دسترسی نامحدود
برای کاربرانی که ثبت نام کرده اند
برای ارتباط با ما می توانید از طریق شماره موبایل زیر از طریق تماس و پیامک با ما در ارتباط باشید
در صورت عدم پاسخ گویی از طریق پیامک با پشتیبان در ارتباط باشید
برای کاربرانی که ثبت نام کرده اند
درصورت عدم همخوانی توضیحات با کتاب
از ساعت 7 صبح تا 10 شب
ویرایش: نویسندگان: Xiong Du, Jun Zhang, Gaoxian Li, Yaoyi Yu, Cheng Qian, Rui Du سری: CPSS Power Electronics Series ISBN (شابک) : 9789811931314, 9789811931321 ناشر: Springer سال نشر: 2022 تعداد صفحات: 183 [184] زبان: English فرمت فایل : PDF (درصورت درخواست کاربر به PDF، EPUB یا AZW3 تبدیل می شود) حجم فایل: 8 Mb
در صورت تبدیل فایل کتاب Thermal Reliability of Power Semiconductor Device in the Renewable Energy System به فرمت های PDF، EPUB، AZW3، MOBI و یا DJVU می توانید به پشتیبان اطلاع دهید تا فایل مورد نظر را تبدیل نمایند.
توجه داشته باشید کتاب قابلیت اطمینان حرارتی دستگاه نیمه هادی قدرت در سیستم انرژی های تجدیدپذیر نسخه زبان اصلی می باشد و کتاب ترجمه شده به فارسی نمی باشد. وبسایت اینترنشنال لایبرری ارائه دهنده کتاب های زبان اصلی می باشد و هیچ گونه کتاب ترجمه شده یا نوشته شده به فارسی را ارائه نمی دهد.
این کتاب با نگاهی به مکانیسم خرابی، پایش پارامترهای حرارتی، تخمین دمای اتصال، ارزیابی طول عمر و مدیریت حرارتی، بر قابلیت اطمینان حرارتی دستگاه نیمهرسانای قدرت تمرکز دارد. تجزیه و تحلیل نظری و آزمونهای تجربی برای توضیح تکنیکهای بهبود قابلیت اطمینان موجود ارائه شدهاند. این کتاب مرجع ارزشمندی برای دانشجویان و محققینی است که به طراحی قابلیت اطمینان حرارتی دستگاه نیمه هادی قدرت توجه دارند.
This book focuses on the thermal reliability of power semiconductor device by looking at the failure mechanism, thermal parameters monitoring, junction temperature estimation, lifetime evaluation, and thermal management. Theoretical analysis and experimental tests are presented to explain existing reliability improvement techniques. This book is a valuable reference for the students and researchers who pay attention to the thermal reliability design of power semiconductor device.