ورود به حساب

نام کاربری گذرواژه

گذرواژه را فراموش کردید؟ کلیک کنید

حساب کاربری ندارید؟ ساخت حساب

ساخت حساب کاربری

نام نام کاربری ایمیل شماره موبایل گذرواژه

برای ارتباط با ما می توانید از طریق شماره موبایل زیر از طریق تماس و پیامک با ما در ارتباط باشید


09117307688
09117179751

در صورت عدم پاسخ گویی از طریق پیامک با پشتیبان در ارتباط باشید

دسترسی نامحدود

برای کاربرانی که ثبت نام کرده اند

ضمانت بازگشت وجه

درصورت عدم همخوانی توضیحات با کتاب

پشتیبانی

از ساعت 7 صبح تا 10 شب

دانلود کتاب Secondary ion mass spectrometry : applications for depth profiling and surface characterization

دانلود کتاب طیف سنجی جرمی یونی ثانویه: برنامه های کاربردی برای پروفایل عمق و مشخصه سطح

Secondary ion mass spectrometry : applications for depth profiling and surface characterization

مشخصات کتاب

Secondary ion mass spectrometry : applications for depth profiling and surface characterization

ویرایش:  
نویسندگان:   
سری: Materials characterization and analysis collection 
ISBN (شابک) : 1606505882, 9781606505892 
ناشر: Momentum Press 
سال نشر: 2016 
تعداد صفحات: 290 
زبان: English 
فرمت فایل : PDF (درصورت درخواست کاربر به PDF، EPUB یا AZW3 تبدیل می شود) 
حجم فایل: 44 مگابایت

قیمت کتاب (تومان) : 47,000



کلمات کلیدی مربوط به کتاب طیف سنجی جرمی یونی ثانویه: برنامه های کاربردی برای پروفایل عمق و مشخصه سطح: طیف سنجی جرمی یون ثانویه، علم مواد



ثبت امتیاز به این کتاب

میانگین امتیاز به این کتاب :
       تعداد امتیاز دهندگان : 7


در صورت تبدیل فایل کتاب Secondary ion mass spectrometry : applications for depth profiling and surface characterization به فرمت های PDF، EPUB، AZW3، MOBI و یا DJVU می توانید به پشتیبان اطلاع دهید تا فایل مورد نظر را تبدیل نمایند.

توجه داشته باشید کتاب طیف سنجی جرمی یونی ثانویه: برنامه های کاربردی برای پروفایل عمق و مشخصه سطح نسخه زبان اصلی می باشد و کتاب ترجمه شده به فارسی نمی باشد. وبسایت اینترنشنال لایبرری ارائه دهنده کتاب های زبان اصلی می باشد و هیچ گونه کتاب ترجمه شده یا نوشته شده به فارسی را ارائه نمی دهد.


توضیحاتی در مورد کتاب طیف سنجی جرمی یونی ثانویه: برنامه های کاربردی برای پروفایل عمق و مشخصه سطح

این کتاب برای توضیح تکنیکی نوشته شده است که نیازمند درک بسیاری از جزئیات برای به دست آوردن و تفسیر صحیح داده های به دست آمده است. همچنین به عنوان یک مرجع برای کسانی که نیاز به ارائه داده های SIMS دارند عمل می کند. این کتاب دارای بیش از 200 شکل است و منابع به شما امکان می دهد توسعه SIMS را ردیابی کنید و جزئیات بسیاری از این تکنیک را درک کنید.


توضیحاتی درمورد کتاب به خارجی

This book was written to explain a technique that requires an understanding of many details in order to properly obtain and interpret the data obtained. It also will serve as a reference for those who need to provide SIMS data. The book has over 200 figures and the references allow one to trace development of SIMS and understand the many details of the technique





نظرات کاربران

تمامی حقوق معنوی و مادی وبسایت متعلق به اینترنشنال لایبرری می باشد
نماد اعتماد الکترونیکی