ورود به حساب

نام کاربری گذرواژه

گذرواژه را فراموش کردید؟ کلیک کنید

حساب کاربری ندارید؟ ساخت حساب

ساخت حساب کاربری

نام نام کاربری ایمیل شماره موبایل گذرواژه

برای ارتباط با ما می توانید از طریق شماره موبایل زیر از طریق تماس و پیامک با ما در ارتباط باشید


09117307688
09117179751

در صورت عدم پاسخ گویی از طریق پیامک با پشتیبان در ارتباط باشید

دسترسی نامحدود

برای کاربرانی که ثبت نام کرده اند

ضمانت بازگشت وجه

درصورت عدم همخوانی توضیحات با کتاب

پشتیبانی

از ساعت 7 صبح تا 10 شب

دانلود کتاب Surface Analysis of Polymers by XPS and Static SIMS (Cambridge Solid State Science Series)

دانلود کتاب تجزیه و تحلیل سطح پلیمرها توسط XPS و Static SIMS (سری علوم جامد کمبریج)

Surface Analysis of Polymers by XPS and Static SIMS (Cambridge Solid State Science Series)

مشخصات کتاب

Surface Analysis of Polymers by XPS and Static SIMS (Cambridge Solid State Science Series)

دسته بندی: تحلیل و بررسی
ویرایش:  
نویسندگان:   
سری:  
ISBN (شابک) : 9780521017534, 052101753X 
ناشر:  
سال نشر: 2005 
تعداد صفحات: 211 
زبان: English 
فرمت فایل : DJVU (درصورت درخواست کاربر به PDF، EPUB یا AZW3 تبدیل می شود) 
حجم فایل: 2 مگابایت

قیمت کتاب (تومان) : 39,000



ثبت امتیاز به این کتاب

میانگین امتیاز به این کتاب :
       تعداد امتیاز دهندگان : 18


در صورت تبدیل فایل کتاب Surface Analysis of Polymers by XPS and Static SIMS (Cambridge Solid State Science Series) به فرمت های PDF، EPUB، AZW3، MOBI و یا DJVU می توانید به پشتیبان اطلاع دهید تا فایل مورد نظر را تبدیل نمایند.

توجه داشته باشید کتاب تجزیه و تحلیل سطح پلیمرها توسط XPS و Static SIMS (سری علوم جامد کمبریج) نسخه زبان اصلی می باشد و کتاب ترجمه شده به فارسی نمی باشد. وبسایت اینترنشنال لایبرری ارائه دهنده کتاب های زبان اصلی می باشد و هیچ گونه کتاب ترجمه شده یا نوشته شده به فارسی را ارائه نمی دهد.


توضیحاتی در مورد کتاب تجزیه و تحلیل سطح پلیمرها توسط XPS و Static SIMS (سری علوم جامد کمبریج)

این درمان عمیق از ابزار دقیق، پایه های فیزیکی و کاربردهای طیف سنجی فوتوالکترون اشعه ایکس (XPS) و طیف سنجی جرمی یون ثانویه ساکن (SSIMS) شامل تمرکز خاصی بر موضوع مواد پلیمری است. XPS و SSIMS به طور گسترده ای به عنوان دو تکنیک قوی برای تجزیه و تحلیل شیمیایی سطح پلیمر، به ویژه در زمینه تحقیقات صنعتی و حل مسئله پذیرفته شده اند. نویسنده تکنیک ها و کاربردهای XPS و SSIMS را شرح می دهد. او همچنین جزئیات مطالعات موردی را شامل می‌شود و بر کاربرد مکمل و مشترک XPS و SSIMS در بررسی ساختار سطح پلیمر و رابطه آن با خواص مواد تاکید می‌کند. این کتاب برای محققین دانشگاهی و صنعتی علاقه مند به سطوح پلیمری و آنالیز سطوح ارزشمند خواهد بود.


توضیحاتی درمورد کتاب به خارجی

This in-depth treatment of the instrumentation, physical bases and applications of x-ray photoelectron spectroscopy (XPS) and static secondary ion mass spectroscopy (SSIMS) contains a specific focus on the subject of polymeric materials. XPS and SSIMS are widely accepted as the two most powerful techniques for polymer surface chemical analysis, particularly in the context of industrial research and problem solving. The author describes the techniques and applications of XPS and SSIMS. He also includes details of case studies, emphasizing the complementary and joint application of XPS and SSIMS in the investigation of polymer surface structure and its relationship to the properties of the material. This book will be of value to academic and industrial researchers interested in polymer surfaces and surface analysis.





نظرات کاربران

تمامی حقوق معنوی و مادی وبسایت متعلق به اینترنشنال لایبرری می باشد
نماد اعتماد الکترونیکی