ورود به حساب

نام کاربری گذرواژه

گذرواژه را فراموش کردید؟ کلیک کنید

حساب کاربری ندارید؟ ساخت حساب

ساخت حساب کاربری

نام نام کاربری ایمیل شماره موبایل گذرواژه

برای ارتباط با ما می توانید از طریق شماره موبایل زیر از طریق تماس و پیامک با ما در ارتباط باشید


09117307688
09117179751

در صورت عدم پاسخ گویی از طریق پیامک با پشتیبان در ارتباط باشید

دسترسی نامحدود

برای کاربرانی که ثبت نام کرده اند

ضمانت بازگشت وجه

درصورت عدم همخوانی توضیحات با کتاب

پشتیبانی

از ساعت 7 صبح تا 10 شب

دانلود کتاب Three-dimensional x-ray diffraction microscopy : mapping polycrystals and their dynamics

دانلود کتاب میکروسکوپ پراش اشعه ایکس سه بعدی: نگاشت پلی کریستال ها و دینامیک آنها

Three-dimensional x-ray diffraction microscopy : mapping polycrystals and their dynamics

مشخصات کتاب

Three-dimensional x-ray diffraction microscopy : mapping polycrystals and their dynamics

ویرایش:  
نویسندگان:   
سری: Springer tracts in modern physics, 205 
ISBN (شابک) : 3540223304, 9783540223306 
ناشر: Springer  
سال نشر: 2004 
تعداد صفحات: 158 
زبان: English 
فرمت فایل : PDF (درصورت درخواست کاربر به PDF، EPUB یا AZW3 تبدیل می شود) 
حجم فایل: 3 مگابایت 

قیمت کتاب (تومان) : 46,000



ثبت امتیاز به این کتاب

میانگین امتیاز به این کتاب :
       تعداد امتیاز دهندگان : 13


در صورت تبدیل فایل کتاب Three-dimensional x-ray diffraction microscopy : mapping polycrystals and their dynamics به فرمت های PDF، EPUB، AZW3، MOBI و یا DJVU می توانید به پشتیبان اطلاع دهید تا فایل مورد نظر را تبدیل نمایند.

توجه داشته باشید کتاب میکروسکوپ پراش اشعه ایکس سه بعدی: نگاشت پلی کریستال ها و دینامیک آنها نسخه زبان اصلی می باشد و کتاب ترجمه شده به فارسی نمی باشد. وبسایت اینترنشنال لایبرری ارائه دهنده کتاب های زبان اصلی می باشد و هیچ گونه کتاب ترجمه شده یا نوشته شده به فارسی را ارائه نمی دهد.


توضیحاتی در مورد کتاب میکروسکوپ پراش اشعه ایکس سه بعدی: نگاشت پلی کریستال ها و دینامیک آنها

میکروسکوپ پراش اشعه ایکس سه بعدی (3DXRD) یک روش آزمایشی جدید برای توصیف ساختاری مواد پلی کریستالی است. موقعیت، مورفولوژی، فاز، کرنش و جهت کریستالوگرافی صدها دانه یا زیردانه جاسازی شده در نمونه های ضخامت میلی متر سانتی متر را می توان به طور همزمان تعیین کرد. علاوه بر این، پویایی عناصر ساختاری فردی را می توان در طول فرآیندهای معمولی مانند تغییر شکل یا بازپخت کنترل کرد. این کتاب شرح جامعی از روش و به دنبال آن خلاصه ای از برنامه های کاربردی انتخاب شده ارائه می دهد. این روش از دیدگاه ریاضی/کریستالوگرافی اما با جزئیات عملی کافی ارائه شده است تا خواننده را قادر سازد تا آزمایشات خود را برنامه ریزی کند. دامنه کاربردها شامل کار در علم و مهندسی مواد، ژئوفیزیک، زمین شناسی، شیمی و علوم دارویی است.


