برای ارتباط با ما می توانید از طریق شماره موبایل زیر از طریق تماس و پیامک با ما در ارتباط باشید

09117307688
09117179751

در صورت عدم پاسخ گویی از طریق پیامک با پشتیبان در ارتباط باشید

دسترسی نامحدود

برای کاربرانی که ثبت نام کرده اند

ضمانت بازگشت وجه

درصورت عدم همخوانی توضیحات با کتاب

پشتیبانی

از ساعت 7 صبح تا 10 شب

دانلود کتاب Scanning Probe Microscopy - Phys. Prop. Char. at Nanoscale

دانلود کتاب میکروسکوپ پروب اسکن - فیزیک. چار. در مقیاس نانو

مشخصات کتاب

Scanning Probe Microscopy - Phys. Prop. Char. at Nanoscale

ویرایش:  
نویسندگان: V. Nalladega   
سری:  
ISBN (شابک) : 9789535105763 
ناشر: Intech  
سال نشر: 2012 
تعداد صفحات: 254 
زبان: English 
فرمت فایل : PDF (درصورت درخواست کاربر به PDF، EPUB یا AZW3 تبدیل می شود) 
حجم فایل: 19 مگابایت

قیمت کتاب (تومان) : 33,000

میانگین امتیاز به این کتاب :
تعداد امتیاز دهندگان : 10

در صورت تبدیل فایل کتاب Scanning Probe Microscopy - Phys. Prop. Char. at Nanoscale به فرمت های PDF، EPUB، AZW3، MOBI و یا DJVU می توانید به پشتیبان اطلاع دهید تا فایل مورد نظر را تبدیل نمایند.

توجه داشته باشید کتاب میکروسکوپ پروب اسکن - فیزیک. چار. در مقیاس نانو نسخه زبان اصلی می باشد و کتاب ترجمه شده به فارسی نمی باشد. وبسایت اینترنشنال لایبرری ارائه دهنده کتاب های زبان اصلی می باشد و هیچ گونه کتاب ترجمه شده یا نوشته شده به فارسی را ارائه نمی دهد.

توضیحاتی در مورد کتاب میکروسکوپ پروب اسکن - فیزیک. چار. در مقیاس نانو

میکروسکوپ کاوشگر روبشی (SPM) یکی از ابزارهای کلیدی برای پیشرفت فناوری نانو با کاربرد در بسیاری از حوزه‌های تحقیقاتی بین‌رشته‌ای است. این کتاب آثار تحقیقاتی اصلی منتخب را در مورد استفاده از تکنیک‌های میکروسکوپ پروب روبشی برای توصیف خواص فیزیکی مواد مختلف در مقیاس نانو ارائه می‌کند. موضوعات این کتاب از تجزیه و تحلیل مورفولوژی سطح ساختارهای لایه نازک، لایه‌های نازک اکسیدی و ساختارهای ابررسانا، تکنیک‌های جدید میکروسکوپ پروب روبشی برای توصیف خواص مکانیکی و الکتریکی، ارزیابی خواص مکانیکی و تریبولوژیکی پوشش‌های هیبریدی و لایه‌های نازک است. تنوع موضوعات انتخاب شده برای کتاب بر ماهیت بین رشته ای قوی کار تحقیقاتی در زمینه میکروسکوپ کاوشگر روبشی تاکید می کند.

توضیحاتی درمورد کتاب به خارجی

Scanning probe microscopy (SPM) is one of the key enabling tools for the advancement for nanotechnology with applications in many interdisciplinary research areas. This book presents selected original research works on the application of scanning probe microscopy techniques for the characterization of physical properties of different materials at the nanoscale. The topics in the book range from surface morphology analysis of thin film structures, oxide thin layers and superconducting structures, novel scanning probe microscopy techniques for characterization of mechanical and electrical properties, evaluation of mechanical and tribological properties of hybrid coatings and thin films. The variety of topics chosen for the book underlines the strong interdisciplinary nature of the research work in the field of scanning probe microscopy.