دسترسی نامحدود
برای کاربرانی که ثبت نام کرده اند
دانلود کتاب Scanning Probe Microscopy - Phys. Prop. Char. at Nanoscale
دانلود کتاب میکروسکوپ پروب اسکن - فیزیک. چار. در مقیاس نانو
مشخصات کتاب
Scanning Probe Microscopy - Phys. Prop. Char. at Nanoscale
ویرایش:
نویسندگان: V. Nalladega
سری:
ISBN (شابک) : 9789535105763
ناشر: Intech
سال نشر: 2012
تعداد صفحات: 254
زبان: English
فرمت فایل : PDF (درصورت درخواست کاربر به PDF، EPUB یا AZW3 تبدیل می شود)
حجم فایل: 19 مگابایت
قیمت کتاب (تومان) : 33,000
در صورت تبدیل فایل کتاب Scanning Probe Microscopy - Phys. Prop. Char. at Nanoscale به فرمت های PDF، EPUB، AZW3، MOBI و یا DJVU می توانید به پشتیبان اطلاع دهید تا فایل مورد نظر را تبدیل نمایند.
توجه داشته باشید کتاب میکروسکوپ پروب اسکن - فیزیک. چار. در مقیاس نانو نسخه زبان اصلی می باشد و کتاب ترجمه شده به فارسی نمی باشد. وبسایت اینترنشنال لایبرری ارائه دهنده کتاب های زبان اصلی می باشد و هیچ گونه کتاب ترجمه شده یا نوشته شده به فارسی را ارائه نمی دهد.
توضیحاتی در مورد کتاب میکروسکوپ پروب اسکن - فیزیک. چار. در مقیاس نانو
میکروسکوپ کاوشگر روبشی (SPM) یکی از ابزارهای کلیدی برای پیشرفت فناوری نانو با کاربرد در بسیاری از حوزه‌های تحقیقاتی بین‌رشته‌ای است. این کتاب آثار تحقیقاتی اصلی منتخب را در مورد استفاده از تکنیک‌های میکروسکوپ پروب روبشی برای توصیف خواص فیزیکی مواد مختلف در مقیاس نانو ارائه می‌کند. موضوعات این کتاب از تجزیه و تحلیل مورفولوژی سطح ساختارهای لایه نازک، لایه‌های نازک اکسیدی و ساختارهای ابررسانا، تکنیک‌های جدید میکروسکوپ پروب روبشی برای توصیف خواص مکانیکی و الکتریکی، ارزیابی خواص مکانیکی و تریبولوژیکی پوشش‌های هیبریدی و لایه‌های نازک است. تنوع موضوعات انتخاب شده برای کتاب بر ماهیت بین رشته ای قوی کار تحقیقاتی در زمینه میکروسکوپ کاوشگر روبشی تاکید می کند.
توضیحاتی درمورد کتاب به خارجی
Scanning probe microscopy (SPM) is one of the key enabling tools for the advancement for nanotechnology with applications in many interdisciplinary research areas. This book presents selected original research works on the application of scanning probe microscopy techniques for the characterization of physical properties of different materials at the nanoscale. The topics in the book range from surface morphology analysis of thin film structures, oxide thin layers and superconducting structures, novel scanning probe microscopy techniques for characterization of mechanical and electrical properties, evaluation of mechanical and tribological properties of hybrid coatings and thin films. The variety of topics chosen for the book underlines the strong interdisciplinary nature of the research work in the field of scanning probe microscopy.
