دسترسی نامحدود
برای کاربرانی که ثبت نام کرده اند
برای ارتباط با ما می توانید از طریق شماره موبایل زیر از طریق تماس و پیامک با ما در ارتباط باشید
در صورت عدم پاسخ گویی از طریق پیامک با پشتیبان در ارتباط باشید
برای کاربرانی که ثبت نام کرده اند
درصورت عدم همخوانی توضیحات با کتاب
از ساعت 7 صبح تا 10 شب
ویرایش:
نویسندگان: Edward Petersen(auth.)
سری:
ISBN (شابک) : 9780470767498, 9781118084328
ناشر: Wiley-IEEE Press
سال نشر: 2011
تعداد صفحات: 507
زبان: English
فرمت فایل : PDF (درصورت درخواست کاربر به PDF، EPUB یا AZW3 تبدیل می شود)
حجم فایل: 6 مگابایت
در صورت تبدیل فایل کتاب Single Event Effects in Aerospace به فرمت های PDF، EPUB، AZW3، MOBI و یا DJVU می توانید به پشتیبان اطلاع دهید تا فایل مورد نظر را تبدیل نمایند.
توجه داشته باشید کتاب اثرات تنها رویداد در هوا فضا نسخه زبان اصلی می باشد و کتاب ترجمه شده به فارسی نمی باشد. وبسایت اینترنشنال لایبرری ارائه دهنده کتاب های زبان اصلی می باشد و هیچ گونه کتاب ترجمه شده یا نوشته شده به فارسی را ارائه نمی دهد.
این کتاب مفاهیم اساسی لازم برای درک پدیدههای یک رویداد را که
میتواند باعث خطاهای عملکرد تصادفی و خرابیهای فاجعهبار در
دستگاههای الکترونیکی شود، معرفی میکند. با پیشرفت کوچک سازی
قطعات الکترونیکی، قطعات الکترونیکی در محیط تشعشع حساس تر می
شوند. این کتاب شامل بحثی در مورد محیطهای تابش در فضا و جو،
پیشبینی نرخ تابش بسته به مدار است تا به مهندسان الکترونیک
اجازه دهد تا اجزا و سیستمهای مقاوم در برابر تشعشع را طراحی و
انتخاب کنند، و پیشبینی یک رویداد. محتوا:
فصل 1 مقدمه (صفحات 1-12):
فصل 2 مبانی تجزیه و تحلیل و پیش بینی یک رویداد (صفحه های
13-76):
فصل 3 بهینه سازی آزمایش های یون سنگین برای تجزیه و تحلیل (صفحات
77-102):
فصل 4 بهینه سازی تست پروتون (صفحات 103-109):
فصل 5 صلاحیت و تفسیر داده ها (صفحه های 111-164):
فصل 6 تجزیه و تحلیل انواع مختلف داده های SEU (صفحات
165-250):
فصل 7 کیهانی محاسبات سرعت رخداد تک پرتو (صفحات 251–303):
فصل 8 محاسبات نرخ تک رویداد پروتون (صفحات 305-328):
فصل 9 ناراحتی ناشی از نوترون (صفحات 329-336):
فصل 10 ناراحتی ها تولید شده توسط واکنش های هسته ای یون سنگین
(صفحات 337-343):
فصل 11 نمونه هایی از پیش بینی نرخ یون سنگین (صفحات)
345-370):
فصل 12 نمونه هایی از پیش بینی های نرخ پروتون (صفحات
371-374):
فصل 13 محیط های ترکیبی (صفحات 375-387):
فصل 14 نمونه هایی از رویدادهای خورشیدی و موقعیت های شدید
(صفحات) 389-393):
فصل 15 نرخ های آشفتگی در محیط های پرتو ذرات خنثی (NPB) (صفحه
های 395-400):
فصل 16 پیش بینی ها و مشاهدات نرخ های SEU در فضا (صفحات
401-427):
فصل 17 محدودیت های رویکرد IRPP (صفحات 429-434):
This book introduces the basic concepts necessary to understand
Single Event phenomena which could cause random performance
errors and catastrophic failures to electronics devices. As
miniaturization of electronics components advances, electronics
components are more susceptible in the radiation environment.
The book includes a discussion of the radiation environments in
space and in the atmosphere, radiation rate prediction
depending on the orbit to allow electronics engineers to design
and select radiation tolerant components and systems, and
single event prediction.Content:
Chapter 1 Introduction (pages 1–12):
Chapter 2 Foundations of Single Event Analysis and Prediction
(pages 13–76):
Chapter 3 Optimizing Heavy Ion Experiments for Analysis (pages
77–102):
Chapter 4 Optimizing Proton Testing (pages 103–109):
Chapter 5 Data Qualification and Interpretation (pages
111–164):
Chapter 6 Analysis of Various Types of SEU Data (pages
165–250):
Chapter 7 Cosmic Ray Single Event Rate Calculations (pages
251–303):
Chapter 8 Proton Single Event Rate Calculations (pages
305–328):
Chapter 9 Neutron Induced Upset (pages 329–336):
Chapter 10 Upsets Produced by Heavy Ion Nuclear Reactions
(pages 337–343):
Chapter 11 Samples of Heavy Ion Rate Prediction (pages
345–370):
Chapter 12 Samples of Proton Rate Predictions (pages
371–374):
Chapter 13 Combined Environments (pages 375–387):
Chapter 14 Samples of Solar Events and Extreme Situations
(pages 389–393):
Chapter 15 Upset Rates in Neutral Particle Beam (NPB)
Environments (pages 395–400):
Chapter 16 Predictions and Observations of SEU Rates in Space
(pages 401–427):
Chapter 17 Limitations of the IRPP Approach (pages 429–434):