Surfaces and Interfaces of Electronic Materials

ویرایش:  
نویسندگان: Leonard J. Brillson(auth.)  
سری:  
ISBN (شابک) : 9783527409150, 9783527665709 
ناشر:  
سال نشر: 2010 
تعداد صفحات: 576 
زبان: English 
فرمت فایل : PDF (درصورت درخواست کاربر به PDF، EPUB یا AZW3 تبدیل می شود) 
حجم فایل: 8 مگابایت 

قیمت کتاب (تومان) : 30,000

یک کتاب درسی سطح پیشرفته که ساختار هندسی، شیمیایی و الکترونیکی مواد الکترونیکی و کاربردهای آن‌ها را در دستگاه‌های مبتنی بر سطوح نیمه‌رسانا، رابط‌های فلزی-نیمه‌رسانا، و اتصالات ناهمگون نیمه‌رساناها پوشش می‌دهد.

با مبانی اندازه‌گیری‌های الکتریکی روی رابط‌های نیمه‌رسانا شروع می‌شود، سپس اهمیت کنترل خواص الکتریکی ماکروسکوپی با تکنیک‌های مقیاس اتمی را شرح می‌دهد. فصل‌های بعدی طیف وسیعی از تکنیک‌های سطح و رابط موجود برای توصیف خواص الکترونیکی، نوری، شیمیایی و ساختاری مواد الکترونیکی از جمله نیمه‌رساناها، عایق‌ها، نانوساختارها و مواد آلی را ارائه می‌کنند. فیزیک و شیمی اساسی زیربنای هر تکنیک با ارجاع به معتبرترین منابع برای بحث های جامع تر، با عمق کافی توضیح داده شده است، در حالی که نمونه های متعددی در سراسر برای نشان دادن کاربردهای هر تکنیک ارائه شده است.

با خواندن کلی آن. فهرست ها، نقل قول های گسترده به متن، و مجموعه مسائل ضمیمه شده به تمام فصل ها، این برای دانشجویان مهندسی برق، فیزیک و علم مواد ایده آل است. این به همان اندازه به عنوان مرجعی برای فیزیکدانان، علم مواد و مهندسین برق و الکترونیک درگیر در علوم سطح و رابط، پردازش نیمه هادی ها و مدل سازی و طراحی دستگاه عمل می کند.
این محصول مشترک Wiley و IEEE است

* راهنمای راه حل های رایگان در دسترس برای اساتید در www.wiley-vch.de/supplements/

محتوا:
فصل 1 مقدمه (صفحات 1-8):
فصل 2 سابقه تاریخی (صفحات 9-17):
فصل 3 اندازه گیری های الکتریکی (صفحات 19-35):
فصل 4 وضعیت های واسط (صفحه های 37-65): < br>فصل 5 فناوری خلاء فوق العاده بالا (صفحات 67-82):
فصل 6 تجزیه و تحلیل سطح و رابط (صفحه های 83-92):
فصل 7 طیف سنجی انتشار نوری (صفحات 93-127):
فصل 8 انتشار عکس با اشعه ایکس نرم (صفحات 129-145):
فصل 9 پراکندگی ذرات-جامد (صفحه های 147-168):
فصل 10 طیف سنجی اتلاف انرژی الکترون (صفحات 169-182):
فصل 11 رادرفورد طیف سنجی پس پراکندگی (صفحات 183-196):
فصل 12 طیف سنجی جرمی یون ثانویه (صفحه های 197-212):
فصل 13 پراش الکترون (صفحات 213-235):
فصل 14 Scanning Pages237 Tunne -255):
فصل 15 طیف سنجی های نوری (صفحات 257-278):
فصل 16 طیف سنجی کاتدولومینسانس (صفحات 279-304):
فصل 17 سطوح مواد الکترونیکی (صفحات 326):
>فصل 18 جذب سطحی مواد الکترونیکی (صفحات 327-363):
فصل 19 حسگرهای جذبی-نیمه هادی (صفحات 365-382):
فصل 20 اتصالات ناهمگون نیمه هادی ها (صفحه 383-4) 21 فلزات در مورد نیمه هادی ها (صفحات 447-522):
فصل 22 آینده رابط ها (صفحات 523-538):

An advanced level textbook covering geometric, chemical, and electronic structure of electronic materials, and their applications to devices based on semiconductor surfaces, metal-semiconductor interfaces, and semiconductor heterojunctions.

Starting with the fundamentals of electrical measurements on semiconductor interfaces, it then describes the importance of controlling macroscopic electrical properties by atomic-scale techniques. Subsequent chapters present the wide range of surface and interface techniques available to characterize electronic, optical, chemical, and structural properties of electronic materials, including semiconductors, insulators, nanostructures, and organics. The essential physics and chemistry underlying each technique is described in sufficient depth with references to the most authoritative sources for more exhaustive discussions, while numerous examples are provided throughout to illustrate the applications of each technique.

With its general reading lists, extensive citations to the text, and problem sets appended to all chapters, this is ideal for students of electrical engineering, physics and materials science. It equally serves as a reference for physicists, material science and electrical and electronic engineers involved in surface and interface science, semiconductor processing, and device modeling and design.
This is a coproduction of Wiley and IEEE

* Free solutions manual available for lecturers at www.wiley-vch.de/supplements/

Content:
Chapter 1 Introduction (pages 1–8):
Chapter 2 Historical Background (pages 9–17):
Chapter 3 Electrical Measurements (pages 19–35):
Chapter 4 Interface States (pages 37–65):
Chapter 5 Ultrahigh Vacuum Technology (pages 67–82):
Chapter 6 Surface and Interface Analysis (pages 83–92):
Chapter 7 Photoemission Spectroscopy (pages 93–127):
Chapter 8 Photoemission with Soft X?Rays (pages 129–145):
Chapter 9 Particle–Solid Scattering (pages 147–168):
Chapter 10 Electron Energy Loss Spectroscopy (pages 169–182):
Chapter 11 Rutherford Backscattering Spectrometry (pages 183–196):
Chapter 12 Secondary Ion Mass Spectrometry (pages 197–212):
Chapter 13 Electron Diffraction (pages 213–235):
Chapter 14 Scanning Tunneling Microscopy (pages 237–255):
Chapter 15 Optical Spectroscopies (pages 257–278):
Chapter 16 Cathodoluminescence Spectroscopy (pages 279–304):
Chapter 17 Electronic Materials' Surfaces (pages 305–326):
Chapter 18 Adsorbates on Electronic Materials' Surfaces (pages 327–363):
Chapter 19 Adsorbate–Semiconductor Sensors (pages 365–382):
Chapter 20 Semiconductor Heterojunctions (pages 383–445):
Chapter 21 Metals on Semiconductors (pages 447–522):
Chapter 22 The Future of Interfaces (pages 523–538):