دسترسی نامحدود
برای کاربرانی که ثبت نام کرده اند
برای ارتباط با ما می توانید از طریق شماره موبایل زیر از طریق تماس و پیامک با ما در ارتباط باشید
در صورت عدم پاسخ گویی از طریق پیامک با پشتیبان در ارتباط باشید
برای کاربرانی که ثبت نام کرده اند
درصورت عدم همخوانی توضیحات با کتاب
از ساعت 7 صبح تا 10 شب
ویرایش: 1 نویسندگان: Prof. Dr. phil. Walter Weizel, Dr. rer. nat. Gerhard Meister (auth.) سری: Forschungsberichte des Wirtschafts- und Verkehrsministeriums Nordrhein-Westfalen 334 ISBN (شابک) : 9783663041320, 9783663055785 ناشر: VS Verlag für Sozialwissenschaften سال نشر: 1956 تعداد صفحات: 40 زبان: German فرمت فایل : PDF (درصورت درخواست کاربر به PDF، EPUB یا AZW3 تبدیل می شود) حجم فایل: 3 مگابایت
کلمات کلیدی مربوط به کتاب تجزیه و تحلیل طیفی با اندازه گیری کنتراست تداخل: علم، عمومی
در صورت تبدیل فایل کتاب Spektralanalyse durch Messung des Interferenz-Kontrasts به فرمت های PDF، EPUB، AZW3، MOBI و یا DJVU می توانید به پشتیبان اطلاع دهید تا فایل مورد نظر را تبدیل نمایند.
توجه داشته باشید کتاب تجزیه و تحلیل طیفی با اندازه گیری کنتراست تداخل نسخه زبان اصلی می باشد و کتاب ترجمه شده به فارسی نمی باشد. وبسایت اینترنشنال لایبرری ارائه دهنده کتاب های زبان اصلی می باشد و هیچ گونه کتاب ترجمه شده یا نوشته شده به فارسی را ارائه نمی دهد.
یک روش اندازه گیری و دستگاه اندازه گیری توضیح داده شده است که با آن کنتراست تداخل یک میدان تداخل را می توان به طور خودکار ثبت کرد. شکل خط یک خط طیفی یا ساختار یک گروه خط ساده را می توان از منحنی ثبت با وضوح بالا گرفت. با خطوط با شدت زیاد، این روش به دقت خوب و درجه وضوح بالایی دست می یابد. این به ویژه برای بررسی خطوط منفرد و دوتایی نزدیک مجاور مناسب است. در این کار، روش آزمایشی شرح داده شده و عملکرد آن مورد بحث قرار گرفته است. نتایج اندازه گیری و تئوری کنتراست تداخل در جای دیگری منتشر شده است[]. 11. مقدمه ترکیب طیفی نور معمولاً با جداسازی فضایی نور با طول موج های مختلف با ترتیب منشورها یا وسایل تداخلی و تمرکز نور با طول موج یکسان در نقاط معین تعیین می شود. به این ترتیب، طیف دستگاه طیفی معمولی از متنوع ترین ساخت ایجاد می شود. این روش با استاندارد فنی بالا توسعه یافته است و محدودیت های خود را در ظرفیت تفکیک دستگاه ها می یابد. اکنون برخی از مشکلات طیف سنجی وجود دارد، به عنوان مثال. ب- تجزیه و تحلیل گروه های بسیار باریک خطوط یا تعیین شکل خط خطوط باریک، که برای پردازش آنها ابزارهای طیف سنجی معمولی مناسب نیستند و بنابراین نیاز به تلاش قابل توجهی از نظر تجهیزات برای دستیابی به بالاترین حد ممکن دارند. وضوح. با چنین مشکلاتی می توان به روشی کاملاً متفاوت برخورد کرد.
Es wird ein Meßyerfahren und Meßgerät beschrieben, mit dem der Interferenz kontrast eines Interferenzfeldes automatisch registriert werden kann. Aus der Registrierkurye kann die Linienform einer Spektrallinie oder die Struk tur einer einfachen Liniengruppe mit hoher Auflösung entnommen werden. Das Verfahren erreicht bei Linien großer Intensität gute Genauigkeit und hohes Auflösungsyermögen. Es eignet sich besonders zur Untersuchung von Einzel linien und eng benachbarten Dubletts. In dieser Arbeit wird das experimen telle Verfahren beschrieben und seine Leistungsfähigkeit diskutiert. Me߭ ergebnisse und die Theorie des Interferen~ontrastes sind an anderer Stelle ~] veröffentlicht. 11. Einführung Die spektrale Zusammensetzung des Lichtes pflegt man gewöhnlich zu ermit teln, indem man durch Anordnung von Prismen oder Interferenzgeräten das Licht verschiedener Wellenlänge räumlich trennt und Licht gleicher Wellen länge an bestimmten Stellen konzentriert. Es entsteht so das Spektrum der gewöhnlichen Spektrala~parate verschiedenster Konstruktion. Dieses Verfah ren ist auf einen hohen technischen Stand entwickelt und findet seine Gren zen in dem Auflösungsyermögen der Geräte. Es gibt nun einige spektrosko pische Probleme, z. B. die Analyse sehr enger Liniengruppen oder die Bestim mung der Linienform schmaler Linien, für deren Bearbeitung die normalen spektroskopischen Hilfsmittel nicht besonders geeignet sind und deshalb bedeutende apparative Anstrengungen erfordern, um ein möglichst hohes Auf lösungsyermögen zu erzielen. Gerade derartigen Problemen kann man aber auf einem ganz anderen Wege nahekommen.
Front Matter....Pages 1-5
Einführung....Pages 5-6
Prinzip der Versuchsanordnung....Pages 6-7
Das Interferometer....Pages 8-13
Theorie des Interferometers....Pages 13-16
Justierung des Interferometers....Pages 17-22
Ausblenden der Interferenzstreifen....Pages 22-24
Das Registriergerät....Pages 24-28
Die Meßkurven....Pages 28-29
Zusammenfassung....Pages 29-29
Literaturverzeichnis....Pages 29-29
Back Matter....Pages 31-42