دسترسی نامحدود
برای کاربرانی که ثبت نام کرده اند
برای ارتباط با ما می توانید از طریق شماره موبایل زیر از طریق تماس و پیامک با ما در ارتباط باشید
در صورت عدم پاسخ گویی از طریق پیامک با پشتیبان در ارتباط باشید
برای کاربرانی که ثبت نام کرده اند
درصورت عدم همخوانی توضیحات با کتاب
از ساعت 7 صبح تا 10 شب
دسته بندی: الکترونیک ویرایش: نویسندگان: Xin Li, Jiayong Le, Lawrence, T Pileggi سری: ISBN (شابک) : 1601980566, 9781601980571 ناشر: سال نشر: 2007 تعداد صفحات: 162 زبان: English فرمت فایل : PDF (درصورت درخواست کاربر به PDF، EPUB یا AZW3 تبدیل می شود) حجم فایل: 2 مگابایت
کلمات کلیدی مربوط به کتاب مدل سازی و بهینه سازی عملکرد آماری (مبانی و روندهای اتوماسیون طراحی الکترونیکی): ابزار دقیق، الکترونیک حالت جامد
در صورت تبدیل فایل کتاب Statistical Performance Modeling and Optimization (Foundations and Trends in Electronic Design Automation) به فرمت های PDF، EPUB، AZW3، MOBI و یا DJVU می توانید به پشتیبان اطلاع دهید تا فایل مورد نظر را تبدیل نمایند.
توجه داشته باشید کتاب مدل سازی و بهینه سازی عملکرد آماری (مبانی و روندهای اتوماسیون طراحی الکترونیکی) نسخه زبان اصلی می باشد و کتاب ترجمه شده به فارسی نمی باشد. وبسایت اینترنشنال لایبرری ارائه دهنده کتاب های زبان اصلی می باشد و هیچ گونه کتاب ترجمه شده یا نوشته شده به فارسی را ارائه نمی دهد.
مدلسازی و بهینهسازی عملکرد آماری روشهای آماری مختلفی را بررسی میکند که اخیراً برای مدلسازی، تحلیل و بهینهسازی تغییرات عملکرد در سطح ترانزیستور و سطح سیستم در طراحی مدار مجتمع (IC) توسعه یافتهاند. موضوعات زیر به تفصیل مورد بحث قرار میگیرند: منابع تغییرات فرآیند، توصیف و مدلسازی تغییرات، تحلیل مونت کارلو، مدلسازی سطح پاسخ، زمانبندی آماری و تجزیه و تحلیل نشت، استخراج توزیع احتمال، تخمین بازده پارامتری و بهینهسازی IC قوی. این تکنیکها زیرساخت CAD لازم را فراهم میکنند که حرکت جسورانه از طراحی IC قطعی و مبتنی بر گوشه به سمت طراحی آماری و احتمالی را تسهیل میکند. مدلسازی و بهینهسازی عملکرد آماری تکنیکهای مختلف تحلیل و بهینهسازی IC آماری را بررسی و مقایسه میکند، و مبادلات آنها را برای کاربردهای صنعتی عملی تجزیه و تحلیل میکند. این به عنوان یک مرجع ارزشمند برای محققان، دانشجویان و پزشکان CAD عمل می کند.
Statistical Performance Modeling and Optimization reviews various statistical methodologies that have been recently developed to model, analyze and optimize performance variations at both transistor level and system level in integrated circuit (IC) design. The following topics are discussed in detail: sources of process variations, variation characterization and modeling, Monte Carlo analysis, response surface modeling, statistical timing and leakage analysis, probability distribution extraction, parametric yield estimation and robust IC optimization. These techniques provide the necessary CAD infrastructure that facilitates the bold move from deterministic, corner-based IC design toward statistical and probabilistic design. Statistical Performance Modeling and Optimization reviews and compares different statistical IC analysis and optimization techniques, and analyzes their trade-offs for practical industrial applications. It serves as a valuable reference for researchers, students and CAD practitioners.