ورود به حساب

نام کاربری گذرواژه

گذرواژه را فراموش کردید؟ کلیک کنید

حساب کاربری ندارید؟ ساخت حساب

ساخت حساب کاربری

نام نام کاربری ایمیل شماره موبایل گذرواژه

برای ارتباط با ما می توانید از طریق شماره موبایل زیر از طریق تماس و پیامک با ما در ارتباط باشید


09117307688
09117179751

در صورت عدم پاسخ گویی از طریق پیامک با پشتیبان در ارتباط باشید

دسترسی نامحدود

برای کاربرانی که ثبت نام کرده اند

ضمانت بازگشت وجه

درصورت عدم همخوانی توضیحات با کتاب

پشتیبانی

از ساعت 7 صبح تا 10 شب

دانلود کتاب Thermal-Aware Testing of Digital VLSI Circuits and Systems

دانلود کتاب تست آگاهی حرارتی از مدارها و سیستم های VLSI دیجیتال

Thermal-Aware Testing of Digital VLSI Circuits and Systems

مشخصات کتاب

Thermal-Aware Testing of Digital VLSI Circuits and Systems

ویرایش: 1 
نویسندگان:   
سری: CRC focus 
ISBN (شابک) : 9780815378822, 9781351227766 
ناشر: CRC Press 
سال نشر: 2018 
تعداد صفحات: 139 
زبان: English 
فرمت فایل : PDF (درصورت درخواست کاربر به PDF، EPUB یا AZW3 تبدیل می شود) 
حجم فایل: 5 مگابایت 

قیمت کتاب (تومان) : 31,000



کلمات کلیدی مربوط به کتاب تست آگاهی حرارتی از مدارها و سیستم های VLSI دیجیتال: مدارهای مجتمع -- ادغام در مقیاس بسیار بزرگ -- آزمایش., مدارهای مجتمع دیجیتال -- آزمایش., مدارهای مجتمع -- ادغام در مقیاس بسیار بزرگ -- خواص حرارتی., اندازه گیری دما., فن آوری و مهندسی / مکانیک.



ثبت امتیاز به این کتاب

میانگین امتیاز به این کتاب :
       تعداد امتیاز دهندگان : 21


در صورت تبدیل فایل کتاب Thermal-Aware Testing of Digital VLSI Circuits and Systems به فرمت های PDF، EPUB، AZW3، MOBI و یا DJVU می توانید به پشتیبان اطلاع دهید تا فایل مورد نظر را تبدیل نمایند.

توجه داشته باشید کتاب تست آگاهی حرارتی از مدارها و سیستم های VLSI دیجیتال نسخه زبان اصلی می باشد و کتاب ترجمه شده به فارسی نمی باشد. وبسایت اینترنشنال لایبرری ارائه دهنده کتاب های زبان اصلی می باشد و هیچ گونه کتاب ترجمه شده یا نوشته شده به فارسی را ارائه نمی دهد.


توضیحاتی در مورد کتاب تست آگاهی حرارتی از مدارها و سیستم های VLSI دیجیتال



هدف این کتاب برجسته کردن فعالیت‌های تحقیقاتی در حوزه آزمایش‌های گرمایی است. تست حرارتی می تواند هم در سطح مدار و هم در سطح سیستم به کار گرفته شود. این کتاب برای محققانی که بر روی طراحی مبتنی بر قدرت و حرارت و آزمایش تراشه های دیجیتال VLSI کار می کنند مناسب است.


توضیحاتی درمورد کتاب به خارجی

This book aims to highlight the research activities in the domain of thermal-aware testing. Thermal-aware testing can be employed both at circuit level and at system level. This book will be suitable for researchers working on power- and thermal-aware design and the testing of digital VLSI chips.



فهرست مطالب

Content: ContentsDedicationAcknowledgementList of AbbreviationsPrefaceChapter 1: VLSI Testing - An IntroductionTesting in VLSI Design ProcessFault ModelsTest GenerationDesign For TestabilityPower Dissipation During TestEffects of High TemperatureThermal ModelSummaryReferencesChapter 2: Circuit Level Testing2.1 Introduction2.2 Test Vector Reordering2.3 Don\'t Care Filling2.4 Scan Cell Optimization2.5 Built-In Self Test2.6 SummaryReferencesChapter 3: Test Data Compression3.1 Introduction3.2 Dictionary Based Test Data Compression3.3 Dictionary Construction Using Clique Partitioning3.4 Peak Temperature and Compression Tradeoff3.5 Temperature Reduction Without Sacrificing Compression3.6 SummaryReferencesChapter 4: System-on-Chip Testing4.1 Introduction4.2 SoC Test Problem4.3 Superposition Principle Based Thermal Model4.4 Test Scheduling Strategy4.5 Experimental Results4.6 SummaryReferences   Chapter 5: Network-on-Chip Testing5.1 Introduction5.2 Problem Statement5.3 Testtime Of NoC5.4 Peak Temperature Of NoC5.5 PSO Formulation For Preemptive Test Scheduling5.6 Augmentation To The Basic PSO5.7 Overall Algorithm5.8 Experimental Results5.9 SummaryReferencesIndex




نظرات کاربران