دسترسی نامحدود
برای کاربرانی که ثبت نام کرده اند
برای ارتباط با ما می توانید از طریق شماره موبایل زیر از طریق تماس و پیامک با ما در ارتباط باشید
در صورت عدم پاسخ گویی از طریق پیامک با پشتیبان در ارتباط باشید
برای کاربرانی که ثبت نام کرده اند
درصورت عدم همخوانی توضیحات با کتاب
از ساعت 7 صبح تا 10 شب
دسته بندی: فن آوری ویرایش: 1 نویسندگان: Adam Foster. Werner A. Hofer سری: NanoScience and Technology ISBN (شابک) : 9780387400907, 0387400907 ناشر: Springer سال نشر: 2006 تعداد صفحات: 291 زبان: English فرمت فایل : DJVU (درصورت درخواست کاربر به PDF، EPUB یا AZW3 تبدیل می شود) حجم فایل: 4 مگابایت
در صورت تبدیل فایل کتاب Scanning Probe Microscopy: Atomic Scale Engineering by Forces and Currents به فرمت های PDF، EPUB، AZW3، MOBI و یا DJVU می توانید به پشتیبان اطلاع دهید تا فایل مورد نظر را تبدیل نمایند.
توجه داشته باشید کتاب میکروسکوپ پروب اسکن: مهندسی مقیاس اتمی توسط نیروها و جریانها نسخه زبان اصلی می باشد و کتاب ترجمه شده به فارسی نمی باشد. وبسایت اینترنشنال لایبرری ارائه دهنده کتاب های زبان اصلی می باشد و هیچ گونه کتاب ترجمه شده یا نوشته شده به فارسی را ارائه نمی دهد.
میکروسکوپ کاوشگر روبشی یک منبع اطلاعاتی جامع برای محققان، معلمان و دانشجویان فارغ التحصیل در مورد زمینه به سرعت در حال گسترش نظریه کاوشگر روبشی است. نویسندگان با نوشتن به سبک آموزشی، نظریه پشت تکنیکهای شبیهسازی امروزی را از ابتدا توضیح میدهند و نمونههایی از مفاهیم نظری را از طریق شبیهسازیهای پیشرفته، از جمله ابزار مقایسه این نتایج با دادههای تجربی ارائه میکنند. این کتاب اولین چارچوب جامع برای نظریه انتقال الکترون را با درجات مختلف تقریب آن ارائه میکند، بنابراین بینش گستردهای را در مورد فیزیک کاوشگرهای روبشی فراهم میکند. تجربیشناسان چگونگی تأثیر خواص مواد بر عملکرد ابزار را درک خواهند کرد و نظریهپردازان متوجه خواهند شد که چگونه شبیهسازیها را میتوان مستقیماً با دادههای تجربی مقایسه کرد.
ویژگیهای کلیدی
Scanning Probe Microscopy is a comprehensive source of information for researchers, teachers, and graduate students about the rapidly expanding field of scanning probe theory. Writing in a tutorial style, the authors explain from scratch the theory behind today’s simulation techniques and give examples of theoretical concepts through state-of-the-art simulations, including the means to compare these results with experimental data. The book provides the first comprehensive framework for electron transport theory with its various degrees of approximations, thus allowing extensive insight into the physics of scanning probes. Experimentalists will appreciate how the materials properties influence the instrument's operation, and theorists will understand how simulations can be directly compared to experimental data.
Key Features