دسترسی نامحدود
برای کاربرانی که ثبت نام کرده اند
برای ارتباط با ما می توانید از طریق شماره موبایل زیر از طریق تماس و پیامک با ما در ارتباط باشید
در صورت عدم پاسخ گویی از طریق پیامک با پشتیبان در ارتباط باشید
برای کاربرانی که ثبت نام کرده اند
درصورت عدم همخوانی توضیحات با کتاب
از ساعت 7 صبح تا 10 شب
ویرایش: 1 نویسندگان: Cédric Clévy, Micky Rakotondrabe (auth.), Cédric Clévy, Micky Rakotondrabe, Nicolas Chaillet (eds.) سری: ISBN (شابک) : 1441999450, 9781441999450 ناشر: Springer-Verlag New York سال نشر: 2011 تعداد صفحات: 253 زبان: English فرمت فایل : PDF (درصورت درخواست کاربر به PDF، EPUB یا AZW3 تبدیل می شود) حجم فایل: 6 مگابایت
کلمات کلیدی مربوط به کتاب تکنیک های اندازه گیری و تخمین سیگنال برای میکرو و نانوتکنولوژی: کنترل، رباتیک، مکاترونیک، نانوتکنولوژی و مهندسی میکرو، پردازش سیگنال، تصویر و گفتار
در صورت تبدیل فایل کتاب Signal Measurement and Estimation Techniques for Micro and Nanotechnology به فرمت های PDF، EPUB، AZW3، MOBI و یا DJVU می توانید به پشتیبان اطلاع دهید تا فایل مورد نظر را تبدیل نمایند.
توجه داشته باشید کتاب تکنیک های اندازه گیری و تخمین سیگنال برای میکرو و نانوتکنولوژی نسخه زبان اصلی می باشد و کتاب ترجمه شده به فارسی نمی باشد. وبسایت اینترنشنال لایبرری ارائه دهنده کتاب های زبان اصلی می باشد و هیچ گونه کتاب ترجمه شده یا نوشته شده به فارسی را ارائه نمی دهد.
Front Matter....Pages i-x
Microscale Specificities....Pages 1-27
Self-Sensing Measurement in Piezoelectric Cantilevered Actuators for Micromanipulation and Microassembly Contexts....Pages 29-69
Kalman Filtering Applied to Weak Force Measurement and Control in the Microworld....Pages 71-91
Microforce-Sensing Tools and Methodologies for Micromechanical Metrology....Pages 93-131
Cellular Force Measurement Using Computer Vision Microscopy and a Polymeric Microdevice....Pages 133-151
In Situ Characterizations of Thin-Film Nanostructures with Large-Range Direct Force Sensing....Pages 153-191
A Mechanism Approach for Enhancing the Dynamic Range and Linearity of MEMS Optical Force Sensing....Pages 193-221
Observer Approach for Parameter and Force Estimation in Scanning Probe Microscopy....Pages 223-239
Back Matter....Pages 241-242