مشخصات کتاب

Spectroscopic ellipsometry : practical application to thin film characterization

ویرایش:  
نویسندگان: Hilfiker. James N.,  Tompkins. Harland G  
سری: Materials characterization and analysis collection 
ISBN (شابک) : 1606507273, 9781606507285 
ناشر: Momentum Press 
سال نشر: 2016 
تعداد صفحات: 194 
زبان: English 
فرمت فایل : PDF (درصورت درخواست کاربر به PDF، EPUB یا AZW3 تبدیل می شود) 
حجم فایل: 23 مگابایت 

کلمات کلیدی مربوط به کتاب بیضی سنجی طیف سنجی: کاربرد عملی برای تعیین خصوصیات لایه نازک: بیضی سنجی، لایه های نازک، اندازه گیری، تجزیه و تحلیل طیف، اندازه گیری

در صورت تبدیل فایل کتاب Spectroscopic ellipsometry : practical application to thin film characterization به فرمت های PDF، EPUB، AZW3، MOBI و یا DJVU می توانید به پشتیبان اطلاع دهید تا فایل مورد نظر را تبدیل نمایند.

توجه داشته باشید کتاب بیضی سنجی طیف سنجی: کاربرد عملی برای تعیین خصوصیات لایه نازک نسخه زبان اصلی می باشد و کتاب ترجمه شده به فارسی نمی باشد. وبسایت اینترنشنال لایبرری ارائه دهنده کتاب های زبان اصلی می باشد و هیچ گونه کتاب ترجمه شده یا نوشته شده به فارسی را ارائه نمی دهد.

توضیحاتی در مورد کتاب بیضی سنجی طیف سنجی: کاربرد عملی برای تعیین خصوصیات لایه نازک

بیضی سنجی یک روش تجربی برای تعیین ضخامت و خواص نوری لایه های نازک است. این برای فیلم هایی با ضخامت از زیر نانومتر تا چند میکرون ایده آل است. اندازه‌گیری‌های طیف‌سنجی قابلیت‌های این تکنیک را بسیار گسترش داده و استفاده از آن را در تمام مناطقی که لایه‌های نازک یافت می‌شوند معرفی کرده است: دستگاه‌های نیمه‌رسانا، صفحه‌های تخت و نمایشگرهای موبایل، پوشش نوری پشته ها، پوشش های بیولوژیکی و پزشکی، لایه های محافظ و موارد دیگر. در حالی که چندین کتاب علمی در مورد این موضوع وجود دارد، این کتاب مقدمه خوبی برای نظریه پایه تکنیک و کاربردهای رایج آن ارائه می دهد. این کتاب از دو کتاب قبلی نوشته شده توسط یکی از نویسندگان با به روز رسانی های مهم برای تأکید بر ابزار دقیق و کاربردهای مدرن پیروی می کند. مخاطب هدف محقق بیضی‌سنجی نیست، بلکه مهندسان فرآیند و دانشجویان علوم مواد هستند که در زمینه‌های خود متخصص هستند و می‌خواهند از بیضی‌سنجی برای اندازه‌گیری ویژگی‌های لایه نازک استفاده کنند، بدون اینکه در خود بیضی‌سنجی متخصص شوند. ادامه مطلب...
چکیده: بیضی سنجی یک تکنیک تجربی برای تعیین ضخامت و خواص نوری لایه های نازک است. این برای فیلم هایی با ضخامت از زیر نانومتر تا چند میکرون ایده آل است. اندازه‌گیری‌های طیف‌سنجی قابلیت‌های این تکنیک را بسیار گسترش داده و استفاده از آن را در تمام مناطقی که لایه‌های نازک یافت می‌شوند معرفی کرده است: دستگاه‌های نیمه‌رسانا، صفحه‌های تخت و نمایشگرهای موبایل، پشته‌های پوشش نوری، پوشش‌های بیولوژیکی و پزشکی، لایه‌های محافظ و غیره. در حالی که چندین کتاب علمی در مورد این موضوع وجود دارد، این کتاب مقدمه خوبی برای نظریه پایه تکنیک و کاربردهای رایج آن ارائه می دهد. این کتاب از دو کتاب قبلی نوشته شده توسط یکی از نویسندگان با به روز رسانی های مهم برای تأکید بر ابزار دقیق و کاربردهای مدرن پیروی می کند. مخاطب هدف محقق بیضی‌سنجی نیست، بلکه مهندسان فرآیند و دانشجویان علوم مواد هستند که در زمینه‌های خود متخصص هستند و می‌خواهند از بیضی‌سنجی برای اندازه‌گیری ویژگی‌های لایه نازک استفاده کنند بدون اینکه در خود بیضی‌سنجی متخصص شوند.

توضیحاتی درمورد کتاب به خارجی

Ellipsometry is an experimental technique for determining the thickness and optical properties of thin films. It is ideally suited for films ranging in thickness from subnanometer to several microns. Spectroscopic measurements have greatly expanded the capabilities of this technique and introduced its use into all areas where thin films are found: semiconductor devices, flat panel and mobile displays, optical coating stacks, biological and medical coatings, protective layers, and more. While several scholarly books exist on the topic, this book provides a good introduction to the basic theory of the technique and its common applications. It follows in the footsteps of two previous books written by one of the authors with important updates to emphasize modern instrumentation and applications. The target audience is not the ellipsometry scholar, but process engineers and students of materials science who are experts in their own fields and wish to use ellipsometry to measure thin film properties without becoming an expert in ellipsometry itself. Read more...
Abstract: Ellipsometry is an experimental technique for determining the thickness and optical properties of thin films. It is ideally suited for films ranging in thickness from subnanometer to several microns. Spectroscopic measurements have greatly expanded the capabilities of this technique and introduced its use into all areas where thin films are found: semiconductor devices, flat panel and mobile displays, optical coating stacks, biological and medical coatings, protective layers, and more. While several scholarly books exist on the topic, this book provides a good introduction to the basic theory of the technique and its common applications. It follows in the footsteps of two previous books written by one of the authors with important updates to emphasize modern instrumentation and applications. The target audience is not the ellipsometry scholar, but process engineers and students of materials science who are experts in their own fields and wish to use ellipsometry to measure thin film properties without becoming an expert in ellipsometry itself

فهرست مطالب

Content: Perspective, previous works, and purpose of this volume --
Basic physical phenomena --
Spectroscopic ellipsometry components and instrumentation --
General data features --
Representing optical functions --
Optical data analysis --
Transparent thin films --
Roughness --
Very thin films --
Thin films with absorbing spectral regions --
Metallic films --
Multilayer thin film stacks.

نظرات کاربران

کتاب های تصادفی

دانلود کتاب Adaptive Cloud Enterprise Architecture

دانلود کتاب Welding Handbook, Volume 4 - Materials and Applications, Part 1

دانلود کتاب Prémices philosophiques: Présentées avec une introduction en anglais

دانلود کتاب Population of the United States, 1925 to 1970

دانلود کتاب Cool kids crochet : complete instructions for 8 projects