دسترسی نامحدود
برای کاربرانی که ثبت نام کرده اند
برای ارتباط با ما می توانید از طریق شماره موبایل زیر از طریق تماس و پیامک با ما در ارتباط باشید
در صورت عدم پاسخ گویی از طریق پیامک با پشتیبان در ارتباط باشید
برای کاربرانی که ثبت نام کرده اند
درصورت عدم همخوانی توضیحات با کتاب
از ساعت 7 صبح تا 10 شب
ویرایش: [1st ed.] نویسندگان: Toan Dinh, Nam-Trung Nguyen, Dzung Viet Dao سری: SpringerBriefs in Applied Sciences and Technology ISBN (شابک) : 9789811325700 ناشر: Springer Singapore سال نشر: 2018 تعداد صفحات: XI, 115 [122] زبان: English فرمت فایل : PDF (درصورت درخواست کاربر به PDF، EPUB یا AZW3 تبدیل می شود) حجم فایل: 6 Mb
در صورت تبدیل فایل کتاب Thermoelectrical Effect in SiC for High-Temperature MEMS Sensors به فرمت های PDF، EPUB، AZW3، MOBI و یا DJVU می توانید به پشتیبان اطلاع دهید تا فایل مورد نظر را تبدیل نمایند.
توجه داشته باشید کتاب اثر حرارتی در SiC برای سنسورهای MEMS با دمای بالا نسخه زبان اصلی می باشد و کتاب ترجمه شده به فارسی نمی باشد. وبسایت اینترنشنال لایبرری ارائه دهنده کتاب های زبان اصلی می باشد و هیچ گونه کتاب ترجمه شده یا نوشته شده به فارسی را ارائه نمی دهد.
این کتاب اصول اثر ترموالکتریکی در کاربید سیلیکون (SiC)، از جمله اثرات حرارتی، حرارتی، حرارتی خازنی و ترموالکترونیکی را ارائه میکند. این رشد SiC، خواص و فرآیندهای ساخت آن برای دستگاههای SiC را خلاصه میکند و تئوریهای حسگر ترموالکتریکی را در مورفولوژیها و پلیتیپهای مختلف SiC معرفی میکند. علاوه بر این، پیشرفتهای اخیر در توصیف اثر ترموالکتریکی در SiC در دماهای بالا را بررسی میکند. با بحث در مورد چندین ویژگی مطلوب حسگرهای SiC ترموالکتریک و پیشرفتهای اخیر در این حسگرها، این کتاب راهنمایی مفیدی را در زمینه توسعه دستگاههای حسگر SiC با حساسیت بالا و خطی و پاسخ سریع بر اساس اثرات ترموالکتریکی ارائه میکند.
< /p>This book presents the fundamentals of the thermoelectrical effect in silicon carbide (SiC), including the thermoresistive, thermoelectric, thermocapacitive and thermoelectronic effects. It summarizes the growth of SiC, its properties and fabrication processes for SiC devices and introduces the thermoelectrical sensing theories in different SiC morphologies and polytypes. Further, it reviews the recent advances in the characterization of the thermoelectrical effect in SiC at high temperatures. Discussing several desirable features of thermoelectrical SiC sensors and recent developments in these sensors, the book provides useful guidance on developing high sensitivity and linearity, fast-response SiC sensing devices based on thermoelectrical effects.