و هیچ گونه کتاب ترجمه شده یا نوشته شده به فارسی را ارائه نمی دهد.


توضیحاتی در مورد کتاب اصول و معماری آزمون VLSI: طراحی برای آزمایش پذیری

این کتاب راهنمای جامعی برای روش‌های جدید DFT است که به خوانندگان نشان می‌دهد چگونه یک محصول قابل آزمایش و با کیفیت طراحی کنند، هزینه آزمایش را کاهش دهند، کیفیت و بازده محصول را بهبود بخشند، و سرعت زمان عرضه به بازار و زمان به حجم را افزایش دهند. به روزترین پوشش طراحی برای آزمایش پذیری. پوشش شیوه‌های صنعتی که معمولاً در ابزارهای تجاری DFT یافت می‌شود، اما در کتاب‌های دیگر مورد بحث قرار نگرفته است. مثال‌های عملی متعدد در هر فصل که اصول اولیه تست VLSI و معماری‌های DFT را نشان می‌دهد. اسلایدهای سخنرانی و راه حل های تمرین برای همه فصل ها اکنون در دسترس هستند. مربیان همچنین واجد شرایط دانلود فایل های اسلاید PPT و فایل های راه حل MSWORD از وب سایت دستی هستند.


توضیحاتی درمورد کتاب به خارجی

This book is a comprehensive guide to new DFT methods that will show the readers how to design a testable and quality product, drive down test cost, improve product quality and yield, and speed up time-to-market and time-to-volume. · Most up-to-date coverage of design for testability. · Coverage of industry practices commonly found in commercial DFT tools but not discussed in other books. · Numerous, practical examples in each chapter illustrating basic VLSI test principles and DFT architectures. · Lecture slides and exercise solutions for all chapters are now available. · Instructors are also eligible for downloading PPT slide files and MSWORD solutions files from the manual website.





نظرات کاربران

تمامی حقوق معنوی و مادی وبسایت متعلق به اینترنشنال لایبرری می باشد
نماد اعتماد الکترونیکی