ورود به حساب

نام کاربری گذرواژه

گذرواژه را فراموش کردید؟ کلیک کنید

حساب کاربری ندارید؟ ساخت حساب

ساخت حساب کاربری

نام نام کاربری ایمیل شماره موبایل گذرواژه

برای ارتباط با ما می توانید از طریق شماره موبایل زیر از طریق تماس و پیامک با ما در ارتباط باشید


09117307688
09117179751

در صورت عدم پاسخ گویی از طریق پیامک با پشتیبان در ارتباط باشید

دسترسی نامحدود

برای کاربرانی که ثبت نام کرده اند

ضمانت بازگشت وجه

درصورت عدم همخوانی توضیحات با کتاب

پشتیبانی

از ساعت 7 صبح تا 10 شب

دانلود کتاب SEM Microcharacterization of Semiconductors

دانلود کتاب ریزشخصیت های SEM نیمه هادی ها

SEM Microcharacterization of Semiconductors

مشخصات کتاب

SEM Microcharacterization of Semiconductors

ویرایش: 1 
نویسندگان:   
سری: Techniques in Physics 
ISBN (شابک) : 9780123538550, 0123538556 
ناشر: Academic Press 
سال نشر: 1989 
تعداد صفحات: 452 
زبان: English 
فرمت فایل : PDF (درصورت درخواست کاربر به PDF، EPUB یا AZW3 تبدیل می شود) 
حجم فایل: 9 مگابایت 

قیمت کتاب (تومان) : 51,000



ثبت امتیاز به این کتاب

میانگین امتیاز به این کتاب :
       تعداد امتیاز دهندگان : 11


در صورت تبدیل فایل کتاب SEM Microcharacterization of Semiconductors به فرمت های PDF، EPUB، AZW3، MOBI و یا DJVU می توانید به پشتیبان اطلاع دهید تا فایل مورد نظر را تبدیل نمایند.

توجه داشته باشید کتاب ریزشخصیت های SEM نیمه هادی ها نسخه زبان اصلی می باشد و کتاب ترجمه شده به فارسی نمی باشد. وبسایت اینترنشنال لایبرری ارائه دهنده کتاب های زبان اصلی می باشد و هیچ گونه کتاب ترجمه شده یا نوشته شده به فارسی را ارائه نمی دهد.


توضیحاتی در مورد کتاب ریزشخصیت های SEM نیمه هادی ها

کاربردهای تکنیک های SEM برای ریزشخصیت سازی برای پوشش هر نوع ماده و تقریباً هر شاخه از علم و فناوری گسترش یافته است. این کتاب بر اصول اساسی فیزیکی تاکید دارد. بخش اول به مبانی ریز مشخصه سازی در ابزارهای پرتو الکترونی می پردازد و بخش دوم به تفسیر اطلاعات به دست آمده در حالت های عملکرد اصلی یک میکروسکوپ الکترونی روبشی می پردازد.


توضیحاتی درمورد کتاب به خارجی

Applications of SEM techniques of microcharacterization have proliferated to cover every type of material and virtually every branch of science and technology. This book emphasizes the fundamental physical principles. The first section deals with the foundation of microcharacterization in electron beam instruments and the second deals with the interpretation of the information obtained in the main operating modes of a scanning electron microscope



فهرست مطالب

Content: 
Techniques of Physics
Page ii

Front Matter
Page iii

Copyright page
Page iv

Contributors
Page vii

Preface
Page ix
D.B. HOLT, D.C. JOY

Foreword
Pages xi-xiii
Oliver Wells

1 - An Introduction to Multimode Scanning Electron Microscopy
Pages 3-28
D.B. HOLT

2 - Modeling Electron Beam Interactions in Semiconductors
Pages 29-68
D.E. NEWBURY

3 - Electron Channeling Patterns
Pages 69-118
D.C. JOY

4 - The Emissive Mode and X-ray Microanalysis
Pages 119-149
D.C. JOY

5 - Voltage Contrast and Stroboscopy
Pages 153-240
S.M. DAVIDSON

6 - The Conductive Mode
Pages 241-338
D.B. HOLT

7 - Scanning Deep Level Transient Spectroscopy
Pages 339-371
O. BREITENSTEIN, J. HEYDENREICH

8 - Cathodoluminescence Characterization of Semiconductors
Pages 373-423
D.B. HOLT, B.G. YACOBI

9 - The Electron Acoustic Mode
Pages 425-445
L.J. BALK

Index
Pages 447-452





نظرات کاربران