ورود به حساب

نام کاربری گذرواژه

گذرواژه را فراموش کردید؟ کلیک کنید

حساب کاربری ندارید؟ ساخت حساب

ساخت حساب کاربری

نام نام کاربری ایمیل شماره موبایل گذرواژه

برای ارتباط با ما می توانید از طریق شماره موبایل زیر از طریق تماس و پیامک با ما در ارتباط باشید


09117307688
09117179751

در صورت عدم پاسخ گویی از طریق پیامک با پشتیبان در ارتباط باشید

دسترسی نامحدود

برای کاربرانی که ثبت نام کرده اند

ضمانت بازگشت وجه

درصورت عدم همخوانی توضیحات با کتاب

پشتیبانی

از ساعت 7 صبح تا 10 شب

دانلود کتاب Trace-Based Post-Silicon Validation for VLSI Circuits

دانلود کتاب اعتبارسنجی پست سیلیکون مبتنی بر ردیابی برای مدارهای VLSI

Trace-Based Post-Silicon Validation for VLSI Circuits

مشخصات کتاب

Trace-Based Post-Silicon Validation for VLSI Circuits

ویرایش: 1 
نویسندگان:   
سری: Lecture Notes in Electrical Engineering 252 
ISBN (شابک) : 9783319005324, 9783319005331 
ناشر: Springer International Publishing 
سال نشر: 2014 
تعداد صفحات: 118 
زبان: English 
فرمت فایل : PDF (درصورت درخواست کاربر به PDF، EPUB یا AZW3 تبدیل می شود) 
حجم فایل: 3 مگابایت 

قیمت کتاب (تومان) : 39,000



کلمات کلیدی مربوط به کتاب اعتبارسنجی پست سیلیکون مبتنی بر ردیابی برای مدارهای VLSI: مدارها و سیستم ها، معماری پردازنده، نیمه هادی ها



ثبت امتیاز به این کتاب

میانگین امتیاز به این کتاب :
       تعداد امتیاز دهندگان : 25


در صورت تبدیل فایل کتاب Trace-Based Post-Silicon Validation for VLSI Circuits به فرمت های PDF، EPUB، AZW3، MOBI و یا DJVU می توانید به پشتیبان اطلاع دهید تا فایل مورد نظر را تبدیل نمایند.

توجه داشته باشید کتاب اعتبارسنجی پست سیلیکون مبتنی بر ردیابی برای مدارهای VLSI نسخه زبان اصلی می باشد و کتاب ترجمه شده به فارسی نمی باشد. وبسایت اینترنشنال لایبرری ارائه دهنده کتاب های زبان اصلی می باشد و هیچ گونه کتاب ترجمه شده یا نوشته شده به فارسی را ارائه نمی دهد.


توضیحاتی در مورد کتاب اعتبارسنجی پست سیلیکون مبتنی بر ردیابی برای مدارهای VLSI



این کتاب ابتدا پوشش جامعی از پیشرفته ترین راه حل های اعتبار سنجی مبتنی بر ردیابی سیگنال بلادرنگ را برای تضمین صحت مدارهای VLSI ارائه می دهد. نویسندگان چندین چالش کلیدی در اعتبار سنجی پس از سیلیکون را مورد بحث قرار می دهند و راه حل های خودکاری را ارائه می دهند که سیستماتیک و مقرون به صرفه هستند. مجموعه‌ای از راه‌حل‌های ردیابی خودکار و طراحی خلاقانه برای تکنیک‌های اشکال‌زدایی (DfD)، از جمله تکنیک‌هایی برای انتخاب سیگنال ردیابی برای افزایش دید خطاهای عملکردی، یک استراتژی ردیابی سیگنال چندگانه برای بهبود تشخیص خطای عملکردی، یک راه‌حل ردیابی برای اشکال زدایی خطاهای الکتریکی، یک پارچه اتصال برای افزایش پهنای باند داده و پشتیبانی از اشکال زدایی چند هسته ای، یک تکنیک طراحی و بهینه سازی پارچه اتصال برای افزایش انعطاف پذیری انتقال و یک طراحی DfD و راه حل ردیابی مرتبط برای بهبود کارایی اشکال زدایی و گسترش پنجره ردیابی. راه حل های ارائه شده در این کتاب کیفیت اعتبار سنجی مدارهای VLSI را بهبود می بخشد و در نهایت امکان طراحی و ساخت دستگاه های الکترونیکی قابل اعتماد را فراهم می کند.


توضیحاتی درمورد کتاب به خارجی

This book first provides a comprehensive coverage of state-of-the-art validation solutions based on real-time signal tracing to guarantee the correctness of VLSI circuits. The authors discuss several key challenges in post-silicon validation and provide automated solutions that are systematic and cost-effective. A series of automatic tracing solutions and innovative design for debug (DfD) techniques are described, including techniques for trace signal selection for enhancing visibility of functional errors, a multiplexed signal tracing strategy for improving functional error detection, a tracing solution for debugging electrical errors, an interconnection fabric for increasing data bandwidth and supporting multi-core debug, an interconnection fabric design and optimization technique to increase transfer flexibility and a DfD design and associated tracing solution for improving debug efficiency and expanding tracing window. The solutions presented in this book improve the validation quality of VLSI circuits, and ultimately enable the design and fabrication of reliable electronic devices.



فهرست مطالب

Front Matter....Pages i-xv
Introduction....Pages 1-4
State of the Art on Post-Silicon Validation....Pages 5-10
Signal Selection for Visibility Enhancement....Pages 11-30
Multiplexed Tracing for Design Error....Pages 31-46
Tracing for Electrical Error....Pages 47-60
Reusing Test Access Mechanisms....Pages 61-72
Interconnection Fabric for Flexible Tracing....Pages 73-85
Interconnection Fabric for Systematic Tracing....Pages 87-99
Conclusion....Pages 101-102
Back Matter....Pages 103-108




نظرات کاربران