دسترسی نامحدود
برای کاربرانی که ثبت نام کرده اند
برای ارتباط با ما می توانید از طریق شماره موبایل زیر از طریق تماس و پیامک با ما در ارتباط باشید
در صورت عدم پاسخ گویی از طریق پیامک با پشتیبان در ارتباط باشید
برای کاربرانی که ثبت نام کرده اند
درصورت عدم همخوانی توضیحات با کتاب
از ساعت 7 صبح تا 10 شب
ویرایش:
نویسندگان: J.H. Richardson (Eds.)
سری: Materials science and technology
ISBN (شابک) : 9780125878043, 0323147569
ناشر: Academic Press
سال نشر: 1978
تعداد صفحات: 497
زبان: English
فرمت فایل : PDF (درصورت درخواست کاربر به PDF، EPUB یا AZW3 تبدیل می شود)
حجم فایل: 11 مگابایت
در صورت تبدیل فایل کتاب Systematic Materials Analysis به فرمت های PDF، EPUB، AZW3، MOBI و یا DJVU می توانید به پشتیبان اطلاع دهید تا فایل مورد نظر را تبدیل نمایند.
توجه داشته باشید کتاب تجزیه و تحلیل مواد سیستماتیک نسخه زبان اصلی می باشد و کتاب ترجمه شده به فارسی نمی باشد. وبسایت اینترنشنال لایبرری ارائه دهنده کتاب های زبان اصلی می باشد و هیچ گونه کتاب ترجمه شده یا نوشته شده به فارسی را ارائه نمی دهد.
Content:
MATERIALS SCIENCE AND TECHNOLOGY, Page ii
Front Matter, Page iii
Copyright, Page iv
Dedication, Page v
List of Contributors, Pages xi-xii
Preface, Pages xiii-xiv
Acknowledgments, Page xv
Contents of Other Volumes, Pages xvii-xviii
CHAPTER 30 - Atomic-Absorption and Atomic-Fluorescence Flame Photometry, Pages 1-51, Juan Ramírez-Muñoz
CHAPTER 31 - Ion Microprobe, Pages 53-89, T.A. Whatley, E. Davidson
CHAPTER 32 - Mass Spectrometry, Pages 91-131, Ronald F. Skinner, Elaine Heron
CHAPTER 33 - Molecular Weight Determinations, Pages 133-151, R.V. Peterson
CHAPTER 34 - Neutron Diffractometry, Pages 153-182, Melvin H. Mueller
CHAPTER 35 - Particulate Characterization, Pages 183-203, Shepard Kinsman
CHAPTER 36 - Polarimetry, Pages 205-224, J.H. Richardson
CHAPTER 37 - Polarography and Related Methods, Pages 225-268, Petr Zuman
CHAPTER 38 - Methods for the Detection of Noncentrosymmetry in Solids, Pages 269-342, S.K. Kurtz, J.P. Dougherty
CHAPTER 39 - Technique of Materials Analysis—Dynamic Thermal Analysis, Pages 343-405, E.M. Barrall II, R.J. Gritter
CHAPTER 40 - Transmission Electron Microscopy, Pages 407-475, James C. Williams, Neil Paton
Author Index, Pages 477-487
Subject Index, Pages 488-493