ورود به حساب

نام کاربری گذرواژه

گذرواژه را فراموش کردید؟ کلیک کنید

حساب کاربری ندارید؟ ساخت حساب

ساخت حساب کاربری

نام نام کاربری ایمیل شماره موبایل گذرواژه

برای ارتباط با ما می توانید از طریق شماره موبایل زیر از طریق تماس و پیامک با ما در ارتباط باشید


09117307688
09117179751

در صورت عدم پاسخ گویی از طریق پیامک با پشتیبان در ارتباط باشید

دسترسی نامحدود

برای کاربرانی که ثبت نام کرده اند

ضمانت بازگشت وجه

درصورت عدم همخوانی توضیحات با کتاب

پشتیبانی

از ساعت 7 صبح تا 10 شب

دانلود کتاب The Boundary — Scan Handbook

دانلود کتاب کتاب مرزی - اسکن

The Boundary — Scan Handbook

مشخصات کتاب

The Boundary — Scan Handbook

ویرایش: 3 
نویسندگان:   
سری:  
ISBN (شابک) : 9781461350415, 9781461503675 
ناشر: Springer US 
سال نشر: 2003 
تعداد صفحات: 392 
زبان: English 
فرمت فایل : PDF (درصورت درخواست کاربر به PDF، EPUB یا AZW3 تبدیل می شود) 
حجم فایل: 9 مگابایت 

قیمت کتاب (تومان) : 39,000



کلمات کلیدی مربوط به کتاب کتاب مرزی - اسکن: مدارها و سیستم ها، مهندسی برق، مهندسی به کمک کامپیوتر (CAD، CAE) و طراحی



ثبت امتیاز به این کتاب

میانگین امتیاز به این کتاب :
       تعداد امتیاز دهندگان : 17


در صورت تبدیل فایل کتاب The Boundary — Scan Handbook به فرمت های PDF، EPUB، AZW3، MOBI و یا DJVU می توانید به پشتیبان اطلاع دهید تا فایل مورد نظر را تبدیل نمایند.

توجه داشته باشید کتاب کتاب مرزی - اسکن نسخه زبان اصلی می باشد و کتاب ترجمه شده به فارسی نمی باشد. وبسایت اینترنشنال لایبرری ارائه دهنده کتاب های زبان اصلی می باشد و هیچ گونه کتاب ترجمه شده یا نوشته شده به فارسی را ارائه نمی دهد.


توضیحاتی در مورد کتاب کتاب مرزی - اسکن



در فوریه 1990، فرآیند رای گیری برای استاندارد پیشنهادی IEEE P1149.1 با ایجاد IEEE Std 1149.1-1990 تکمیل شد. بعداً در همان تابستان، در زمان بی سابقه، این استاندارد به عنوان یک استاندارد ANSI نیز تأیید شد. این بیش از شش سال تلاش همکاری فشرده توسط گروه متنوعی از مردم را تکمیل کرد که دیدگاه مشترکی در مورد حل برخی از مشکلات آزمایشی جدی که اکنون وجود دارد و به طور پیوسته در حال بدتر شدن است، دارند. در اوایل این فرآیند، شخصی از من پرسید که آیا فکر می‌کنم تلاش P1l49.l هرگز به ثمر می‌رسد. 1 تا حدودی با ملایمت پاسخ داد که \"این حدس هر کسی بود\". خب، این حدس کسی نبود، بلکه اعتقاد چند نفر به این گزاره بود که اگر یک صنعت چند وجهی بتواند روی استانداردی که همه باید از آن پیروی کنند، توافق کنند، بسیاری از مشکلات آزمایش حل می‌شوند. چهار نفر از این افراد برجسته هستند. آنها هری بلیکر، کالین ماندر، رودهام تولوس و لی وتسل هستند. از آنجایی که من متقاعد شده‌ام که استاندارد 1149.1 مهم‌ترین پیشرفت آزمایشی در 20 سال گذشته است، من شخصاً از آنها و همه افرادی که در ایجاد آن بر روی گروه‌های کاری مختلف تلاش کردند، تشکر می‌کنم.


توضیحاتی درمورد کتاب به خارجی

In February of 1990, the balloting process for the IEEE proposed standard P1149.1 was completed creating IEEE Std 1149.1-1990. Later that summer, in record time, the standard won ratification as an ANSI standard as well. This completed over six years of intensive cooperative effort by a diverse group of people who share a vision on solving some of the severe testing problems that exist now and are steadily getting worse. Early in this process, someone asked me if 1 thought that the P1l49.l effort would ever bear fruit. 1 responded somewhat glibly that "it was anyone's guess". Well, it wasn't anyone's guess, but rather the faith of a few individuals in the proposition that many testing problems could be solved if a multifaceted industry could agree on a standard for all to follow. Four of these individuals stand out; they are Harry Bleeker, Colin Maunder, Rodham Tulloss, and Lee Whetsel. In that I am convinced that the 1149.1 standard is the most significant testing development in the last 20 years, I personally feel a debt of gratitude to them and all the people who labored on the various Working Groups in its creation.



فهرست مطالب

Front Matter....Pages i-xxvii
Boundary-Scan Basics and Vocabulary....Pages 1-47
Boundary-Scan Description Language (BSDL)....Pages 49-106
Boundary-Scan Testing....Pages 107-147
Advanced Boundary-Scan Topics....Pages 149-169
Design for Boundary-Scan Test....Pages 171-200
Analog Measurement Basics....Pages 201-224
IEEE 1149.4: Analog Boundary-Scan....Pages 225-266
IEEE 1149.6: Testing Advanced I/O....Pages 267-318
IEEE 1532: In-System Configuration....Pages 319-343
Back Matter....Pages 345-373




نظرات کاربران