ورود به حساب

نام کاربری گذرواژه

گذرواژه را فراموش کردید؟ کلیک کنید

حساب کاربری ندارید؟ ساخت حساب

ساخت حساب کاربری

نام نام کاربری ایمیل شماره موبایل گذرواژه

برای ارتباط با ما می توانید از طریق شماره موبایل زیر از طریق تماس و پیامک با ما در ارتباط باشید


09117307688
09117179751

در صورت عدم پاسخ گویی از طریق پیامک با پشتیبان در ارتباط باشید

دسترسی نامحدود

برای کاربرانی که ثبت نام کرده اند

ضمانت بازگشت وجه

درصورت عدم همخوانی توضیحات با کتاب

پشتیبانی

از ساعت 7 صبح تا 10 شب

دانلود کتاب Value Analysis Tear-down - A New Process for Product Development and Innovation

دانلود کتاب تحلیل ارزش - فرآیندی جدید برای توسعه محصول و نوآوری

Value Analysis Tear-down - A New Process for Product Development and Innovation

مشخصات کتاب

Value Analysis Tear-down - A New Process for Product Development and Innovation

ویرایش:  
نویسندگان: ,   
سری:  
ISBN (شابک) : 9781615836093, 0831132035 
ناشر: Industrial Press 
سال نشر: 2005 
تعداد صفحات: 217 
زبان: English 
فرمت فایل : PDF (درصورت درخواست کاربر به PDF، EPUB یا AZW3 تبدیل می شود) 
حجم فایل: 9 مگابایت 

قیمت کتاب (تومان) : 41,000



ثبت امتیاز به این کتاب

میانگین امتیاز به این کتاب :
       تعداد امتیاز دهندگان : 11


در صورت تبدیل فایل کتاب Value Analysis Tear-down - A New Process for Product Development and Innovation به فرمت های PDF، EPUB، AZW3، MOBI و یا DJVU می توانید به پشتیبان اطلاع دهید تا فایل مورد نظر را تبدیل نمایند.

توجه داشته باشید کتاب تحلیل ارزش - فرآیندی جدید برای توسعه محصول و نوآوری نسخه زبان اصلی می باشد و کتاب ترجمه شده به فارسی نمی باشد. وبسایت اینترنشنال لایبرری ارائه دهنده کتاب های زبان اصلی می باشد و هیچ گونه کتاب ترجمه شده یا نوشته شده به فارسی را ارائه نمی دهد.


توضیحاتی در مورد کتاب تحلیل ارزش - فرآیندی جدید برای توسعه محصول و نوآوری

این کتاب برای اولین بار یک فناوری جدید برای بهبود محصولات و نوآوری محصولات جدید و بهتر ارائه می دهد که اولین بار توسط یوشیهیکو ساتو در ژاپن توسعه یافته است. تجزیه و تحلیل ارزش، تخریب سنتی را با فناوری های تحلیل ارزش و مهندسی ارزش ترکیب می کند. طی چند سال پس از اعلام عمومی آن در ژاپن، تجزیه تحلیل ارزش توسط تمام یازده خودروساز ژاپنی و بسیاری از تولیدکنندگان لوازم الکترونیکی مصرفی ژاپنی اتخاذ شد. نویسنده یک مرجع معتبر و نویسنده در زمینه مهندسی ارزش و مدیریت ارزش است، و سهم زیادی در این فناوری ها به فرآیند توصیف شده در این کتاب داشته است. نتیجه همکاری او با آقای ساتو فرآیندی است که به مهندسان و مدیران کمک می کند تا هزینه محصول را کاهش دهند، کیفیت را بهبود بخشند، محصولات موجود را به طور مداوم بهبود بخشند و فرصت هایی را برای تغییرات نوآورانه کشف کنند.
محتوا:
Front Matter
مقدمه
فهرست مطالب
1. VA Tear-down: چیست، چگونه توسعه یافت
2. تجزیه و تحلیل ارزش و VA Tear- پایین
3. فرآیند تخریب VA
4. اعمال کاهش VA برای مسائل نگران کننده
5. ارزیابی نتایج VA Tear-down
6. سایر معیارهای رقابت با VA Tear- پایین
کاربرگهای پیوست
کتابشناسی
درباره نویسندگان
فهرست


توضیحاتی درمورد کتاب به خارجی

This book presents, for the first time, a new technology for improving products and innovating new and better products, first developed in Japan by Yoshihiko Sato. Value analysis tear-down combines traditional tear-down with the technologies of value analysis and value engineering. Within a few years of its public announcement in Japan, value analysis tear-down was adopted by all eleven Japanese automobile manufacturers, and many of the Japanese consumer electronics manufacturers. The author is a recognized authority and author on value engineering and value management, and has contributed much that is in these technologies to the process described in this book. The result of his collaboration with Mr. Sato is a process that helps engineers and managers reduce product cost, improve quality, continuously improve existing products, and discover opportunities for innovative change.
Content:
Front Matter
• Introduction
• Table of Contents
1. VA Tear-down: What it is, How it Developed
2. Value Analysis and VA Tear-down
3. The VA Tear-down Process
4. Applying VA Tear-down to Issues of Concern
5. Evaluating VA Tear-down Results
6. Other Measures of Competitiveness with VA Tear-down
• Appendix Worksheets
• Bibliography
• About the Authors
Index





نظرات کاربران