دسترسی نامحدود
برای کاربرانی که ثبت نام کرده اند
برای ارتباط با ما می توانید از طریق شماره موبایل زیر از طریق تماس و پیامک با ما در ارتباط باشید
در صورت عدم پاسخ گویی از طریق پیامک با پشتیبان در ارتباط باشید
برای کاربرانی که ثبت نام کرده اند
درصورت عدم همخوانی توضیحات با کتاب
از ساعت 7 صبح تا 10 شب
ویرایش: 1
نویسندگان: Xiao Liu. Qiang Xu (auth.)
سری: Lecture Notes in Electrical Engineering 252
ISBN (شابک) : 9783319005324, 9783319005331
ناشر: Springer International Publishing
سال نشر: 2014
تعداد صفحات: 118
زبان: English
فرمت فایل : PDF (درصورت درخواست کاربر به PDF، EPUB یا AZW3 تبدیل می شود)
حجم فایل: 3 مگابایت
کلمات کلیدی مربوط به کتاب اعتبارسنجی پست سیلیکون مبتنی بر ردیابی برای مدارهای VLSI: مدارها و سیستم ها، معماری پردازنده، نیمه هادی ها
در صورت تبدیل فایل کتاب Trace-Based Post-Silicon Validation for VLSI Circuits به فرمت های PDF، EPUB، AZW3، MOBI و یا DJVU می توانید به پشتیبان اطلاع دهید تا فایل مورد نظر را تبدیل نمایند.
توجه داشته باشید کتاب اعتبارسنجی پست سیلیکون مبتنی بر ردیابی برای مدارهای VLSI نسخه زبان اصلی می باشد و کتاب ترجمه شده به فارسی نمی باشد. وبسایت اینترنشنال لایبرری ارائه دهنده کتاب های زبان اصلی می باشد و هیچ گونه کتاب ترجمه شده یا نوشته شده به فارسی را ارائه نمی دهد.
این کتاب ابتدا پوشش جامعی از پیشرفته ترین راه حل های اعتبار سنجی مبتنی بر ردیابی سیگنال بلادرنگ را برای تضمین صحت مدارهای VLSI ارائه می دهد. نویسندگان چندین چالش کلیدی در اعتبار سنجی پس از سیلیکون را مورد بحث قرار می دهند و راه حل های خودکاری را ارائه می دهند که سیستماتیک و مقرون به صرفه هستند. مجموعهای از راهحلهای ردیابی خودکار و طراحی خلاقانه برای تکنیکهای اشکالزدایی (DfD)، از جمله تکنیکهایی برای انتخاب سیگنال ردیابی برای افزایش دید خطاهای عملکردی، یک استراتژی ردیابی سیگنال چندگانه برای بهبود تشخیص خطای عملکردی، یک راهحل ردیابی برای اشکال زدایی خطاهای الکتریکی، یک پارچه اتصال برای افزایش پهنای باند داده و پشتیبانی از اشکال زدایی چند هسته ای، یک تکنیک طراحی و بهینه سازی پارچه اتصال برای افزایش انعطاف پذیری انتقال و یک طراحی DfD و راه حل ردیابی مرتبط برای بهبود کارایی اشکال زدایی و گسترش پنجره ردیابی. راه حل های ارائه شده در این کتاب کیفیت اعتبار سنجی مدارهای VLSI را بهبود می بخشد و در نهایت امکان طراحی و ساخت دستگاه های الکترونیکی قابل اعتماد را فراهم می کند.
This book first provides a comprehensive coverage of state-of-the-art validation solutions based on real-time signal tracing to guarantee the correctness of VLSI circuits. The authors discuss several key challenges in post-silicon validation and provide automated solutions that are systematic and cost-effective. A series of automatic tracing solutions and innovative design for debug (DfD) techniques are described, including techniques for trace signal selection for enhancing visibility of functional errors, a multiplexed signal tracing strategy for improving functional error detection, a tracing solution for debugging electrical errors, an interconnection fabric for increasing data bandwidth and supporting multi-core debug, an interconnection fabric design and optimization technique to increase transfer flexibility and a DfD design and associated tracing solution for improving debug efficiency and expanding tracing window. The solutions presented in this book improve the validation quality of VLSI circuits, and ultimately enable the design and fabrication of reliable electronic devices.
Front Matter....Pages i-xv
Introduction....Pages 1-4
State of the Art on Post-Silicon Validation....Pages 5-10
Signal Selection for Visibility Enhancement....Pages 11-30
Multiplexed Tracing for Design Error....Pages 31-46
Tracing for Electrical Error....Pages 47-60
Reusing Test Access Mechanisms....Pages 61-72
Interconnection Fabric for Flexible Tracing....Pages 73-85
Interconnection Fabric for Systematic Tracing....Pages 87-99
Conclusion....Pages 101-102
Back Matter....Pages 103-108