دسترسی نامحدود
برای کاربرانی که ثبت نام کرده اند
برای ارتباط با ما می توانید از طریق شماره موبایل زیر از طریق تماس و پیامک با ما در ارتباط باشید
در صورت عدم پاسخ گویی از طریق پیامک با پشتیبان در ارتباط باشید
برای کاربرانی که ثبت نام کرده اند
درصورت عدم همخوانی توضیحات با کتاب
از ساعت 7 صبح تا 10 شب
ویرایش:
نویسندگان: David T Attwood
سری:
ISBN (شابک) : 0521652146, 9780521652148
ناشر: Cambridge Univ. Press
سال نشر: 1999
تعداد صفحات: 503
زبان: English
فرمت فایل : PDF (درصورت درخواست کاربر به PDF، EPUB یا AZW3 تبدیل می شود)
حجم فایل: 15 مگابایت
در صورت تبدیل فایل کتاب Soft X-rays and extreme ultraviolet radiation : principles and applications / [...] XD-US به فرمت های PDF، EPUB، AZW3، MOBI و یا DJVU می توانید به پشتیبان اطلاع دهید تا فایل مورد نظر را تبدیل نمایند.
توجه داشته باشید کتاب اشعه ایکس نرم و اشعه ماوراء بنفش شدید: اصول و کاربردها / [...] XD-US نسخه زبان اصلی می باشد و کتاب ترجمه شده به فارسی نمی باشد. وبسایت اینترنشنال لایبرری ارائه دهنده کتاب های زبان اصلی می باشد و هیچ گونه کتاب ترجمه شده یا نوشته شده به فارسی را ارائه نمی دهد.
این کتاب جامع خواص اساسی پرتوهای ایکس نرم و اشعه ماوراء بنفش شدید (EUV) را تشریح میکند و کاربردهای آنها را در زمینههای مختلف، از جمله لیتوگرافی EUV برای تولید تراشههای نیمهرسانا و بیومیکروسکوپی پرتو ایکس نرم مورد بحث قرار میدهد. نویسنده مقدار زیادی از مواد مرجع مفید مانند انرژی های اتصال الکترون، خطوط انتشار مشخصه و مقطع های جذب عکس ارائه می دهد. این کتاب برای دانشجویان فارغ التحصیل و محققان در رشته های مهندسی، فیزیک، شیمی و ... بسیار جالب خواهد بود.
This comprehensive book describes the fundamental properties of soft X-rays and extreme ultraviolet (EUV) radiation and discusses their applications in a wide variety of fields, including EUV lithography for semiconductor chip manufacture and soft X-ray biomicroscopy. The author provides a wealth of useful reference material such as electron binding energies, characteristic emission lines and photo-absorption cross-sections. The book will be of great interest to graduate students and researchers in engineering, physics, chemistry, and the ...
Frontmatter......Page 1
Contents......Page 7
PREFACE......Page 13
ACKNOWLEDGMENTS......Page 15
CHAPTER 1 - INTRODUCTION......Page 17
CHAPTER 2 - RADIATION AND SCATTERING AT EUV AND SOFT X-RAY WAVELENGTHS......Page 40
CHAPTER 3 - WAVE PROPAGATION AND REFRACTIVE INDEX AT EUV AND SOFT X-RAY WAVELENGTHS......Page 71
CHAPTER 4 - MULTILAYER INTERFERENCE COATINGS......Page 114
CHAPTER 5 - SYNCHROTRON RADIATION......Page 139
CHAPTER 6 - PHYSICS OF HOT DENSE PLASMAS......Page 205
CHAPTER 7 - EXTREME ULTRAVIOLET AND SOFT X-RAY LASERS......Page 283
CHAPTER 8 - COHERENCE AT SHORT WAVELENGTHS......Page 316
CHAPTER 9 - SOFT X-RAY MICROSCOPY WITH DIFFRACTIVE OPTICS......Page 353
CHAPTER 10 - EXTREME ULTRAVIOLET AND X-RAY LITHOGRAPHY......Page 411
APPENDIX A - UNITS AND PHYSICAL CONSTANTS......Page 433
APPENDIX B - ELECTRON BINDING ENERGIES, PRINCIPAL K-AND L-SHELL EMISSION LINES, AND AUGER ELECTRON ENERGIES......Page 436
APPENDIX C - ATOMIC SCATTERING FACTORS, ATOMIC ABSORPTION COEFFICIENTS, AND SUBSHELL PHOTOIONIZATION CROSS-SECTIONS......Page 444
APPENDIX D - MATHEMATICAL AND VECTOR RELATIONSHIPS......Page 456
APPENDIX E - SOME INTEGRATIONS IN k, Ï›-SPACE......Page 465
APPENDIX F - LORENTZ SPACEâ•fiTIME TRANSFORMATIONS......Page 470
INDEX......Page 481
Periodic Table......Page 487
Plate section......Page 488