برای ارتباط با ما می توانید از طریق شماره موبایل زیر از طریق تماس و پیامک با ما در ارتباط باشید

09117307688
09117179751

در صورت عدم پاسخ گویی از طریق پیامک با پشتیبان در ارتباط باشید

دسترسی نامحدود

برای کاربرانی که ثبت نام کرده اند

ضمانت بازگشت وجه

درصورت عدم همخوانی توضیحات با کتاب

پشتیبانی

از ساعت 7 صبح تا 10 شب

دانلود کتاب Thin film analysis by X-ray scattering

دانلود کتاب تجزیه و تحلیل لایه نازک با پراکندگی اشعه ایکس

مشخصات کتاب

Thin film analysis by X-ray scattering

دسته بندی: تحلیل و بررسی
ویرایش:  
نویسندگان: Mario Birkholz  
سری:  
ISBN (شابک) : 9783527310524, 3527310525 
ناشر: Wiley-VCH 
سال نشر: 2006 
تعداد صفحات: 370 
زبان: English 
فرمت فایل : PDF (درصورت درخواست کاربر به PDF، EPUB یا AZW3 تبدیل می شود) 
حجم فایل: 5 مگابایت

قیمت کتاب (تومان) : 35,000

میانگین امتیاز به این کتاب :
تعداد امتیاز دهندگان : 13

در صورت تبدیل فایل کتاب Thin film analysis by X-ray scattering به فرمت های PDF، EPUB، AZW3، MOBI و یا DJVU می توانید به پشتیبان اطلاع دهید تا فایل مورد نظر را تبدیل نمایند.

توجه داشته باشید کتاب تجزیه و تحلیل لایه نازک با پراکندگی اشعه ایکس نسخه زبان اصلی می باشد و کتاب ترجمه شده به فارسی نمی باشد. وبسایت اینترنشنال لایبرری ارائه دهنده کتاب های زبان اصلی می باشد و هیچ گونه کتاب ترجمه شده یا نوشته شده به فارسی را ارائه نمی دهد.

توضیحاتی در مورد کتاب تجزیه و تحلیل لایه نازک با پراکندگی اشعه ایکس

با مشارکت پل اف. فیوستر و کریستوف گنزل در حالی که بررسی پراش اشعه ایکس پودرها و مواد پلی کریستالی در خط مقدم علم مواد در دهه های 1960 و 70 قرار داشت، کاربردهای فناوری پیشرفته در آغاز قرن بیست و یکم توسط علم مواد هدایت می شود. از لایه های نازک شیمیدانان، بیوشیمی‌ها، دانشمندان مواد، فیزیکدانان و مهندسان، همگی علاقه مشترکی به لایه‌های نازک و کاربردها و کاربردهای چندگانه آن‌ها دارند. پس از انتخاب یک ترکیب شیمیایی، فیلم ها عملکرد مورد نظر خود را به طور اساسی به ساختار و مورفولوژی آنها انجام می دهند. اگرچه پیشینه آنها بسیار متفاوت است، اما همه متخصصان درگیر درک عمیقی از چگونگی تعیین خواص ساختاری برای انجام وظایف مربوطه خود در جستجوی مواد، پوشش‌ها و عملکردهای جدید و مدرن دارند. نویسنده این مقدمه عمیق را در زمینه شخصیت پردازی اشعه ایکس فیلم نازک به شیوه ای واضح و دقیق انجام می دهد.

توضیحاتی درمورد کتاب به خارجی

With contributions by Paul F. Fewster and Christoph GenzelWhile X-ray diffraction investigation of powders and polycrystalline matter was at the forefront of materials science in the 1960s and 70s, high-tech applications at the beginning of the 21st century are driven by the materials science of thin films. Very much an interdisciplinary field, chemists, biochemists, materials scientists, physicists and engineers all have a common interest in thin films and their manifold uses and applications.Grain size, porosity, density, preferred orientation and other properties are important to know: whether thin films fulfill their intended function depends crucially on their structure and morphology once a chemical composition has been chosen. Although their backgrounds differ greatly, all the involved specialists a profound understanding of how structural properties may be determined in order to perform their respective tasks in search of new and modern materials, coatings and functions. The author undertakes this in-depth introduction to the field of thin film X-ray characterization in a clear and precise manner.

فهرست مطالب

fmatter......Page 1
ch1......Page 22
ch2......Page 63
ch3......Page 105
ch4......Page 162
ch5......Page 202
ch6......Page 257
ch7......Page 314
index......Page 359