ورود به حساب

نام کاربری گذرواژه

گذرواژه را فراموش کردید؟ کلیک کنید

حساب کاربری ندارید؟ ساخت حساب

ساخت حساب کاربری

نام نام کاربری ایمیل شماره موبایل گذرواژه

برای ارتباط با ما می توانید از طریق شماره موبایل زیر از طریق تماس و پیامک با ما در ارتباط باشید


09117307688
09117179751

در صورت عدم پاسخ گویی از طریق پیامک با پشتیبان در ارتباط باشید

دسترسی نامحدود

برای کاربرانی که ثبت نام کرده اند

ضمانت بازگشت وجه

درصورت عدم همخوانی توضیحات با کتاب

پشتیبانی

از ساعت 7 صبح تا 10 شب

دانلود کتاب VLSI electronics, microstructure science. 10, Surface and interface effects in VLSI

دانلود کتاب الکترونیک VLSI، علم ریزساختار. 10، جلوه های سطح و رابط در VLSI

VLSI electronics, microstructure science. 10, Surface and interface effects in VLSI

مشخصات کتاب

VLSI electronics, microstructure science. 10, Surface and interface effects in VLSI

ویرایش:  
نویسندگان:   
سری: VLSI Electronics Microstructure Science  10 
ISBN (شابک) : 0122341104, 9780122341106 
ناشر: Academic Press 
سال نشر: 1985 
تعداد صفحات: 378 
زبان: English 
فرمت فایل : PDF (درصورت درخواست کاربر به PDF، EPUB یا AZW3 تبدیل می شود) 
حجم فایل: 24 مگابایت

قیمت کتاب (تومان) : 35,000



ثبت امتیاز به این کتاب

میانگین امتیاز به این کتاب :
       تعداد امتیاز دهندگان : 11


در صورت تبدیل فایل کتاب VLSI electronics, microstructure science. 10, Surface and interface effects in VLSI به فرمت های PDF، EPUB، AZW3، MOBI و یا DJVU می توانید به پشتیبان اطلاع دهید تا فایل مورد نظر را تبدیل نمایند.

توجه داشته باشید کتاب الکترونیک VLSI، علم ریزساختار. 10، جلوه های سطح و رابط در VLSI نسخه زبان اصلی می باشد و کتاب ترجمه شده به فارسی نمی باشد. وبسایت اینترنشنال لایبرری ارائه دهنده کتاب های زبان اصلی می باشد و هیچ گونه کتاب ترجمه شده یا نوشته شده به فارسی را ارائه نمی دهد.


توضیحاتی درمورد کتاب به خارجی



فهرست مطالب

Content: 
VLSI Electronics Microstructure SciencePage ii
Front MatterPage iii
Copyright pagePage iv
List of ContributorsPage ix
PrefacePages xi-xiiROBERT S. BAUER
Chapter 1 - Interfaces and DevicesPages 3-26ROBERT S. BAUER, THOMAS C. McGILL
Chapter 2 - Characterization of the Si-SiO2 InterfacePages 29-77S.A. SCHWARZ, M.J. SCHULZ
Chapter 3 - Fundamental Studies of Interfaces: The Unified Defect Model and Its Application to GaAs Integrated CircuitsPages 79-117WILLIAM E. SPICER, STEPHEN J. EGLASH
Chapter 4 - Heterostructure Device Physics: Band Discontinuities as Device Design ParametersPages 121-166HERBERT KROEMER
Chapter 5 - Interface Constraints on MESFET and MISFET ArchitecturesPages 167-236H.H. WIEDER
Chapter 6 - The Role of Boundary Conditions in Near- and Submicrometer-Length Gallium Arsenide Structures*Pages 237-321H.L. GRUBIN, J.P. KRESKOVSKY
Chapter 7 - Carrier Transport at the Si–SiO2 InterfacePages 323-361J.A. COOPER JR, D.F. NELSON, S.A. SCHWARZ, K.K. THORNBER
IndexPages 363-375
Contents of Other VolumesPages 377-383




نظرات کاربران

تمامی حقوق معنوی و مادی وبسایت متعلق به اینترنشنال لایبرری می باشد
نماد اعتماد الکترونیکی