دسترسی نامحدود
برای کاربرانی که ثبت نام کرده اند
برای ارتباط با ما می توانید از طریق شماره موبایل زیر از طریق تماس و پیامک با ما در ارتباط باشید
در صورت عدم پاسخ گویی از طریق پیامک با پشتیبان در ارتباط باشید
برای کاربرانی که ثبت نام کرده اند
درصورت عدم همخوانی توضیحات با کتاب
از ساعت 7 صبح تا 10 شب
ویرایش: 1
نویسندگان: Werner Lottermoser
سری:
ISBN (شابک) : 9781315196640, 1351767674
ناشر: Pan Stanford Publishing ; Roca Raton
سال نشر: 2017
تعداد صفحات: 264
زبان: English
فرمت فایل : PDF (درصورت درخواست کاربر به PDF، EPUB یا AZW3 تبدیل می شود)
حجم فایل: 6 مگابایت
کلمات کلیدی مربوط به کتاب نانومواد الکترونی تفاوت: روش ها و برنامه های کاربردی: میکروسکوپ های الکترونی، تجزیه و تحلیل طیف، نانوالکترونیک، علم / عمومی
در صورت تبدیل فایل کتاب The difference electron nanoscope : methods and applications به فرمت های PDF، EPUB، AZW3، MOBI و یا DJVU می توانید به پشتیبان اطلاع دهید تا فایل مورد نظر را تبدیل نمایند.
توجه داشته باشید کتاب نانومواد الکترونی تفاوت: روش ها و برنامه های کاربردی نسخه زبان اصلی می باشد و کتاب ترجمه شده به فارسی نمی باشد. وبسایت اینترنشنال لایبرری ارائه دهنده کتاب های زبان اصلی می باشد و هیچ گونه کتاب ترجمه شده یا نوشته شده به فارسی را ارائه نمی دهد.
این کتاب به نانوسکوپ الکترونی تفاوتی (DEN) می پردازد که اصول آن توسط نویسنده کتاب ابداع و محقق شده است. DEN مبتنی بر ترکیبی هوشمند از دادههای پراش سنجی و طیفسنجی است و از تجسم چگالیهای سه بعدی الکترونهای تفاوت (در مورد ما که از اوربیتالهای سه بعدی ناشی میشود) استفاده میکند تا مقدار کلیدی درگیر، گرادیان میدان الکتریکی (efg) را به دست آورد. با این حال، DEN ماشینی نیست، همانطور که عنوان کتاب ممکن است استنباط کند. این یک برنامه رایانهای است که روی یک سیستم رایانهای سریع اجرا میشود که بیشناحیههای الکترونی اختلاف سهبعدی شناور در فضا و efg مربوطه را به عنوان یک مدل قاب سیم در سلول واحد نمونه درگیر نمایش میدهد. از این نظر، در مقیاس زیر نانومتری عمل میکند (از این رو اصطلاح \"نانوسکوپ\") و تصاویری از شواهد متقارن و فیزیکی غیرقابل مقایسه - و زیبایی تولید میکند.
برای برای اولین بار، پراش سنجی و طیف سنجی برای اثرات هم
افزایی رایج که ممکن است به درک بهتر برهمکنش های الکتریکی و
مغناطیسی در یک کریستال کمک کند، ادغام شده اند. اشتقاق تجربی
کمیت رایج، efg، به نمونههای حاوی آهن محدود نمیشود، همانطور
که استفاده از طیفسنجی Mössbauer ممکن است استنباط کند، اما
میتواند توسط رزونانس چهار قطبی هستهای که محدود به هستههای
خاص نیست نیز تعیین شود. از این رو، DEN را می توان برای تعداد
زیادی از نمونه های علمی جالب استفاده کرد، زیرا روش اصلی
درگیر، پراش سنجی به معنای گسترده، هیچ محدودیت کلی ندارد.
بنابراین این یک روش نسبتاً جهانی است و تک نگاری ممکن است به
توزیع گسترده این روش در دنیای علمی کمک کند. آیا کسی قبلا یک
اوربیتال واقعی دیده است: توزیع مداری واقعی در یک سلول واحد
کریستالی همراه با بیضی تانسور efg آن؟ در این کتاب می توان آن
را دید.
