Transmission Electron Microscopy: Diffraction, Imaging, and Spectrometry

این متن یک جلد همراه برای میکروسکوپ الکترونی انتقالی: کتاب درسی برای علم مواد نوشته ویلیامز و کارتر است. هدف گسترش بحث درباره موضوعات خاصی است که در این زمان یا به سرعت در حال تغییر هستند یا از بحث مفصل تری نسبت به فضای مجاز در متن اصلی بهره می برند. محققان مشهور جهانی فصل‌هایی را در حوزه تخصصی خود ارائه کرده‌اند و ویراستاران این فصل‌ها را با دقت آماده کرده‌اند تا لحن و برخوردی یکسان برای این مطالب هیجان‌انگیز ارائه کنند. این کتاب مجموعه‌ای بی‌نظیر از شکل‌های رنگی را به نمایش می‌گذارد که کیفیت و تنوع داده‌های شیمیایی را که می‌توان از ابزارهای امروزی به‌دست آورد، و همچنین مشکلات کلیدی را که باید اجتناب کرد، نشان می‌دهد. مانند متن قبلی TEM، هر فصل شامل دو مجموعه سؤال است، یکی برای خود ارزیابی و دیگری برای تکالیف خانگی مناسب تر است. در سرتاسر کتاب، سبک از سبک ویلیامز و کارتر پیروی می کند، حتی زمانی که موضوع چالش برانگیز می شود - هدف همیشه این است که موضوع برای دانشجویان سال اول تحصیلات تکمیلی و سایر افرادی که در زمینه علم مواد کار می کنند قابل درک باشد

< /p>

موضوعات پوشش داده شده شامل منابع، آزمایش‌های درجا، پراش الکترون، میکروگراف دیجیتال، امواج و هولوگرافی، بازسازی سری کانونی و روش‌های مستقیم، STEM و توموگرافی، تصویربرداری TEM با فیلتر انرژی (EFTEM) و تصویربرداری طیفی است. . گستره و عمق مطالب، خواندن این جلد همراه را برای میکروسکوپیست در حال جوانه زدن ضروری می کند و به یک مرجع کلیدی برای محققین تمرین کننده با استفاده از این تکنیک ها و تکنیک های مرتبط تبدیل می شود.

This text is a companion volume to Transmission Electron Microscopy: A Textbook for Materials Science by Williams and Carter. The aim is to extend the discussion of certain topics that are either rapidly changing at this time or that would benefit from more detailed discussion than space allowed in the primary text. World-renowned researchers have contributed chapters in their area of expertise, and the editors have carefully prepared these chapters to provide a uniform tone and treatment for this exciting material. The book features an unparalleled collection of color figures showcasing the quality and variety of chemical data that can be obtained from today’s instruments, as well as key pitfalls to avoid. As with the previous TEM text, each chapter contains two sets of questions, one for self assessment and a second more suitable for homework assignments. Throughout the book, the style follows that of Williams & Carter even when the subject matter becomes challenging—the aim is always to make the topic understandable by first-year graduate students and others who are working in the field of Materials Science

Topics covered include sources, in-situ experiments, electron diffraction, Digital Micrograph, waves and holography, focal-series reconstruction and direct methods, STEM and tomography, energy-filtered TEM (EFTEM) imaging, and spectrum imaging. The range and depth of material makes this companion volume essential reading for the budding microscopist and a key reference for practicing researchers using these and related techniques.