توضیحاتی درمورد کتاب به خارجی

Three-dimensional x-ray diffraction (3DXRD) microscopy is a novel experimental method for structural characterisation of polycrystalline materials. The position, morphology, phase, strain and crystallographic orientation of hundreds of grains or sub-grain embedded within mm-cm thick specimens can be determined simultaneously. Furthermore, the dynamics of the individual structural elements can be monitored during typical processes such as deformation or annealing. The book gives a comprehensive account of the methodology followed by a summary of selected applications. The method is presented from a mathematical/crystallographic point-of-view but with sufficient hands-on details to enable the reader to plan his or her own experiments. The scope of applications includes work in materials science and engineering, geophysics, geology, chemistry and pharmaceutical science.



فهرست مطالب

front-matter.pdf......Page 0
1 Introduction......Page 9
References......Page 13
2.1 Electron and Optical Microscopy......Page 14
2.2 X-Ray Diffraction with Low-Energy X-Rays......Page 16
2.3 Conventional Bulk-Sensitive Methods......Page 18
2.4 Hard X-Rays: Properties......Page 19
2.5 Hard X-Ray Work Using Synchrotron Sources......Page 21
References......Page 24
3 Geometric Principles......Page 27
3.1 The Basic 3DXRD Setup......Page 28
3.2 Diffraction Geometry......Page 31
3.3 Representation of Crystallographic Orientation......Page 33
3.4 Representation of Position--Orientation Space......Page 37
References......Page 39
4.1 GRAINDEX......Page 41
4.2 Spot Overlap......Page 44
4.3.1 Grain Maps......Page 46
4.3.2 The Orientation, Elastic Strain and Stoichiometryof a Single Grain......Page 48
4.4 Conical and Spiral Slits......Page 50
4.5 Characterization of Large Volumes......Page 52
4.6 Dynamic Experiments......Page 54
References......Page 55
5 Orientation Mapping......Page 57
5.1 Image Analysis......Page 59
5.2 GRAINSWEEPER......Page 60
5.3.1 Algebraic Formulation......Page 63
5.3.2 The ART Algorithm......Page 65
5.3.3 Results......Page 66
5.4 3D-ART......Page 69
5.5.1 Geometry......Page 70
5.5.2 The FBP Algorithm......Page 72
5.5.3 Results......Page 73
5.6 The General 6D Case......Page 74
5.7 Discussion......Page 76
References......Page 77
6 Combining 3DXRD and Absorption Contrast Tomography......Page 79
6.1 Decoration of Al Grain Boundaries by Ga......Page 81
6.2 Plastic Strain Field......Page 83
6.3 Grain Mapping on the Basis of Extinction Contrast......Page 85
References......Page 87
7 Multigrain Crystallography......Page 88
7.1 Structure Determination from Polycrystalline Data......Page 89
References......Page 92
8 The 3DXRD Microscope......Page 94
8.1 Optics......Page 95
8.2 Diffractometer......Page 97
References......Page 99
9.1 Polycrystalline Deformation......Page 100
9.1.1 The 3D Toolbox......Page 101
9.1.2 Grain Rotation Experiments......Page 102
9.1.3 Lattice Strain Experiments......Page 105
9.2 Recrystallization......Page 108
9.2.1 Growth Curves of Individual Grains......Page 110
9.2.2 Spatial Distribution of Nucleation Sites......Page 112
9.2.3 Outlook for the Statistical Approach......Page 114
9.2.4 First-Principles Studies......Page 115
9.3 Recovery and Nucleation......Page 117
9.3.1 Static Recovery......Page 119
9.3.2 Nucleation and the Emergence of New Orientations......Page 122
9.4 Peak Shape Analysis......Page 125
9.5 Phase Transformations......Page 128
9.5.1 Steel......Page 129
9.5.2 Optimization of High-Tc Superconducting Tapes......Page 132
9.6 Grain Size Distributions......Page 135
9.6.1 Methodological Concerns......Page 136
References......Page 138
10.1 Differential-Aperture X-Ray Microscopy......Page 143
10.2 The Moving-Area-Detector Method......Page 146
10.3 Other Depth-Resolved X-Ray Diffraction Methods......Page 147
10.4 Applying 3DXRD Methods to Other Sources......Page 149
References......Page 150
11 Concluding Remarks......Page 152
References......Page 154
Index......Page 155




نظرات کاربران