This book deals with the difference electron nanoscope (DEN), whose principles have been invented and realised by the book author. The DEN is based on a smart combination of diffractometric and spectroscopic data and uses a visualisation of three-dimensional difference electron densities (in our case stemming from 3d orbitals) in order to obtain the key quantity involved, the electric field gradient (efg). However, the DEN is no machine, as the title of the book might infer. It is a computer program running on a fast computer system displaying 3D difference electron hyperareas floating in space and the relevant efg as a wire frame model within the unit cell of the sample involved. In this sense, it acts on a sub-nanometer scale (hence the term "nanoscope") and generates images of uncompared symmetrical and physical evidence―and beauty.
For the first time, diffractometry and spectroscopy have been
integrated for the common synergetic effects that may
contribute to a better understanding of electric and magnetic
interactions in a crystal. The experimental derivation of the
common quantity, the efg, is not confined to iron-containing
samples, as the use of Mössbauer spectroscopy might infer,
but can also be determined by nuclear quadrupole resonance
that is not confined to special nuclides. Hence, the DEN can
be applied to a huge multitude of scientifically interesting
specimens since the main method involved, diffractometry in a
wide sense, has no general limitations at all. So it is a
rather universal method, and the monograph might contribute
to a wide distribution of the method in the scientific world.
Has anyone seen a real orbital before: a real orbital
distribution in a crystal unit cell together with its efg
tensor ellipsoid? In this book, one can see it.
Content: Cover
Half Title
Title Page
Copyright Page
Table of Contents
Preface
Introduction: What Is a DEN
1: An Overview on the Methods Involved
2: The Basic Quantity: The Electric Field Gradient
3: The Three Pillars of the DEN Method
3.1 The Experimental Methods to Derive a "Measured" efg
3.1.1 Fundamentals of Mossbauer Spectroscopy
3.1.1.1 Features and function of a Mossbauer spectrometer
3.1.1.2 Evaluation of spectra
3.1.1.3 Calibration and folding
3.1.1.4 Sample preparation
3.1.1.5 Historical background
3.1.1.6 The Nobel Prize winner Rudolf L. Mossbauer 3.1.1.7 Later contributions to...3.1.2 Single Crystal Mossbauer Spectroscopy
3.1.2.1 Preparation of the single crystal sample
3.1.2.2 Orientation of the single crystal individuals
3.1.2.3 Manufacturing of the oriented single crystal samples
3.1.3 Nuclear Magnetic Resonance and Nuclear Quadrupole Resonance
3.1.3.1 Basics
3.2 The Full Quantitative Method to Calculate an efg from First Principles
3.2.1 Fundamentals of Theoretical Approaches: Density Functional Theory
3.2.1.1 Historical background
3.2.1.2 The Nobel Prize winner Walter Kohn
3.2.1.3 The Nobel Prize winner John A. Pople 3.2.1.4 The self-consistent-charge Xa method3.2.1.5 The evaluation of the multi-centre integrals
3.2.1.6 The Program WIEN2k by Peter Blaha and Karlheinz Schwarz
3.3 The Semi-Quantitative Approach to Obtain an efg from Diffractometer Data
3.3.1 Fundamentals of Diffractometry
3.3.1.1 Bragg procedure
3.3.1.2 Powder method
3.3.1.3 Laue procedure
3.3.1.4 Theoretical background of some crystallographic properties
3.3.1.5 Historical background
3.3.1.6 The Nobel Prize winner Max von Laue
3.3.1.7 Later contributions
3.3.2 X-Ray Diffraction
3.3.2.1 The Buerger Precession Camera 3.3.2.2 The intensity distribution of the reflections3.3.2.3 Generalization of the above example
3.3.3 Synchrotron Diffraction
3.3.4 Neutron Diffraction
3.3.4.1 The diffracted intensities
3.3.4.2 Corrections of observables
3.3.4.3 Sample specific corrections
3.3.4.4 The neutron diffractometers
3.3.4.5 Preparation of the sample
3.3.4.6 Experiments at the D15 device for integrated neutrons
3.3.4.7 Experiments at the D3 for spin-polarized neutrons
4: The Extension of Pillar 3: The DEN Method
4.1 The Principal Idea
4.2 The Hardware Components
4.3 Description of the Software 4.3.1 The Commercial Software Frame IDL4.3.2 The Preparing Crystallographic Routine EVOX
4.3.3 The Input of the Experimental and Calculated Structure Factors
4.3.4 The Main Program DEDLOT and Its Mode of Operation
4.3.5 The Routine to Identify Series Termination Errors
5: Application of the DEN on a Representative Example
5.1 Fe2SiO4: Description of Its Crystallographic and Magnetic Properties
5.2 Derivation of the Experimental efg by SCMBS
5.3 Calculation of the Full Quantitative efg by the DFT Method
5.4 Establishing the Semi-Quantitative efg with the DEN