Scanning Transmission Electron Microscopy: Imaging and Analysis

میکروسکوپ الکترونی عبوری روبشی به یک تکنیک اصلی برای تصویربرداری و تجزیه و تحلیل در وضوح و حساسیت اتمی تبدیل شده است، و ویراستاران این کتاب به طور گسترده ای اعتبار دارند که این زمینه را به محبوبیت فعلی خود رسانده اند. میکروسکوپ الکترونی عبوری روبشی: تصویربرداری و تجزیه و تحلیل، توضیح جامعی از تئوری و عمل STEM از مقدماتی تا پیشرفته ارائه می‌کند، که تاریخچه میدان، ابزار، شکل‌گیری تصویر و تئوری پراکندگی، و همچنین جنبه‌های عملی تصویربرداری و تجزیه و تحلیل را در بر می‌گیرد. . نویسندگان نمونه‌هایی از استفاده از تصویربرداری ترکیبی و طیف‌سنجی برای حل مسائل مواد در زمینه‌های مختلف، از جمله فیزیک ماده متراکم، علم مواد، کاتالیزور و علوم نانو را ارائه می‌کنند. بنابراین این یک مرجع جامع برای کسانی است که در زمینه های کاربردی کار می کنند که مایل به استفاده از این تکنیک هستند، برای دانشجویان فارغ التحصیل که برای اولین بار میکروسکوپ را یاد می گیرند و برای متخصصان دیگر رشته های میکروسکوپ.

Scanning transmission electron microscopy has become a mainstream technique for imaging and analysis at atomic resolution and sensitivity, and the editors of this book are widely credited with bringing the field to its present popularity. Scanning Transmission Electron Microscopy: Imaging and Analysis provides a comprehensive explanation of the theory and practice of STEM from introductory to advanced levels, covering the history of the field, the instrument, image formation and scattering theory, as well as practical aspects of imaging and analysis. The authors present examples of the use of combined imaging and spectroscopy for solving materials problems in a variety of fields, including condensed matter physics, materials science, catalysis, and nanoscience. Therefore this is a comprehensive reference for those working in applied fields wishing to use the technique, for graduate students learning microscopy for the first time, and for specialists in other fields of microscopy.