دسترسی نامحدود
برای کاربرانی که ثبت نام کرده اند
برای ارتباط با ما می توانید از طریق شماره موبایل زیر از طریق تماس و پیامک با ما در ارتباط باشید
در صورت عدم پاسخ گویی از طریق پیامک با پشتیبان در ارتباط باشید
برای کاربرانی که ثبت نام کرده اند
درصورت عدم همخوانی توضیحات با کتاب
از ساعت 7 صبح تا 10 شب
ویرایش: 1
نویسندگان: D.B. HOLT and D.C. JOY (Eds.)
سری: Techniques in Physics
ISBN (شابک) : 9780123538550, 0123538556
ناشر: Academic Press
سال نشر: 1989
تعداد صفحات: 452
زبان: English
فرمت فایل : PDF (درصورت درخواست کاربر به PDF، EPUB یا AZW3 تبدیل می شود)
حجم فایل: 9 مگابایت
در صورت تبدیل فایل کتاب SEM Microcharacterization of Semiconductors به فرمت های PDF، EPUB، AZW3، MOBI و یا DJVU می توانید به پشتیبان اطلاع دهید تا فایل مورد نظر را تبدیل نمایند.
توجه داشته باشید کتاب ریزشخصیت های SEM نیمه هادی ها نسخه زبان اصلی می باشد و کتاب ترجمه شده به فارسی نمی باشد. وبسایت اینترنشنال لایبرری ارائه دهنده کتاب های زبان اصلی می باشد و هیچ گونه کتاب ترجمه شده یا نوشته شده به فارسی را ارائه نمی دهد.
کاربردهای تکنیک های SEM برای ریزشخصیت سازی برای پوشش هر نوع ماده و تقریباً هر شاخه از علم و فناوری گسترش یافته است. این کتاب بر اصول اساسی فیزیکی تاکید دارد. بخش اول به مبانی ریز مشخصه سازی در ابزارهای پرتو الکترونی می پردازد و بخش دوم به تفسیر اطلاعات به دست آمده در حالت های عملکرد اصلی یک میکروسکوپ الکترونی روبشی می پردازد.
Applications of SEM techniques of microcharacterization have proliferated to cover every type of material and virtually every branch of science and technology. This book emphasizes the fundamental physical principles. The first section deals with the foundation of microcharacterization in electron beam instruments and the second deals with the interpretation of the information obtained in the main operating modes of a scanning electron microscope
Content:
Techniques of Physics
Page ii
Front Matter
Page iii
Copyright page
Page iv
Contributors
Page vii
Preface
Page ix
D.B. HOLT, D.C. JOY
Foreword
Pages xi-xiii
Oliver Wells
1 - An Introduction to Multimode Scanning Electron Microscopy
Pages 3-28
D.B. HOLT
2 - Modeling Electron Beam Interactions in Semiconductors
Pages 29-68
D.E. NEWBURY
3 - Electron Channeling Patterns
Pages 69-118
D.C. JOY
4 - The Emissive Mode and X-ray Microanalysis
Pages 119-149
D.C. JOY
5 - Voltage Contrast and Stroboscopy
Pages 153-240
S.M. DAVIDSON
6 - The Conductive Mode
Pages 241-338
D.B. HOLT
7 - Scanning Deep Level Transient Spectroscopy
Pages 339-371
O. BREITENSTEIN, J. HEYDENREICH
8 - Cathodoluminescence Characterization of Semiconductors
Pages 373-423
D.B. HOLT, B.G. YACOBI
9 - The Electron Acoustic Mode
Pages 425-445
L.J. BALK
Index
Pages 447-452