دسترسی نامحدود
برای کاربرانی که ثبت نام کرده اند
دانلود کتاب Secondary Ion Mass Spectrometry SIMS V: Proceedings of the Fifth International Conference, Washington, DC, September 30 – October 4, 1985
دانلود کتاب طیف سنجی جرمی یون ثانویه SIMS V: مجموعه مقالات پنجمین کنفرانس بین المللی، واشنگتن، دی سی، 30 سپتامبر - 4 اکتبر 1985
مشخصات کتاب
Secondary Ion Mass Spectrometry SIMS V: Proceedings of the Fifth International Conference, Washington, DC, September 30 – October 4, 1985
ویرایش: [1 ed.] نویسندگان: R. E. Honig (auth.), Professor Dr. Alfred Benninghoven, Dr. Richard J. Colton, Dr. David S. Simons, Dr. Helmut W. Werner (eds.) سری: Springer Series in Chemical Physics 44 ISBN (شابک) : 9783642827266, 9783642827242 ناشر: Springer-Verlag Berlin Heidelberg سال نشر: 1986 تعداد صفحات: 564 [577] زبان: English فرمت فایل : PDF (درصورت درخواست کاربر به PDF، EPUB یا AZW3 تبدیل می شود) حجم فایل: 15 Mb
قیمت کتاب (تومان) : 49,000
در صورت تبدیل فایل کتاب Secondary Ion Mass Spectrometry SIMS V: Proceedings of the Fifth International Conference, Washington, DC, September 30 – October 4, 1985 به فرمت های PDF، EPUB، AZW3، MOBI و یا DJVU می توانید به پشتیبان اطلاع دهید تا فایل مورد نظر را تبدیل نمایند.
توجه داشته باشید کتاب طیف سنجی جرمی یون ثانویه SIMS V: مجموعه مقالات پنجمین کنفرانس بین المللی، واشنگتن، دی سی، 30 سپتامبر - 4 اکتبر 1985 نسخه زبان اصلی می باشد و کتاب ترجمه شده به فارسی نمی باشد. وبسایت اینترنشنال لایبرری ارائه دهنده کتاب های زبان اصلی می باشد و هیچ گونه کتاب ترجمه شده یا نوشته شده به فارسی را ارائه نمی دهد.
توضیحاتی درمورد کتاب به خارجی
