دسترسی نامحدود
برای کاربرانی که ثبت نام کرده اند
برای ارتباط با ما می توانید از طریق شماره موبایل زیر از طریق تماس و پیامک با ما در ارتباط باشید
در صورت عدم پاسخ گویی از طریق پیامک با پشتیبان در ارتباط باشید
برای کاربرانی که ثبت نام کرده اند
درصورت عدم همخوانی توضیحات با کتاب
از ساعت 7 صبح تا 10 شب
ویرایش:
نویسندگان: Kenneth P. Parker (auth.)
سری:
ISBN (شابک) : 9780792382775, 9780306476563
ناشر: Springer US
سال نشر: 2002
تعداد صفحات: 306
زبان: English
فرمت فایل : PDF (درصورت درخواست کاربر به PDF، EPUB یا AZW3 تبدیل می شود)
حجم فایل: 18 مگابایت
کلمات کلیدی مربوط به کتاب کتابچه اسکن مرزی: آنالوگ و دیجیتال: مدارها و سیستم ها، مهندسی الکترونیک و کامپیوتر، مهندسی به کمک کامپیوتر (CAD، CAE) و طراحی
در صورت تبدیل فایل کتاب The Boundary-Scan Handbook: Analog and Digital به فرمت های PDF، EPUB، AZW3، MOBI و یا DJVU می توانید به پشتیبان اطلاع دهید تا فایل مورد نظر را تبدیل نمایند.
توجه داشته باشید کتاب کتابچه اسکن مرزی: آنالوگ و دیجیتال نسخه زبان اصلی می باشد و کتاب ترجمه شده به فارسی نمی باشد. وبسایت اینترنشنال لایبرری ارائه دهنده کتاب های زبان اصلی می باشد و هیچ گونه کتاب ترجمه شده یا نوشته شده به فارسی را ارائه نمی دهد.
Boundary-Scan که به طور رسمی با نام استاندارد IEEE/ANSI
1149.1-1990 شناخته می شود، مجموعه ای از قوانین طراحی است که
عمدتاً در سطح مدار مجتمع (IC) اعمال می شود که به نرم افزار
اجازه می دهد تا هزینه های رو به رشد طراحی، تولید و آزمایش سیستم
های دیجیتال را کاهش دهد. یکی از مزایای اساسی این استاندارد،
توانایی آن در تبدیل مشکلات بسیار دشوار تست برد مدار چاپی است که
فقط با روشهای آزمایش موقت مورد حمله قرار میگیرند، به مشکلات
ساختار یافتهای که نرمافزار میتواند به راحتی با آنها مقابله
کند.
استانداردهای IEEE، وقتی توسط مهندسان مجرب پذیرفته میشوند،
موجوداتی زنده هستند که به سرعت رشد میکنند و تغییر میکنند.
راهنمای اسکن مرزی،نسخه دوم: آنالوگ و دیجیتال
در نظر گرفته شده است تا این استانداردها را به زبان انگلیسی ساده
توصیف کند تا قوانین سختگیرانه و متینی که در استانداردها با آن
مواجه می شوند.
استاندارد 1149.1 اکنون بیش از هشت سال قدمت دارد و زیرساخت بزرگی
برای پشتیبانی در صنعت الکترونیک دارد. امروزه اکثر آی سی های
سفارشی و دستگاه های قابل برنامه ریزی دارای 1149.1 هستند. برنامه
های کاربردی جدید برای پروتکل 1149.1 معرفی شده اند که مهمترین
آنها قابلیت "پیکربندی درون سیستم" (ISC) برای آرایه های دروازه
قابل برنامه ریزی میدانی (FPGA) است.
Boundary-Scan Handbook، نسخه دوم: آنالوگ و دیجیتال
اطلاعات مربوط به IEEE Std. 1149.1، از جمله مکمل 1993 که عملکرد
سیلیکونی جدید اضافه کرد و مکمل 1994 که تعریف زبان BSDL را رسمی
کرد. علاوه بر این، نسخه دوم جدید اطلاعات کاملاً جدیدی را در
مورد استاندارد 1149.4 جدید تأیید شده ارائه می دهد که اغلب به آن
"Analog Boundary-Scan" گفته می شود. در کنار این، بحث
اندازهشناسی آنالوگ برای استفاده از 1149.1 مورد نیاز است. این
یک مجموعه ابزار ضروری برای آزمایش بردها و سیستم های آینده را
تشکیل می دهد.
Boundary-Scan, formally known as IEEE/ANSI Standard
1149.1-1990, is a collection of design rules applied
principally at the Integrated Circuit (IC) level that allow
software to alleviate the growing cost of designing, producing
and testing digital systems. A fundamental benefit of the
standard is its ability to transform extremely difficult
printed circuit board testing problems that could only be
attacked with ad-hoc testing methods into well-structured
problems that software can easily deal with.
IEEE standards, when embraced by practicing engineers, are
living entities that grow and change quickly. The
Boundary-Scan Handbook,Second Edition: Analog and
Digital is intended to describe these standards in simple
English rather than the strict and pedantic legalese
encountered in the standards.
The 1149.1 standard is now over eight years old and has a large
infrastructure of support in the electronics industry. Today,
the majority of custom ICs and programmable devices contain
1149.1. New applications for the 1149.1 protocol have been
introduced, most notably the `In-System Configuration' (ISC)
capability for Field Programmable Gate Arrays (FPGAs).
The Boundary-Scan Handbook, Second Edition: Analog and
Digital updates the information about IEEE Std. 1149.1,
including the 1993 supplement that added new silicon
functionality and the 1994 supplement that formalized the BSDL
language definition. In addition, the new second edition
presents completely new information about the newly approved
1149.4 standard often termed `Analog Boundary-Scan'. Along with
this is a discussion of Analog Metrology needed to make use of
1149.1. This forms a toolset essential for testing boards and
systems of the future.
Preliminaries......Page 1
TABLE OF CONTENTS......Page 8
List of Figures......Page 14
List of Table......Page 19
List of Design-for-Test Rules......Page 20
Preface to the First Edition......Page 22
Preface to the Second Edition......Page 24
Acknowledgement......Page 26
1 Boundary-Scan Basics and Vocabulary......Page 28
2 Boundary-Scan Description Language (BSDL)......Page 76
3 Boundary-Scan Testing......Page 132
4 Advanced Boundary-Scan Topics......Page 172
5 Design for Boundary-Scan Test......Page 194
6 Analog Measurement Basics......Page 224
7 IEEE 1149.4 Analog Boundary-Scan......Page 248
APPENDIX A: BSDL Syntax Specifications......Page 290
Bibliography......Page 302
Index......Page 308