دسترسی نامحدود
برای کاربرانی که ثبت نام کرده اند
برای ارتباط با ما می توانید از طریق شماره موبایل زیر از طریق تماس و پیامک با ما در ارتباط باشید
در صورت عدم پاسخ گویی از طریق پیامک با پشتیبان در ارتباط باشید
برای کاربرانی که ثبت نام کرده اند
درصورت عدم همخوانی توضیحات با کتاب
از ساعت 7 صبح تا 10 شب
ویرایش: 4
نویسندگان: Kenneth P. Parker (auth.)
سری:
ISBN (شابک) : 9783319011738, 9783319011745
ناشر: Springer International Publishing
سال نشر: 2016
تعداد صفحات: 581
زبان: English
فرمت فایل : PDF (درصورت درخواست کاربر به PDF، EPUB یا AZW3 تبدیل می شود)
حجم فایل: 12 مگابایت
کلمات کلیدی مربوط به کتاب کتاب راهنمای اسکن مرزی: مدارها و سیستم ها، معماری پردازنده، نیمه هادی ها
در صورت تبدیل فایل کتاب The Boundary-Scan Handbook به فرمت های PDF، EPUB، AZW3، MOBI و یا DJVU می توانید به پشتیبان اطلاع دهید تا فایل مورد نظر را تبدیل نمایند.
توجه داشته باشید کتاب کتاب راهنمای اسکن مرزی نسخه زبان اصلی می باشد و کتاب ترجمه شده به فارسی نمی باشد. وبسایت اینترنشنال لایبرری ارائه دهنده کتاب های زبان اصلی می باشد و هیچ گونه کتاب ترجمه شده یا نوشته شده به فارسی را ارائه نمی دهد.
Front Matter....Pages i-xxxiv
Front Matter....Pages 1-1
Boundary-Scan Basics and Vocabulary....Pages 3-48
Boundary-Scan Description Language (BSDL)....Pages 49-107
Boundary-Scan Testing....Pages 109-148
Advanced Boundary-Scan Topics....Pages 149-169
Design for Boundary-Scan Test....Pages 171-201
Analog Measurement Basics....Pages 203-226
IEEE 1149.4: Analog Boundary-Scan....Pages 227-267
IEEE 1149.6: Testing Advanced I/O....Pages 269-320
IEEE 1532: In-System Configuration....Pages 321-342
IEEE 1149.8.1: Passive Components....Pages 343-378
Front Matter....Pages 379-380
IEEE 1149.1: The 2013 Revision....Pages 381-453
IEEE 1149.6: The 2015 Revision....Pages 455-490
Back Matter....Pages 491-552