دسترسی نامحدود
برای کاربرانی که ثبت نام کرده اند
برای ارتباط با ما می توانید از طریق شماره موبایل زیر از طریق تماس و پیامک با ما در ارتباط باشید
در صورت عدم پاسخ گویی از طریق پیامک با پشتیبان در ارتباط باشید
برای کاربرانی که ثبت نام کرده اند
درصورت عدم همخوانی توضیحات با کتاب
از ساعت 7 صبح تا 10 شب
ویرایش: 1st ed.
نویسندگان: Hiroyuki Fujiwara. Robert W. Collins
سری: Springer Series in Optical Sciences 214
ISBN (شابک) : 9783319951379, 9783319951386
ناشر: Springer International Publishing
سال نشر: 2018
تعداد صفحات: 628
زبان: English
فرمت فایل : PDF (درصورت درخواست کاربر به PDF، EPUB یا AZW3 تبدیل می شود)
حجم فایل: 22 مگابایت
کلمات کلیدی مربوط به کتاب بیضی سنجی طیف سنجی برای فتوولتائیک: جلد 2: کاربردها و داده های نوری مواد سلول خورشیدی: فیزیک، اپتیک، لیزر، فوتونیک، دستگاههای نوری، مواد نوری و الکترونیکی، طیفسنجی و میکروسکوپ، انرژیهای تجدیدپذیر و سبز، امواج مایکروویو، RF و مهندسی نوری
در صورت تبدیل فایل کتاب Spectroscopic Ellipsometry for Photovoltaics: Volume 2: Applications and Optical Data of Solar Cell Materials به فرمت های PDF، EPUB، AZW3، MOBI و یا DJVU می توانید به پشتیبان اطلاع دهید تا فایل مورد نظر را تبدیل نمایند.
توجه داشته باشید کتاب بیضی سنجی طیف سنجی برای فتوولتائیک: جلد 2: کاربردها و داده های نوری مواد سلول خورشیدی نسخه زبان اصلی می باشد و کتاب ترجمه شده به فارسی نمی باشد. وبسایت اینترنشنال لایبرری ارائه دهنده کتاب های زبان اصلی می باشد و هیچ گونه کتاب ترجمه شده یا نوشته شده به فارسی را ارائه نمی دهد.
بیضیسنجی طیفسنجی برای طیف گستردهای از مشخصات مواد و دستگاهها در زمینههای تحقیقاتی سلولهای خورشیدی استفاده شده است. به طور خاص، تجزیه و تحلیل عملکرد دستگاه با استفاده از ثابت های نوری دقیق لایه های مؤلفه و تجزیه و تحلیل مستقیم ساختارهای پیچیده سلول های خورشیدی از ویژگی های منحصر به فرد روش های پیشرفته بیضی سنجی است. این جلد دوم از بیضیسنجی طیفسنجی برای فتوولتائیک کاربردهای مختلفی از تکنیک بیضیسنجی را برای آنالیز دستگاهها، از جمله تحلیلهای تلفات نوری/بازترکیبی، کنترل زمان واقعی و نظارت بر خط ساختارهای سلولهای خورشیدی، و نقشهبرداری ساختاری منطقه بزرگ ارائه میدهد. علاوه بر این، این کتاب ثابتهای نوری 148 لایه جزء سلولهای خورشیدی را توصیف میکند که طیف وسیعی از مواد از جاذبهای نور نیمهرسانا (نیمههادیهای غیرآلی، آلی و هیبریدی پروسکایت) تا اکسیدهای رسانای شفاف و فلزات را پوشش میدهد. ثابتهای نوری جدولبندیشده و کاملاً پارامتری شده که در این کتاب توضیح داده شدهاند، جدیدترین منبعی هستند که برای شبیهسازی دستگاهها و تحلیلهای ساختاری سلولهای خورشیدی حیاتی هستند.
Spectroscopic ellipsometry has been applied to a wide variety of material and device characterizations in solar cell research fields. In particular, device performance analyses using exact optical constants of component layers and direct analyses of complex solar cell structures are unique features of advanced ellipsometry methods. This second volume of Spectroscopic Ellipsometry for Photovoltaics presents various applications of the ellipsometry technique for device analyses, including optical/recombination loss analyses, real-time control and on-line monitoring of solar cell structures, and large-area structural mapping. Furthermore, this book describes the optical constants of 148 solar cell component layers, covering a broad range of materials from semiconductor light absorbers (inorganic, organic and hybrid perovskite semiconductors) to transparent conductive oxides and metals. The tabulated and completely parameterized optical constants described in this book are the most current resource that is vital for device simulations and solar cell structural analyses.
Front Matter ....Pages i-xxi
Introduction (Hiroyuki Fujiwara)....Pages 1-26
Front Matter ....Pages 27-27
Analysis of Optical and Recombination Losses in Solar Cells (Hiroyuki Fujiwara, Akihiro Nakane, Daisuke Murata, Hitoshi Tampo, Takuya Matsui, Hajime Shibata)....Pages 29-82
Optical Simulation of External Quantum Efficiency Spectra (Prakash Koirala, Abdel-Rahman A. Ibdah, Puruswottam Aryal, Puja Pradhan, Zhiquan Huang, Nikolas J. Podraza et al.)....Pages 83-138
Characterization of Textured Structures (Hiroyuki Fujiwara, Yuichiro Sago)....Pages 139-168
On-line Monitoring of Photovoltaics Production (Ambalanath Shan, Jie Chen, Prakash Koirala, Kenneth R. Kormanyos, Nikolas J. Podraza, Robert W. Collins)....Pages 169-207
Real Time Measurement, Monitoring, and Control of CuIn1−xGaxSe2 by Spectroscopic Ellipsometry (Puja Pradhan, Abdel-Rahman A. Ibdah, Puruswottam Aryal, Dinesh Attygalle, Nikolas J. Podraza, Sylvain Marsillac et al.)....Pages 209-253
Real Time and Mapping Spectroscopic Ellipsometry of Hydrogenated Amorphous and Nanocrystalline Si Solar Cells (Zhiquan Huang, Lila R. Dahal, Sylvain Marsillac, Nikolas J. Podraza, Robert W. Collins)....Pages 255-315
Front Matter ....Pages 317-317
Inorganic Semiconductors and Passivation Layers (Akihiro Nakane, Shohei Fujimoto, Gerald E. Jellison Jr., Craig M. Herzinger, James N. Hilfiker, Jian Li et al.)....Pages 319-426
Organic Semiconductors (Takemasa Fujiseki, Shohei Fujimoto, Mariano Campoy-Quiles, Maria Isabel Alonso, Takurou N. Murakami, Tetsuhiko Miyadera et al.)....Pages 427-469
Organic-Inorganic Hybrid Perovskites (Shohei Fujimoto, Takemasa Fujiseki, Masato Tamakoshi, Akihiro Nakane, Tetsuhiko Miyadera, Takeshi Sugita et al.)....Pages 471-493
Transparent Conductive Oxides (Akihiro Nakane, Shohei Fujimoto, Masato Tamakoshi, Takashi Koida, James N. Hilfiker, Gerald E. Jellison Jr. et al.)....Pages 495-541
Metals (Shohei Fujimoto, Takemasa Fujiseki, Hiroyuki Fujiwara)....Pages 543-574
Substrates and Coating Layers (Shohei Fujimoto, Takemasa Fujiseki, James N. Hilfiker, Nina Hong, Mariano Campoy-Quiles, Hiroyuki Fujiwara)....Pages 575-608
Back Matter ....Pages 609-616