Soft Errors in Modern Electronic Systems

خطاهای نرم در سیستم های الکترونیکی مدرن، پیشرفت های پیشرفته و مسائل باز در زمینه خطاهای نرم را توصیف می کند. این کار نه تنها ارائه جامعی از مسائل و چالش‌های مرتبط با خطاهای نرم را برجسته می‌کند، بلکه کارآمدترین راه‌حل‌ها، روش‌شناسی و ابزارها را نیز ارائه می‌کند. یازده فصل نوشته شده توسط کارشناسان مجرب شرح جامعی از زنجیره پیچیده فرآیندهای فیزیکی که منجر به بروز خطاهای نرم می شود و همچنین تکنیک ها و ابزارهای متعددی را ارائه می دهد که صلاحیت SER سیستم های الکترونیکی را در مرحله طراحی و پس از آن امکان پذیر می کند. تولید، از جمله: واکنش های هسته ای پرتوهای کیهانی با جو (تولید نوترون و پروتون در سطح زمین). واکنش های هسته ای نوترون ها و پروتون های جوی با اتم های دای (تولید ذرات ثانویه)؛ برهم کنش کولن (یونیزاسیون)؛ فیزیک دستگاه (مجموعه شارژ); شبیه سازی الکتریکی؛ شبیه سازی رویداد محور؛ شبیه سازی دامنه منطقی; شبیه سازی RTL؛ شبیه سازی سخت افزاری و آزمایش تشعشع این کتاب همچنین توضیحات جامعی از تکنیک‌های مختلف سخت‌افزاری و نرم‌افزاری ارائه می‌دهد که امکان کاهش خطای نرم با هزینه متوسط ​​را فراهم می‌کند. Soft Errors in Modern Electronic Systems کتابی مفید برای طراحان مدار و سیستم، محققان، دانشجویان و اساتید است.

Soft Errors in Modern Electronic Systems describes the state-of-the-art developments and open issues in the field of soft errors. This work not only highlights a comprehensive presentation of soft errors related issues and challenges but also presents the most efficient solutions, methodologies and tools. The eleven chapters written by highly qualified experts provide a comprehensive description of the complex chain of the physical processes leading to the occurrence of soft errors, as well as of the numerous techniques and tools enabling the SER qualification of electronic systems during the design phase and after production, including: nuclear reactions of cosmic rays with the atmosphere (neutron and proton generation at ground level); nuclear reactions of atmospheric neutrons and protons with die atoms (secondary particles generation); coulomb interaction (ionization); device physics (charge collection); electrical simulation; event driven simulation; logic domain simulation; RTL simulation; hardware emulation, and radiation testing. The book also provides a comprehensive description of various hardware and software techniques enabling soft-error mitigation at moderate cost. Soft Errors in Modern Electronic Systems is a useful book for circuit and system designers, researchers, students and professors.