دسترسی نامحدود
برای کاربرانی که ثبت نام کرده اند
برای ارتباط با ما می توانید از طریق شماره موبایل زیر از طریق تماس و پیامک با ما در ارتباط باشید
در صورت عدم پاسخ گویی از طریق پیامک با پشتیبان در ارتباط باشید
برای کاربرانی که ثبت نام کرده اند
درصورت عدم همخوانی توضیحات با کتاب
از ساعت 7 صبح تا 10 شب
دسته بندی: فیزیک ویرایش: 5th نویسندگان: L. Reimer, H. Kohl سری: Springer Series in Optical Sciences 36 ISBN (شابک) : 0387400931 ناشر: Springer سال نشر: 2008 تعداد صفحات: 602 زبان: English فرمت فایل : PDF (درصورت درخواست کاربر به PDF، EPUB یا AZW3 تبدیل می شود) حجم فایل: 5 مگابایت
کلمات کلیدی مربوط به کتاب میکروسکوپ الکترونیک انتقال: فیزیک شکل گیری تصویر، ویرایش پنجم. (سری Springer در علوم نوری 36): فیزیک، کارگاه، فیزیک تجربی و روش های تحقیق فیزیکی
در صورت تبدیل فایل کتاب Transmission Electron Microscopy: Physics of Image Formation, 5th ed. (Springer Series in Optical Sciences 36) به فرمت های PDF، EPUB، AZW3، MOBI و یا DJVU می توانید به پشتیبان اطلاع دهید تا فایل مورد نظر را تبدیل نمایند.
توجه داشته باشید کتاب میکروسکوپ الکترونیک انتقال: فیزیک شکل گیری تصویر، ویرایش پنجم. (سری Springer در علوم نوری 36) نسخه زبان اصلی می باشد و کتاب ترجمه شده به فارسی نمی باشد. وبسایت اینترنشنال لایبرری ارائه دهنده کتاب های زبان اصلی می باشد و هیچ گونه کتاب ترجمه شده یا نوشته شده به فارسی را ارائه نمی دهد.
میکروسکوپ الکترونی عبوری تئوری تشکیل تصویر و کنتراست و حالتهای تحلیلی در میکروسکوپ الکترونی عبوری را ارائه میکند. اصول اپتیک ذرات و موج الکترون ها شرح داده شده است. برهمکنش های الکترون-نمونه برای ارزیابی تئوری پراکندگی و کنتراست فاز مورد بحث قرار می گیرند. همچنین نظریههای سینماتیکی و دینامیکی پراش الکترون و کاربردهای آنها برای تجزیه و تحلیل ساختار بلوری و تصویربرداری از شبکهها و عیوب آنها مورد بحث قرار گرفته است. میکروناالیز اشعه ایکس و طیفسنجی اتلاف انرژی الکترون به عنوان روشهای تحلیلی در نظر گرفته میشوند. آسیب و آلودگی نمونه توسط تابش الکترونی، وضوح را برای نمونه های بیولوژیکی و برخی از نمونه های معدنی محدود می کند. این ویرایش پنجم شامل بحث در مورد پیشرفت اخیر، به ویژه در زمینه تصحیح انحراف، و فیلتر انرژی است. علاوه بر این موضوعات جدید ویرایش چهارم دوباره به روز شده است.
Transmission Electron Microscopy presents the theory of image and contrast formation, and the analytical modes in transmission electron microscopy. The principles of particle and wave optics of electrons are described. Electron-specimen interactions are discussed for evaluating the theory of scattering and phase contrast. Also discussed are the kinematical and dynamical theories of electron diffraction and their applications for crystal-structure analysis and imaging of lattices and their defects. X-ray micronanalysis and electron energy-loss spectroscopy are treated as analytical methods. Specimen damage and contamination by electron irradiation limits the resolution for biological and some inorganic specimens. This fifth edition includes discussion of recent progress, especially in the area of aberration corrector, and energy filtering; moreover the new topics of the fourth edition have been updated again.
TEM: Physics of Image Formation......Page 1
front-matter.pdf......Page 2
1 Introduction......Page 17
2 Particle Optics of Electrons......Page 32
3 Wave Optics of Electrons......Page 59
4 Elements of a Transmission Electron Microscope......Page 91
5 Electron–Specimen Interactions......Page 155
6 Scattering and Phase Contrast for Amorphous Specimens......Page 209
7 Theory of Electron Diffraction......Page 286
8 Electron-Diffraction Modes and Applications......Page 342
9 Imaging of Crystalline Specimens and Their Defects......Page 372
10 Elemental Analysis by X-ray and Electron Energy-Loss Spectroscopy......Page 432
11 Specimen Damage by Electron Irradiation......Page 472
back-matter.pdf......Page 504