دسترسی نامحدود
برای کاربرانی که ثبت نام کرده اند
برای ارتباط با ما می توانید از طریق شماره موبایل زیر از طریق تماس و پیامک با ما در ارتباط باشید
در صورت عدم پاسخ گویی از طریق پیامک با پشتیبان در ارتباط باشید
برای کاربرانی که ثبت نام کرده اند
درصورت عدم همخوانی توضیحات با کتاب
از ساعت 7 صبح تا 10 شب
ویرایش: 1
نویسندگان: Selahattin Sayil (auth.)
سری:
ISBN (شابک) : 9783319306070, 9783319306063
ناشر: Springer International Publishing
سال نشر: 2016
تعداد صفحات: 112
زبان: English
فرمت فایل : PDF (درصورت درخواست کاربر به PDF، EPUB یا AZW3 تبدیل می شود)
حجم فایل: 3 مگابایت
در صورت تبدیل فایل کتاب Soft Error Mechanisms, Modeling and Mitigation به فرمت های PDF، EPUB، AZW3، MOBI و یا DJVU می توانید به پشتیبان اطلاع دهید تا فایل مورد نظر را تبدیل نمایند.
توجه داشته باشید کتاب مکانیسم های خطای نرم، مدل سازی و کاهش نسخه زبان اصلی می باشد و کتاب ترجمه شده به فارسی نمی باشد. وبسایت اینترنشنال لایبرری ارائه دهنده کتاب های زبان اصلی می باشد و هیچ گونه کتاب ترجمه شده یا نوشته شده به فارسی را ارائه نمی دهد.
این کتاب خوانندگان را با مکانیسمهای مختلف خطای نرم تشعشعی مانند تأخیرهای نرم، لرزش ساعت و پالسهای ناشی از تشعشع، و اثرات ناشی از جفت شدن یک رویداد (SE) آشنا میکند. نویسنده علاوه بر بحث در مورد تکنیکهای سخت شدن پرتوهای مختلف برای منطق ترکیبی، استراتژیهای کاهش جدیدی را که طرحهای تجاری را هدف قرار میدهند، توضیح میدهد. پوشش شامل تکنیکهای جدید کاهش خطا مانند تکنیک آستانه دینامیکی و فیلتر خطای نرم بر اساس گیت انتقال با گیت و بایاس بدنه متنوع است. این بحث همچنین شامل مدلسازی نویز تداخل SE، تأخیر و اثرات افزایش سرعت است. استراتژی های مختلف کاهش برای از بین بردن اثرات جفت SE نیز معرفی شده است. پوشش همچنین شامل قابلیت اطمینان طرحهای کم مصرف انرژی و تأثیر بهینهسازی مصرف برق نشتی بر استحکام خطای نرم است. نویسنده تجزیه و تحلیلی از تکنیکهای مختلف بهینهسازی توان ارائه میکند، و خوانندگان را قادر میسازد تا انتخابهایی را برای طراحی انجام دهند که مصرف توان ساکن را کاهش میدهد و همزمان قابلیت اطمینان خطای نرم را بهبود میبخشد.
This book introduces readers to various radiation soft-error mechanisms such as soft delays, radiation induced clock jitter and pulses, and single event (SE) coupling induced effects. In addition to discussing various radiation hardening techniques for combinational logic, the author also describes new mitigation strategies targeting commercial designs. Coverage includes novel soft error mitigation techniques such as the Dynamic Threshold Technique and Soft Error Filtering based on Transmission gate with varied gate and body bias. The discussion also includes modeling of SE crosstalk noise, delay and speed-up effects. Various mitigation strategies to eliminate SE coupling effects are also introduced. Coverage also includes the reliability of low power energy-efficient designs and the impact of leakage power consumption optimizations on soft error robustness. The author presents an analysis of various power optimization techniques, enabling readers to make design choices that reduce static power consumption and improve soft error reliability at the same time.
Front Matter....Pages i-xi
Introduction....Pages 1-10
Mitigation of Single Event Effects....Pages 11-18
Transmission Gate (TG) Based Soft Error Mitigation Methods....Pages 19-30
Single Event Soft Error Mechanisms....Pages 31-48
Modeling Single Event Crosstalk Noise in Nanometer Technologies....Pages 49-62
Modeling of Single Event Coupling Delay and Speedup Effects....Pages 63-74
Single Event Upset Hardening of Interconnects....Pages 75-84
Soft-Error Aware Power Optimization....Pages 85-93
Dynamic Threshold Technique for Soft Error and Soft Delay Mitigation....Pages 95-103
Back Matter....Pages 105-105