دسترسی نامحدود
برای کاربرانی که ثبت نام کرده اند
دانلود کتاب Testverfahren in der Mikroelektronik: Methoden und Werkzeuge
دانلود کتاب روش های آزمایش در میکروالکترونیک: روش ها و ابزارها
مشخصات کتاب
Testverfahren in der Mikroelektronik: Methoden und Werkzeuge
ویرایش: نویسندگان: Dr. -Ing. Wilfried Daehn (auth.), Dr. -Ing. Wilfried Daehn (eds.) سری: Mikroelektronik ISBN (شابک) : 9783540617280, 9783642605598 ناشر: Springer Berlin Heidelberg سال نشر: 1997 تعداد صفحات: 224 زبان: German فرمت فایل : PDF (درصورت درخواست کاربر به PDF، EPUB یا AZW3 تبدیل می شود) حجم فایل: 14 مگابایت
قیمت کتاب (تومان) : 47,000
کلمات کلیدی مربوط به کتاب روش های آزمایش در میکروالکترونیک: روش ها و ابزارها: الکترونیک و میکروالکترونیک، ابزار دقیق
در صورت تبدیل فایل کتاب Testverfahren in der Mikroelektronik: Methoden und Werkzeuge به فرمت های PDF، EPUB، AZW3، MOBI و یا DJVU می توانید به پشتیبان اطلاع دهید تا فایل مورد نظر را تبدیل نمایند.
توجه داشته باشید کتاب روش های آزمایش در میکروالکترونیک: روش ها و ابزارها نسخه زبان اصلی می باشد و کتاب ترجمه شده به فارسی نمی باشد. وبسایت اینترنشنال لایبرری ارائه دهنده کتاب های زبان اصلی می باشد و هیچ گونه کتاب ترجمه شده یا نوشته شده به فارسی را ارائه نمی دهد.
توضیحاتی در مورد کتاب روش های آزمایش در میکروالکترونیک: روش ها و ابزارها
پذیرش راه حل های سیستم میکروالکترونیک در مناطق صنعتی و خصوصی کاربرد تا حد زیادی به دقت و قابلیت اطمینان مدارهای الکترونیکی مورد استفاده بستگی دارد. این را دیگر نمی توان تنها با بهبود در تولید تضمین کرد. تنها از طریق آزمایش مداوم همه مجموعه ها و آی سی های تولید شده می توان 400 برابر الزامات سخت گیرانه تر برای رهایی از عیوب را برآورده کرد. پیچیدگی مدارهای VLSI امروزی باعث شده است که سهم هزینه های تست در کل هزینه های ساخت یک سیستم دیجیتال به سرعت افزایش یابد. این کتاب مروری بر الگوریتم‌ها، روش‌ها و ابزارهای مقابله با این چالش‌ها ارائه می‌کند. فرمول دقیق ریاضی تکلیف آزمون، رشته مشترکی است که در تمام فصول کتاب، از مدل‌سازی خطا، از طریق محاسبه الگوی آزمون، شبیه‌سازی خطا و تجزیه و تحلیل تست‌پذیری، تا طراحی مدار پسند، اجرا می‌شود.
توضیحاتی درمورد کتاب به خارجی
Die Akzeptanz mikroelektronischer Systeml?sungen in industriellen und privaten Anwendungsbereichen h?ngt in starkem Ma?e von der Fehlerfreiheit und Zuverl?ssigkeit der eingesetzten elektronischen Schaltungen ab. Dies ist durch Verbesserungen in der Fertigung allein nicht mehr zu gew?hrleisten. Nur durch konsequentes Testen aller gefertigten Baugruppen und ICs k?nnen die um den Faktor 400 sch?rferen Anforderungen an die Fehlerfreiheit erf?llt werden. Die Komplexit?t heutiger VLSI-Schaltungen hat dabei den Anteil der Testkosten an den gesamten Herstellungskosten eines digitalen Systems in rasanter Weise steigen lassen. Das Buch gibt einen ?berblick ?ber die Algorithmen, Methoden und Werkzeuge, um diesen Herausforderungen zu begegnen. Die mathematisch exakte Formulierung der Testaufgabe zieht sich dabei von Beginn an als roter Faden durch alle Kapitel des Buches, beginnend bei der Fehlermodellierung ?ber die Testmusterberechnung, Fehlersimulation und Testbarkeitsanalyse hin zum testfreundlichen Schaltungsentwurf.
فهرست مطالب
Front Matter....Pages I-X
Einführung und Abgrenzung....Pages 1-9
Fehlermodelle....Pages 11-26
Testmusterberechnung....Pages 27-68
Fehlersimulation....Pages 69-91
Testbarkeitsanalyse....Pages 93-124
Testfreundlicher Entwurf....Pages 125-141
Selbsttest integrierter Schaltungen....Pages 143-200
Back Matter....Pages 201-219
نظرات کاربران
کتاب های تصادفی
دانلود کتاب from Hype to Real Hope: Haider & Aziz
دانلود کتاب What Every Engineer Should Know about Computational Techniques of Finite Element Analysis, Second Edition
