Test und Testbarkeit digitaler Schaltungen

این آزمایش نشان‌دهنده مرحله مهمی در فرآیند طراحی و تولید مدارهای دیجیتال است، زیرا اجازه می‌دهد تا عملکرد مدار طراحی‌شده بر روی یک نمونه تولید شده با استفاده از سیگنال‌های ورودی خاص تأیید شود. این وظیفه به طور یکسان برای منطق گسسته و مدارهای مجتمع اعمال می شود. با این حال، به دلیل تعداد محدود اتصالات خارجی در مدارهای مجتمع بزرگتر، وظیفه در نظر گرفتن جنبه‌های آزمایش‌پذیری در طراحی تقریباً اجتناب‌ناپذیر است، زیرا در غیر این صورت آزمایش کافی اغلب نمی‌تواند انجام شود یا فقط می‌توان آن را با سختی زیاد انجام داد. . این به دلیل \"دسترسی\" مدارهای مجتمع است که توسط تعداد اتصالات خارجی محدود شده است. به این دلایل و دلایل دیگر، آزمایش مدارهای دیجیتال در ارتباط با ملاحظات در مورد آزمایش پذیری یک مدار منطقی است. به طور سنتی، آزمایش مدارهای دیجیتال حول سطح طراحی منطقی سازماندهی می شود، یعنی سطح منطقی نقطه شروع آماده سازی تست و اجرای آزمایش است. امروزه نیز رویکردهایی وجود دارند که از سطوح بالاتر به صورت سلسله مراتبی شروع می شوند، اما هیچ روش شناختی به طور کلی در این زمینه ایجاد نشده است، همانطور که در مورد سطح منطقی وجود دارد. با این حال، برای منطقه آزمایش نیز مهم است که پیچیدگی فزاینده مدارها را با استفاده از روش های سلسله مراتبی برای آزمایش آنها در نظر بگیرد. نیاز به آزمایش یک مدار چندین بار در طول ایجاد آن، البته با اهداف متفاوت، ایجاد می‌شود.

Der Test stellt einen wichtigen Schritt im Entwurfs-und Herstellungsablauf digitaler Schal­ tungen dar, indem er unter Anwendung bestimmter Eingangssignale die Funktion einer ent­ worfenen Schaltung an einem hergestellten Exemplar zu verifizieren erlaubt. Diese Aufga­ bensteIlung gilt gleichermaßen für diskret aufgebaute Logik wie für integrierte Schaltungen. Doch kommt wegen der begrenzten Zahl der externen Anschlüsse bei größeren integrierten Schaltungen fast zwangsläufig die Aufgabe hinzu, Testbarkeitsaspekte beim Entwurf zu berücksichtigen, da andernfalls ein hinreichender Test häufig nicht oder nur mit größeren Schwierigkeiten durchzuführen ist. Das liegt an der "Zugänglichkeit" integrierter Schal­ tungen, die durch die Anzahl externer Anschlüsse beschränkt ist. Aus diesen und anderen Gründen ist der Test digitaler Schaltungen sinnvollerweise zusammen mit Überlegungen zur Testbarkeit einer Schaltung zu sehen. Traditionell ist der Test digitaler Schaltungen um die logische Entwurfsebene herum ange­ ordnet, d.h. daß die logische Ebene den Ausgangspunkt für die Testvorbereitung und die Testdurchführung darstellt. Es gibt darüber hinaus heute auch Ansätze, die von hierar­ chisch höheren Ebenen ausgehen, doch hat sich bisher in diesem Bereich keine allgemein anerkannte Methodik etabliert, wie das für die logische Ebene der Fall ist. Es ist jedoch auch für den Testbereich wichtig, der wachsenden Komplexität der Schaltungen dadurch Rechnung zu tragen, daß man hierarchische Methoden für deren Prüfung einsetzt. Die Notwendigkeit, eine Schaltung zu prüfen, ergibt sich im Rahmen ihrer Entstehung mehrfach, wenn auch mit unterschiedlicher Zielsetzung.