ورود به حساب

نام کاربری گذرواژه

گذرواژه را فراموش کردید؟ کلیک کنید

حساب کاربری ندارید؟ ساخت حساب

ساخت حساب کاربری

نام نام کاربری ایمیل شماره موبایل گذرواژه

برای ارتباط با ما می توانید از طریق شماره موبایل زیر از طریق تماس و پیامک با ما در ارتباط باشید


09117307688
09117179751

در صورت عدم پاسخ گویی از طریق پیامک با پشتیبان در ارتباط باشید

دسترسی نامحدود

برای کاربرانی که ثبت نام کرده اند

ضمانت بازگشت وجه

درصورت عدم همخوانی توضیحات با کتاب

پشتیبانی

از ساعت 7 صبح تا 10 شب

دانلود کتاب Thermal Reliability of Power Semiconductor Device in the Renewable Energy System

دانلود کتاب قابلیت اطمینان حرارتی دستگاه نیمه هادی قدرت در سیستم انرژی های تجدیدپذیر

Thermal Reliability of Power Semiconductor Device in the Renewable Energy System

مشخصات کتاب

Thermal Reliability of Power Semiconductor Device in the Renewable Energy System

ویرایش:  
نویسندگان: , , , , ,   
سری: CPSS Power Electronics Series 
ISBN (شابک) : 9789811931314, 9789811931321 
ناشر: Springer 
سال نشر: 2022 
تعداد صفحات: 183
[184] 
زبان: English 
فرمت فایل : PDF (درصورت درخواست کاربر به PDF، EPUB یا AZW3 تبدیل می شود) 
حجم فایل: 8 Mb 

قیمت کتاب (تومان) : 35,000



ثبت امتیاز به این کتاب

میانگین امتیاز به این کتاب :
       تعداد امتیاز دهندگان : 3


در صورت تبدیل فایل کتاب Thermal Reliability of Power Semiconductor Device in the Renewable Energy System به فرمت های PDF، EPUB، AZW3، MOBI و یا DJVU می توانید به پشتیبان اطلاع دهید تا فایل مورد نظر را تبدیل نمایند.

توجه داشته باشید کتاب قابلیت اطمینان حرارتی دستگاه نیمه هادی قدرت در سیستم انرژی های تجدیدپذیر نسخه زبان اصلی می باشد و کتاب ترجمه شده به فارسی نمی باشد. وبسایت اینترنشنال لایبرری ارائه دهنده کتاب های زبان اصلی می باشد و هیچ گونه کتاب ترجمه شده یا نوشته شده به فارسی را ارائه نمی دهد.


توضیحاتی در مورد کتاب قابلیت اطمینان حرارتی دستگاه نیمه هادی قدرت در سیستم انرژی های تجدیدپذیر

این کتاب با نگاهی به مکانیسم خرابی، پایش پارامترهای حرارتی، تخمین دمای اتصال، ارزیابی طول عمر و مدیریت حرارتی، بر قابلیت اطمینان حرارتی دستگاه نیمه‌رسانای قدرت تمرکز دارد. تجزیه و تحلیل نظری و آزمون‌های تجربی برای توضیح تکنیک‌های بهبود قابلیت اطمینان موجود ارائه شده‌اند. این کتاب مرجع ارزشمندی برای دانشجویان و محققینی است که به طراحی قابلیت اطمینان حرارتی دستگاه نیمه هادی قدرت توجه دارند.


توضیحاتی درمورد کتاب به خارجی

This book focuses on the thermal reliability of power semiconductor device by looking at the failure mechanism, thermal parameters monitoring, junction temperature estimation, lifetime evaluation, and thermal management. Theoretical analysis and experimental tests are presented to explain existing reliability improvement techniques. This book is a valuable reference for the students and researchers who pay attention to the thermal reliability design of power semiconductor device.





نظرات کاربران