Structural Analysis of Point Defects in Solids: An Introduction to Multiple Magnetic Resonance Spectroscopy

تحلیل ساختاری نقص‌های نقطه‌ای در جامدات، اصول و تکنیک‌های طیف‌سنجی رزونانس پارامغناطیس الکترونی مدرن (EPR) را برای کاربردهای ضروری برای تعیین ساختارهای نقص میکروسکوپی معرفی می‌کند. بررسی ساختار میکروسکوپی و الکترونیکی، و همچنین ارتباط با خواص مغناطیسی جامدات، به روش‌های رزونانس مغناطیسی متعددی مانند ENDOR و EPR یا ENDOR شناسایی‌شده نوری نیاز دارد. این کتاب جنبه‌های تجربی، فن‌آوری و نظری این تکنیک‌ها را به‌طور جامع، از منظر عملی، با مثال‌های گویا بسیاری که از نیمه‌رساناها و سایر جامدات گرفته شده‌اند، مورد بحث قرار می‌دهد. افراد غیرمتخصص از پتانسیل روش‌های مختلف مطلع می‌شوند، در حالی که محققی که با وظیفه تعیین ساختارهای معیوب مواجه است، با ابزارهای لازم همراه با اطلاعات زیادی در مورد روش‌های کامپیوتری تجزیه و تحلیل داده‌ها و اصول طراحی طیف‌سنج مدرن، فراهم می‌شود. /p>

Strutural Analysis of Point Defects in Solids introduces the principles and techniques of modern electron paramagnetic resonance (EPR) spectroscopy essentialfor applications to the determination of microscopic defect structures. Investigations of the microscopic and electronic structure, and also correlations with the magnetic propertiesof solids, require various multiple magnetic resonance methods, such as ENDOR and optically detected EPR or ENDOR. This book discusses experimental, technological and theoretical aspects of these techniques comprehensively, from a practical viewpoint, with many illustrative examples taken from semiconductors and other solids. The nonspecialist is informed about the potential of the different methods, while the researcher faced with the task of determining defect structures isprovided with the necessary tools, together with much information on computer-aided methods of data analysis and the principles of modern spectrometer design.