دسترسی نامحدود
برای کاربرانی که ثبت نام کرده اند
برای ارتباط با ما می توانید از طریق شماره موبایل زیر از طریق تماس و پیامک با ما در ارتباط باشید
در صورت عدم پاسخ گویی از طریق پیامک با پشتیبان در ارتباط باشید
برای کاربرانی که ثبت نام کرده اند
درصورت عدم همخوانی توضیحات با کتاب
از ساعت 7 صبح تا 10 شب
ویرایش:
نویسندگان: Sun. Yichuang(eds.)
سری:
ISBN (شابک) : 9781615833153, 9780863417450
ناشر: Institution of Engineering and Technology
سال نشر: 2008
تعداد صفحات: 411
زبان: English
فرمت فایل : PDF (درصورت درخواست کاربر به PDF، EPUB یا AZW3 تبدیل می شود)
حجم فایل: 5 مگابایت
در صورت تبدیل فایل کتاب Test and Diagnosis of Analogue, Mixed-Signal and RF Integrated Circuits - The System on Chip Approach به فرمت های PDF، EPUB، AZW3، MOBI و یا DJVU می توانید به پشتیبان اطلاع دهید تا فایل مورد نظر را تبدیل نمایند.
توجه داشته باشید کتاب تست و تشخیص مدارهای مجتمع آنالوگ، سیگنال مختلط و RF - رویکرد سیستم بر روی تراشه نسخه زبان اصلی می باشد و کتاب ترجمه شده به فارسی نمی باشد. وبسایت اینترنشنال لایبرری ارائه دهنده کتاب های زبان اصلی می باشد و هیچ گونه کتاب ترجمه شده یا نوشته شده به فارسی را ارائه نمی دهد.
این کتاب یک بحث جامع در مورد آزمایش خودکار، تشخیص و تنظیم مدارها و سیستم های مجتمع آنالوگ، سیگنال مختلط و RF در یک منبع واحد ارائه می دهد. این کتاب شامل یازده فصل است که توسط محققان برجسته در سراسر جهان نوشته شده است. علاوه بر مفاهیم و تکنیکهای اساسی، این کتاب بهطور نظاممند، جدیدترین و جهتگیریهای تحقیقاتی آینده این حوزهها را گزارش میدهد. طیف کاملی از اجزای مدار پوشش داده شده است و مسائل تست نیز از منظر SoC مورد بررسی قرار می گیرد.
This book provides a comprehensive discussion of automatic testing, diagnosis and tuning of analogue, mixed-signal and RF integrated circuits and systems in a single source. The book contains eleven chapters written by leading researchers world-wide. As well as fundamental concepts and techniques, the book reports systematically the state-of-the-arts and future research directions of these areas. A complete range of circuit components are covered and test issues are also addressed from the SoC perspective.
Content:
Front Matter
Preface
Table of Contents
1. Fault Diagnosis of Linear and Non-Linear Analogue Circuits
2. Symbolic Function Approaches for Analogue Fault Diagnosis
3. Neural-Network-Based Approaches for Analogue Circuit Fault Diagnosis
4. Hierarchical/Decomposition Techniques for Large-Scale Analogue Diagnosis
5. DFT and BIST Techniques for Analogue and Mixed-Signal Test
6. Design-for-Testability of Analogue Filters
7. Test of A/D Converters: From Converter Characteristics to Built-in Self-Test Proposals
8. Test of ΣΔ Converters
9. Phase-Locked Loop Test Methodologies: Current Characterization and Production Test Practices
10. On-Chip Testing Techniques for RF Wireless Transceiver Systems and Components
11. Tuning and Calibration of Analogue, Mixed-Signal and RF Circuits
Index