دسترسی نامحدود
برای کاربرانی که ثبت نام کرده اند
برای ارتباط با ما می توانید از طریق شماره موبایل زیر از طریق تماس و پیامک با ما در ارتباط باشید
در صورت عدم پاسخ گویی از طریق پیامک با پشتیبان در ارتباط باشید
برای کاربرانی که ثبت نام کرده اند
درصورت عدم همخوانی توضیحات با کتاب
از ساعت 7 صبح تا 10 شب
ویرایش:
نویسندگان: Professor Brent Fultz. Professor James M. Howe (auth.)
سری:
ISBN (شابک) : 9783662045183, 9783662045169
ناشر: Springer Berlin Heidelberg
سال نشر: 2001
تعداد صفحات: 759
زبان: English
فرمت فایل : PDF (درصورت درخواست کاربر به PDF، EPUB یا AZW3 تبدیل می شود)
حجم فایل: 18 Mb
در صورت تبدیل فایل کتاب Transmission Electron Microscopy and Diffractometry of Materials به فرمت های PDF، EPUB، AZW3، MOBI و یا DJVU می توانید به پشتیبان اطلاع دهید تا فایل مورد نظر را تبدیل نمایند.
توجه داشته باشید کتاب میکروسکوپ الکترونی انتقالی و پراش سنجی مواد نسخه زبان اصلی می باشد و کتاب ترجمه شده به فارسی نمی باشد. وبسایت اینترنشنال لایبرری ارائه دهنده کتاب های زبان اصلی می باشد و هیچ گونه کتاب ترجمه شده یا نوشته شده به فارسی را ارائه نمی دهد.
Front Matter....Pages I-XIX
Diffraction and the X-Ray Powder Diffractometer....Pages 1-61
The TEM and its Optics....Pages 63-121
Scattering....Pages 123-166
Inelastic Electron Scattering and Spectroscopy....Pages 167-224
Diffraction from Crystals....Pages 225-274
Electron Diffraction and Crystallography....Pages 275-337
Diffraction Contrast in TEM Images....Pages 339-422
Diffraction Lineshapes....Pages 423-465
Patterson Functions and Diffuse Scattering....Pages 467-522
High-Resolution TEM Imaging....Pages 523-593
Dynamical Theory....Pages 595-660
Back Matter....Pages 661-748