دسترسی نامحدود
برای کاربرانی که ثبت نام کرده اند
برای ارتباط با ما می توانید از طریق شماره موبایل زیر از طریق تماس و پیامک با ما در ارتباط باشید
در صورت عدم پاسخ گویی از طریق پیامک با پشتیبان در ارتباط باشید
برای کاربرانی که ثبت نام کرده اند
درصورت عدم همخوانی توضیحات با کتاب
از ساعت 7 صبح تا 10 شب
دسته بندی: فیزیک حالت جامد ویرایش: 1 نویسندگان: J.-M. Spaeth, J.R. Niklas, R.H. Bartram سری: ISBN (شابک) : 3540536159, 9783540536154 ناشر: سال نشر: 1992 تعداد صفحات: 377 زبان: English فرمت فایل : DJVU (درصورت درخواست کاربر به PDF، EPUB یا AZW3 تبدیل می شود) حجم فایل: 6 مگابایت
در صورت تبدیل فایل کتاب Structural Analysis of Point Defects in Solids (Springer Series in Solid-state Sciences) به فرمت های PDF، EPUB، AZW3، MOBI و یا DJVU می توانید به پشتیبان اطلاع دهید تا فایل مورد نظر را تبدیل نمایند.
توجه داشته باشید کتاب تجزیه و تحلیل ساختاری نقص نقطه ای در جامدات (سری اسپرینگر در علوم جامد) نسخه زبان اصلی می باشد و کتاب ترجمه شده به فارسی نمی باشد. وبسایت اینترنشنال لایبرری ارائه دهنده کتاب های زبان اصلی می باشد و هیچ گونه کتاب ترجمه شده یا نوشته شده به فارسی را ارائه نمی دهد.
تجزیه و تحلیل ساختاری عیوب نقطه ای در جامدات، اصول و تکنیک های طیف سنجی رزونانس پارامغناطیس الکترونی مدرن (EPR) را برای کاربردهای ضروری برای تعیین ساختارهای نقص میکروسکوپی معرفی می کند. بررسی ساختار میکروسکوپی و الکترونیکی، و همچنین همبستگی با خواص مغناطیسی جامدات، به روشهای رزونانس مغناطیسی متعددی مانند ENDOR و EPR یا ENDOR شناساییشده نوری نیاز دارد. این کتاب جنبههای تجربی، فنآوری و نظری این تکنیکها را بهطور جامع، از منظر عملی، با مثالهای گویا بسیاری که از نیمهرساناها و سایر جامدات گرفته شدهاند، مورد بحث قرار میدهد. افراد غیرمتخصص از پتانسیل روشهای مختلف مطلع میشوند، در حالی که محققی که با وظیفه تعیین ساختارهای معیوب مواجه است، با ابزارهای لازم همراه با اطلاعات زیادی در مورد روشهای کامپیوتری تجزیه و تحلیل دادهها و اصول طراحی طیفسنج مدرن ارائه میشود.
Strutural Analysis of Point Defects in Solids introduces the principles and techniques of modern electron paramagnetic resonance (EPR) spectroscopy essentialfor applications to the determination of microscopic defect structures. Investigations of the microscopic and electronic structure, and also correlations with the magnetic propertiesof solids, require various multiple magnetic resonance methods, such as ENDOR and optically detected EPR or ENDOR. This book discusses experimental, technological and theoretical aspects of these techniques comprehensively, from a practical viewpoint, with many illustrative examples taken from semiconductors and other solids. The nonspecialist is informed about the potential of the different methods, while the researcher faced with the task of determining defect structures isprovided with the necessary tools, together with much information on computer-aided methods of data analysis and the principles of modern spectrometer design.